本发明属于电离辐射计量技术,具体涉及一种混合核素γ点源体积样品效率刻度方法。该方法采用固体混和核素γ点源在探测器周围的测量结果,并结合蒙特卡罗模拟计算,确定探测器对任意轴对称形状体积样品的探测效率。本发明通过混合核素γ点源在探测器周围的测量结果,可确定体积样品探测效率曲线。进而在保证刻度结果量值溯源性的前提下,避免了其它刻度方法(例如标准体积样品刻度)所带来的制作工艺复杂、放射性废物的产生等问题。
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