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用于检测重金属离子的薄膜光寻址电位传感器

681   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 02:46:38
本实用新型公开了一种用于检测重金属离子的 薄膜光寻址电位传感器。该传感器是选用p型或n型Si片作基 底,在基底从下而上依次有SiO2 层、金属层、对重金属离子敏感的薄膜。该薄膜传感器对溶液 中的重金属敏感,能够检测出重金属的含量。本实用新型检测 器件小,试样溶液少,测量快速,使用便捷,测量准确,几乎 没有任何金属离子能够干扰测量。该薄膜传感器可在江河湖 海、生物医学领域如血液、体液等、工业废水、中药、蔬菜、 水果、茶叶等领域中对重金属进行定性和定量检测。
声明:
“用于检测重金属离子的薄膜光寻址电位传感器” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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