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X荧光光谱镀层分析仪

575   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 14:51:25
本实用新型涉及一种X荧光光谱镀层分析仪,包括主支架、测试组件、以及样品平台,测试组件固定于主支架的上的一升降平台框上,样品平台位于主支架的底部且位于升降平台框的下方,升降平台框与主支架之间设有滑轨,升降平台框上连有一Z轴电机,样品平台上连有X轴电机与Y轴电机,测试组件底部两侧设有位置传感器,测试组件底部中间位置设有高度激光装置,测试组件包括一摄像头。提高了仪器的自动化程度,扩大了可测试样品的范围;位置传感器保护了测试组件和被测样品;可实时观测样品的测试过程;样品平台和测试组件位置可调节。其适用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化等行业的X荧光光谱镀层分析之用。
声明:
“X荧光光谱镀层分析仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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