一种由软件控制的计算机装置和/或由专用硬件所实施的方法被设计为探测冶金容器(1)中的导电目标材料(M),例如熔化金属或半导体材料。在该方法中,在该导电目标材料(M)和一个传感器(4)之间的相对位移期间从插入到该目标材料(M)的该传感器(4)获取一个测量信号,该测量信号表明在该传感器(4)附近的电导率。生成该测量信号以便表示在该传感器(4)周围一个电磁场中的瞬间变化,该电磁场通过操作该传感器(4)中的至少一个线圈(82;92)被创造。基于该测量信号,生成一个信号特征曲线以便表明该电导率作为该相对移动的函数。该方法使得能够在任何详细程度上在该容器(1)中探测该目标材料(M)的内部分布。可以分析该信号特征曲线以便提供关于通过例如物质成分、熔化程度、混合程度来区分的区域/层(S,M1,M2)的信息。
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