合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 半导体存储器老化测试系统及方法

半导体存储器老化测试系统及方法

567   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:13
本发明属于半导体存储器测试技术领域,公开了一种半导体存储器老化测试系统及方法,其系统包括测试核心板和测试板;测试核心板根据上位机指令生成测试信号和电源信号进行调整后提供给DUT,并将DUT输出信号与预设值比较得到初步测试结果分区存储,并上传到上位机;测试板用于承载DUT,为DUT提供时钟信号和片选信号,单块测试板设置有多个测试位,DUT老化测试可单颗进行或多颗DUT同时进行;其方法通过在测试核心板上输出各种类型的测试信号,并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制等处理,以及对电源信号进行补偿,对测试结果通过分区设置的存储区分别存储,实现老化测试中对单个DUT测试过程控制的管理和失效分析的功能,并增加了DUT同测数,减少了测试资源开销。
声明:
“半导体存储器老化测试系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记