合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 功能材料技术

> 液晶盒厚测量方法及装置

液晶盒厚测量方法及装置

1115   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 15:03:01
本发明属电光功能材料制备领域,涉及一种液晶盒厚测量方法及装置。本发明方法不需要通过透射光谱的极大和极小所对应的波长值来确定液晶盒厚度,从而免去了寻找透射光谱极大和极小值的不确定性。本发明采用了汇聚光束,有利于提高信噪比。光锥在液晶盒上的截面可以很小,有利于测量盒厚的面分布。本发明采用测量装置测量液晶盒厚。所述装置包括:光源,聚光透镜,待测液晶盒,光纤耦合头,光谱测量仪。本发明采用的白光LED在可见光500-550nm范围内具有较平坦的发光谱,从而有利于简化测量系统,同时计算也很方便。
声明:
“液晶盒厚测量方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
功能材料
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记