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用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统

722   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 14:46:35
本发明适用于固体样品元素含量分析技术领域,提供了一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统,包括激光器,用于输出预定波长的激光;光学扩束装置,用于将激光扩散处理;光路调节装置,用于将扩散处理后的激光光束按预定角度反射和/或将可见光透射处理;光学聚焦装置,用于将激光光束聚焦处理后传送到样品室;样品室,用于放置样品,并接收聚焦后的激光对样品进行烧蚀处理;成像处理装置,用于将所述光路调节装置透射处理后的可见光成像处理。本发明具有无需样品前处理,固体样品直接分析,分析速度快,分析灵敏度高等特点,可用于冶金、地质、硅酸盐等工业领域的固体或粉末样品快速元素含量分析。
声明:
“用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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