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测试半导体结构击穿的设备、系统和方法

774   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:13
本申请提供了一种测试半导体结构击穿的设备、系统和方法,该设备包括:第一支路和第二支路,第一支路的阻抗大于第二支路的阻抗,第一支路的第一端用于连接半导体结构的第二端,第一支路的第二端接地,第二支路的第一端用于连接电压源,第二支路的第二端接地,测试半导体结构的击穿时,半导体结构的第一端连接电压源,第二支路断开,第一支路导通以使半导体结构被电压源击穿进行击穿测试,半导体结构被击穿后,第二支路导通,第一支路断开。从而可以在半导体结构被击穿后,减轻对击穿后的半导体结构的进一步损伤,方便研究人员后期对击穿失效位置的第一现场进行物理失效分析。
声明:
“测试半导体结构击穿的设备、系统和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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