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本发明公开了一种半导体存储器老化测试设备中老化测试板卡散热供气装置，包括连通至隔热腔体的老化测试板卡侧接头组件以及气源侧接头组件，气源侧接头组件包括同轴设置的堵头、压缩弹簧、气源密封座及气管接口，堵头及压缩弹簧设置在气源密封座中，压缩弹簧受压设置在堵头与气管接口之间，气源密封座与气管接口固定连接，老化测试板卡侧接头组件在连接时对堵头施加与压缩弹簧相反的力，老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件的接触端面之间设置有第一密封圈。本发明采用老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件进行插入配合并用密封圈进行密封，确保隔热效果；本发明采用压缩弹簧结构，机构失效率较低，提升整体的结构性能及工作寿命。
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本发明提供了一种针对激光焊接壁板结构的压缩屈曲测试方法及设备，包括：构建激光焊接壁板结构的第一壳‑实体模型；在第一壳‑实体模型上划分单元网格，将材料的弹塑性参数施加到相应的单元网格中，得到第二壳‑实体模型；对第二壳‑实体模型设定位移边界条件和载荷施加方式，求解特征值屈曲方程，计算特征值和临界屈曲载荷，得到压缩屈曲模态；复制第二壳‑实体模型，将压缩屈曲模态、缺陷尺寸和残余应力输入第二壳‑实体模型，设置RIKS分析步骤和历史输出变量，求解非线性屈曲方程，得到壁板结构压缩屈曲过程中的反作用力、应变和位移数据信息。本发明可以对激光焊接壁板结构压缩失效载荷、应变和位移作定量研究。
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本发明提供了一种应力迁移测试结构及应力迁移测试方法，所述应力迁移测试结构包括至少一个测试结构，所述测试结构包括：下层通孔连接层；上层通孔连接层，位于所述下层通孔连接层的上方；导电插塞，所述导电插塞的底部和顶部分别与所述下层通孔连接层和所述上层通孔连接层连接，所述下层通孔连接层的线宽大于所述上层通孔连接层的线宽；下层电压测试焊盘和下层电流测试焊盘，分别与所述下层通孔连接层的两端连接；上层电压测试焊盘和上层电流测试焊盘，分别与所述上层通孔连接层的两端连接。本发明的技术方案能够同时测试出导电插塞底部的下层通孔连接层中以及导电插塞中的应力迁移失效，进而使得对可靠性的评估更加完整。
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本申请实施例提供了一种测试结构，可以包括第一金属线、第二金属线，以及第一金属线和第二金属线之间的介质层，第一金属线用于连接第一电压，第二金属线用于连接第二电压，其中，第一金属线通过连接入一个电编程熔丝来连接第一电压，和/或，第二金属线通过连接入一个电编程熔丝来连接第二电压。第一电编程熔丝和第二电编程熔丝在正常工作时电阻较小，但是在介质层击穿之后整个电路回路中产生较大的电流，此时第一金属接入的电编程熔丝和/或第二金属接入的电编程熔丝的电阻骤然变大，此时的电编程熔丝由于大电阻起到分压/降电流作用，抑制了电介质击穿处的电流而减弱击穿损伤，利于后期对击穿位置的物理失效分析。
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本发明公开了一种疲劳测试裂纹监测方法及装置，包括建立裂纹评估信息库，计算出裂纹的长度、数量、位置和形态之后，根据裂纹评估信息库中的信息，综合评估裂纹的危险等级。本发明的疲劳测试裂纹监测方法及装置利用视觉处理技术实现裂纹监测，能够实现对疲劳损伤临界点的精准判断，更加完整保留试件失效信息和数据准确性；本发明还建立了裂纹评估信息库，计算出裂纹的长度、数量、位置和形态之后，根据裂纹评估信息库中的信息，综合评估裂纹的危险等级，综合评估裂纹对构件的实际危害性，满足了多种构件测试情况、应用场景下实际工程的需要。
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本发明涉及精确选择测距周期的脉冲式激光雷达跨周期测距方法，包括：调制激光脉冲发射时间，利用激光雷达发射信号，得到一组对应不同测距周期的测距值序列的回波信号；构建差分序列，得到测距差值序列；计算测距差值序列的均值、标准差，剔除与均值偏差大的异常值；计算剔除异常值的测距差值序列的噪声能量，选出噪声能量最小的信号周期作为测距周期，计算距离值；计算选出的测距周期的置信度，与阈值比较，判断选出的测距周期是否可靠。本发明针对激光雷达扫描测距时地形突变等导致脉冲时间调制功能失效的问题，采用去噪算法提高了跨周期测距中测距周期选择的准确性和稳定性。
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本申请提供电迁移测试结构、系统、存储器、制造方法及测试方法，测试结构包括：待测件、第一测试部、第二测试部和第三测试部；其中，待测件包括第一端和第二端，第一端与第一测试部电连接，第二端与第二测试部电连接；第三测试部与待测件电连接，且第三测试部与第一端之间的距离不等于第三测试部与第二端之间的距离；其中，第一端与第三测试部之间的待测件的电阻值能够通过第一测试部和第三测试部获得，第二端与第三测试部之间的待测件的电阻值能够通过第二测试部和第三测试部获得。通过电迁移测试结构的第一测试部和第三测试部，以及第二测试部和第三测试部获得的电阻值，计算得到待测件的实际横截面积，并计算得到待测件的实际失效时间。
