本实用新型涉及一种CSP薄板坯结晶器检修校准仪器,属于冶金行业CSP薄板结晶器技术领域。技术方案是:测量基座(3)固定在标准仪支架(1)顶端的B面上,测量仪(13)固定在测量基座(3)上,测量基座(3)上设有微调板支架(19),标准仪支架(1)的A面上设有上下布置的基准块A(5)、基准块B(6)和基准块C(7),测量触头A(8)、测量触头B(9)和测量触头C(10)分别固定在上下布置的基准块A(5)、基准块B(6)和基准块C(7)上,靠近标准仪支架(1)的顶端的标准仪支架(1)的A面和B面上分别设有一个测量定位器(15)。本实用新型的有益效果是:能够高质量完成结晶器的对中,提高检修效率。
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