能谱分析设备
参数
可靠的AutoID用于元素识别;准确的定量-所有计数率;峰值偏移和分辨率变化稳定保证在1,000到100,000 cps之间;以非常高的计数率进行全面的软件校正,包括堆积校正;集成的分析硬件链,可以实现快速、可靠的分析性能
适用范围
X射线能谱分析,简写EDS,通常通过配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用,是用来对材料微区成分元素种类与含量进行分析:利用电子束与物质作用时产生的特征X射线,来提供样品化学组成方面的信息,可定性、半定量检测大部分元素(Be4-PU94),可进行表面污染物的分析。
适用标准
GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析