本发明公开了高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法,属于冶金材料分析技术领域。该制备方法包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品,还包括将颗粒样品置于高温炉中,缓慢升温至1250±10℃,熔融10~20min,得到熔体,再将熔体倒入预先加热至200~400℃的模具中,自然冷却至室温,得到玻璃状样品。本发明设计的制样方法简单可行,相比于传统的粉末压片法,能够在较大程度上节省人力及物力,且制备的漂移校正样品质地均匀,外观完整,稳定性高,使用寿命达半年以上,显著提高了高炉渣、真空渣及真空精炼渣的测量过程稳定性,大大降低了因样品变质引起的分析波动,提高产品测定结果的准确性。
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