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本发明提供一种精确定位微电子器件电迁移测试中空洞位置的方法，将聚焦离子束机台切割以及纳米探针接地的作用应用到微电子器件电迁移测试中空洞位置的无损定位中，大大提高电迁移空洞定位的精确度，进而提高了电迁移失效分析的成功率及效率。
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本发明公开了一种带切平面超高周拉伸疲劳试件及其设计方法、以及对试件进行疲劳测试的方法，该设计方法包括：设计呈中心对称结构且固有频率逼近设计频率的狗骨型试件，狗骨型试件自中间向两侧依次包括圆柱形的试验区段、变截面段和圆柱形的谐振区段，试验区段的截面半径小于谐振区段的截面半径；在试验区段的两侧切出相对的U型槽，U型槽的底面为与轴向平行的观测平面、侧面为呈θ角的倾斜侧面；利用有限元软件分析获取带切平面试件的轴向振型固有频率并反向对谐振长度进行修正以使其固有频率逼近设计频率。通过上述设计方法所得到的带切平面的试件，在其固有频率满足要求的前提下获得平整的观测面，以便于观测材料的失效机制。
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本实用新型属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的在线监测装置，包括投影云纹模块、红外成像模块、监测分析模块。本实用新型解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行在线监测。
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本公开实施例公开了一种测试样品的制备方法。所述方法包括：提供包括失效区域的待处理结构；其中，所述待处理结构包括：多级台阶，覆盖所述台阶的介质层、位于所述台阶表面上方且设置于所述介质层中的接触插塞、以及贯穿所述台阶的虚拟沟道柱；沿相交于所述多级台阶所在斜面的预设方向，朝向所述台阶减薄所述待处理结构，以形成预处理样品；其中，所述预处理样品包括所述失效区域；沿所述预设方向，所述预处理样品表面残留的所述接触插塞的厚度大于或等于第一预设厚度；去除所述预处理样品表面残留的所述介质层，以显露所述虚拟沟道柱，形成所述测试样品。
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本发明公开了基于多焦投影系统的大景深二值离焦三维测量方法，包括以下步骤：构建多焦条纹投影系统，该系统基于光学投影系统，通过引入柱透镜实现不同轴向二值条纹聚焦面的分离；建立多焦条纹投影系统的各向异性滤波模型；基于各向异性滤波模型，进行二值条纹投影方法的优化，根据优化后的条纹投影算法，生成并投影多幅相移二值条纹图案；基于二值条纹图像序列In分析计算其相位信息，并通过相位展开得到连续的绝对相位；通过系统标定确定多焦条纹投影系统的系统参数，基于系统参数，恢复出大景深物体的三维形貌。本发明能够有效地避免传统二值离焦测量方法的聚焦区失效问题，从而大幅提高了其测量景深性能。
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本实用新型属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷立体在线监测装置，包括投影云纹模块、超声波模块、监测分析模块。本实用新型解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行在线监测的问题，能够对电子器件的封装模块的失效情况进行在线监测。
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本实用新型属于道路工程领域，并公开了一种多剪切角度层间粘结性能测试装置，包括沥青混合料万能试验机和多剪切角度测试夹具，所述沥青混合料万能试验机包括试验机主体及共同设置在所述试验机主体上的位移传感器、环境箱、移动横梁、压力传感器和数据采集仪；所述多剪切角度测试夹具位于所述环境箱内，其包括上下设置的两个夹具；其中一个夹具的所述支承座固定安装在所述压力传感器的下端，另一个夹具的所述支承座固定安装在所述环境箱的内底面。本实用新型能快速测定制备试件和路面现场取芯试件的层间粘结性能，从而为路面结构层间粘结性能的判断和失效预测提供分析和评价依据。
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本实用新型属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测装置，包括投影云纹模块、X射线模块、监测分析模块。本实用新型解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行三维在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行三维在线监测。
