本发明涉及一种使用光纤,优选地为涂覆金属的光纤,测量冶金容器中的温度的浸没装置。根据本发明的浸没装置包括进给通道和进给构件,用于进给光纤至一次性导管以及进给一次性导管连同光纤至熔体。浸没装置包括用于监测光纤一端相对于导管一端的位置的控制构件。已发现所述相对位置决定了温度测量的质量。因此,监测所述相对位置使得确定温度测量的质量、并因此改进温度测量变得有可能。
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“用于测量熔体温度的光纤的浸没装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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