在设备部件中、例如在转炉中实施冶金工艺时,了解随着时间变化的废气组成成分是重要的辅助手段,以便提供关于工艺进程的情况并可以相应地对工艺进程进行控制。公开的可行分析方法例如是从废气流(7)获取有限的体积,然后对该废气试样例如进行光谱分析。在这种基于采样的分析方法中不利的是时间延迟,分析结果在采样后经过该时间延迟后才能得到。因此根据本发明提出,借助FTIR光谱仪无时间延迟地实施无接触的废气分析,其中得到的FTIR光谱仪(2)的光谱借助事先获得的数学模型用于计算废气组成成分。
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“借助FTIR光谱法在冶金成套设备上无接触废气测量” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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