本发明属于闪存芯片可靠性测试技术，尤其是涉及一种通过操作时间或电流判断闪存芯片可靠性的方法及测试装置。本发明首先通过测试装置采集样本闪存芯片的操作时间或电流，然后对数据进行分析处理，建立数据与闪存芯片可靠性的对应关系，再由测试装置收集待测闪存芯片的操作时间和电流，最后结合可靠性的对应关系判断待测芯片的可靠性。本发明中提出的判断闪存芯片可靠性方法与一般方法相比，不易受到闪存中存储数据取值的干扰，同时克服了一般方法无法有效防止闪存突然失效而造成数据损失的缺点。
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本发明属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的在线监测方法和装置，装置包括投影云纹模块、红外成像模块、监测分析模块；方法包括：通过投影云纹模块获得待测封装模块样品的第一翘曲信息；通过红外成像模块获得待测封装模块样品的第二翘曲信息；根据第一翘曲信息、第二翘曲信息获得监测结果信息。本发明解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行在线监测。
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本实用新型涉及一种加筋板轴压试验中加强筋侧向变形的同步测量试验装置，包括压缩试验机和夹具，夹具安装于压缩试验机上用于夹紧加筋板的两端，还包括激光测距仪，激光测距仪正对加筋板上的加强筋放置，用于同步测量试验过程中加强筋的侧向位移。本实用新型在常规加筋板试验的基础上，引入激光测距仪设备，用于准确测量试验过程中加筋板上加强筋的侧向位移，进一步地，对压缩试验机记录的轴向压力和时间的关系曲线F‑t及通过激光测距仪记录的侧向位移和时间的关系曲线D‑t进行数据处理，得到侧向位移和轴向压力的关系曲线D‑F，可以更准确地计算加筋板的极限承载力，为分析出加筋板承载失效的真实原因奠定基础。
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本发明属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测方法及装置，装置包括投影云纹模块、X射线模块、监测分析模块；方法包括：通过投影云纹模块获得待测封装模块样品的第一翘曲信息；通过X射线模块获得待测封装模块样品的第二翘曲信息；根据第一翘曲信息、第二翘曲信息获得监测结果信息。本发明解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行三维在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行三维在线监测。
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本发明涉及一种超高强钢动态断裂特性的表征测试方法，根据现有设备技术参数及超高强钢强度高、韧性相对较低的特点，设计拉伸条件下具有不同应力状态的试样，根据应力三轴度从小到大为剪切、拉剪、单向拉伸、单孔拉伸、及不同尺寸缺口试样，并根据不同试样在不同应变速率下的断裂特性设计相应试验矩阵，完成超高强钢动态断裂性能的试验表征。试验采用3D非接触式高速摄像光学应变采集系统，同步记录试验过程中试样变形，采集材料不同应力状态及速率下失效数据，数据经处理可在后续数值模拟分析中对相应模型进行标定，完成精准化建模。本发明充分利用设备特点，为后续碰撞模拟分析提供数据支持，大大提高车身安全设计评估的效率，有效降低成本。
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本发明公开了一种芯片测试装置及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试装置包括测试单元，用于向芯片提供测试信号，以及获取芯片反馈的反馈信号；探针卡，用于测试单元和芯片之间的电连接，探针卡用于测试信号和反馈信号的传递；以及去耦单元，与测试单元电连接，其中，反馈信号包括正常芯片反馈的正常反馈信号和失效芯片反馈的异常反馈信号，当探针卡与芯片电连接时，去耦单元过滤异常反馈信号。根据本发明实施例的芯片测试装置及芯片测试方法，设置有过滤异常反馈信号的去耦单元，能够防止异常反馈信号与正常反馈信号产生耦合效应，从而防止在测试时出现将合格芯片判断为失效芯片的情况。
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本发明属于半导体存储器测试技术领域，公开了一种半导体存储器老化测试系统及方法，其系统包括测试核心板和测试板；测试核心板根据上位机指令生成测试信号和电源信号进行调整后提供给DUT，并将DUT输出信号与预设值比较得到初步测试结果分区存储，并上传到上位机；测试板用于承载DUT，为DUT提供时钟信号和片选信号，单块测试板设置有多个测试位，DUT老化测试可单颗进行或多颗DUT同时进行；其方法通过在测试核心板上输出各种类型的测试信号，并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制等处理，以及对电源信号进行补偿，对测试结果通过分区设置的存储区分别存储，实现老化测试中对单个DUT测试过程控制的管理和失效分析的功能，并增加了DUT同测数，减少了测试资源开销。
