合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片测试装置及芯片测试方法

芯片测试装置及芯片测试方法

752   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:13
本发明公开了一种芯片测试装置及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试装置包括测试单元,用于向芯片提供测试信号,以及获取芯片反馈的反馈信号;探针卡,用于测试单元和芯片之间的电连接,探针卡用于测试信号和反馈信号的传递;以及去耦单元,与测试单元电连接,其中,反馈信号包括正常芯片反馈的正常反馈信号和失效芯片反馈的异常反馈信号,当探针卡与芯片电连接时,去耦单元过滤异常反馈信号。根据本发明实施例的芯片测试装置及芯片测试方法,设置有过滤异常反馈信号的去耦单元,能够防止异常反馈信号与正常反馈信号产生耦合效应,从而防止在测试时出现将合格芯片判断为失效芯片的情况。
声明:
“芯片测试装置及芯片测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记