本发明公开了一种基于AgInSbTe硫系化合物的忆阻器,该忆阻器包括上电极层、下电极层以及位于上下电极层之间的
功能材料层,其中所述功能材料层由譬如Ag5In5Sb60Te30、Ag5.5In6.5Sb59Te29、Ag7In3Sb60Te30、Ag3In4Sb76Te17、Ag12.4In3.8Sb55.2Te28.6、Ag3.4In3.7Sb76.4Te16.5、AgSbTe2和AgInTe等分子式结构的硫系合金化合物制成。本发明还公开了相应的制备方法。通过本发明,能够以低成本、便于操控的方式来制备忆阻器元件,而且所制得的产品可提供非易失性的中间阻态,并能实现对电阻的多级连续可调。
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“基于AgInSbTe硫系化合物的忆阻器及其制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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