本发明公开了一种基于多源状态监测信息和可靠性特征融合的液压设备早期故障预测方法，旨在提供一种能够识别早期故障信号，降低预警的误报和漏报，提高故障预测的准确率。其技术方案的要点是，挖掘液压设备的监测信息与状态评价之间的关联规则；构建基于多源传感器监测数据融合方法，实现监测数据降维；融合监测信息与可靠性寿命数据，构建参数化的失效率函数(proportional covariate model,简称PCM)，预测设备的早期故障演变过程，为液压设备运行维护提供有力的预警信息。相对于传统的液压故障预测方法，该方法通过在液压设备状态监测信息中融合可靠性特征，能够有效提高预测精度和拓宽预测区间等优点。
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本申请涉及一种水质监测用红外测油仪，涉及水质监测领域，以解决操作人员使用后常常忘记手动关闭测试窗口，导致干燥剂快速失效的问题，其包括红外测油仪主体和用于监测水质的测试窗口，所述测试窗口设置于红外测油仪的顶部，所述测试窗口处活动连接有挡板，所述挡板用于开启和关闭所述测试窗口，所述红外测油仪的内部设置有复位机构，所述复位机构用于使挡板自动复位，以关闭所述测试窗口。本申请具有设置挡板能够对测试窗口进行遮挡，从而减缓红外测油仪主体内部的干燥剂失效，同时通过设置复位机构，使打开的挡板自动关闭，无需操作人员手动关闭，避免造成忘记关闭挡板从而使干燥剂快速失效的效果。
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本发明是一种液压往复密封件的服役疲劳性能测试方法及试验装置，其中：伺服电机系统为液压缸提供可变负载，液压系统用于控制试验缸的往复运动，温控系统用于油液温度的控制，以此实现对液压往复密封件实际工况的模拟；通过铺设在活塞导向套内侧的光纤光栅应变传感器，测得液压往复密封件的接触应力，实现对密封件服役状态的监测；通过计算液压缸/活塞密封荷载摩擦副系统的疲劳失效概率，实现对液压往复密封件疲劳失效状态的分析和判断；通过试验可以得到特定服役条件下的液压往复密封件疲劳寿命测试结果，为液压往复密封件的可靠性设计提供依据。
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本申请提供了一种测试半导体结构击穿的设备、系统和方法，该设备包括：第一支路和第二支路，第一支路的阻抗大于第二支路的阻抗，第一支路的第一端用于连接半导体结构的第二端，第一支路的第二端接地，第二支路的第一端用于连接电压源，第二支路的第二端接地，测试半导体结构的击穿时，半导体结构的第一端连接电压源，第二支路断开，第一支路导通以使半导体结构被电压源击穿进行击穿测试，半导体结构被击穿后，第二支路导通，第一支路断开。从而可以在半导体结构被击穿后，减轻对击穿后的半导体结构的进一步损伤，方便研究人员后期对击穿失效位置的第一现场进行物理失效分析。
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本发明涉及摩托车监测技术领域，特指一种摩托车远程监测系统，包括远程监测终端、CCU联网设备以及远程服务器和服务器端分板程序，远程监测终端以MCU为核心，在接受GPS和摩托车OBD数据之后可通过SIM卡通讯模块向服务器发送摩托车的位置信息以及摩托车行车数据，同时，这些数据可实现本地存储，存储在终端自带存储卡上，方便维修人员获得第一手资料，服务器端包含数据库模块、数据分析统计及数据显示模块，可以实时显示摩托车的运行状态及故障信息，通过分析可以判断摩托车后处理系统是否失效，可为摩托车生产厂家和环境监管部门提供数据参考。
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本发明提供一种车辆售后故障率预测方法、装置、设备及可读存储介质，车辆售后故障率预测方法包括：确定车辆的销售日期以及总销售量；获取所述车辆第一次以预设故障报修的维修日期；基于所述维修日期确定第一观测日期，并计算预设销售日期范围的截止日期至第一观测日期的第一时长；筛选出目标车辆，并基于目标车辆得到第一数据集；基于所述第一数据集进行韦伯分布的参数分析，得到累计分布函数，所述累计分布函数用于预测车辆售出后在不同时长内以预设故障失效的概率。通过本发明可以预测得到车辆在售出后的不同时长内因对应故障失效的概率，预测所得的概率可直接为主机厂使用，从而为保修费用预测、设计变更决策提供依据。
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本发明公开了一种基于事件关联的网络流量预测方法，步骤如下：步骤1、采集原始数据流或流采样数据；步骤2、分析事件信息和流量信息；步骤3、使用运行周期中的节点事件序列与流量特征序列建立训练集；步骤4、持续采集数据，根据协议分析，训练神经网络，预测单节点或全网流量。本发明还公开了基于事件关联的网络流量预测系统，包括：数据采集模块；数据建模模块：将数据建立以节点相关的特征；神经网络训练模块：神经网络训练，建立神经网络；预测模块：使用流量特征和节点状态，输入神经网络预测后续流量趋势。本发明实现了对事件相关型网络的流量预测，解决了传统时序预测方法在流量的时序和周期上存在的失效问题，可以广泛应用于网络领域。
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