上海有色金属物理检测设备

悬臂式表面洛氏硬度计(凸鼻子) 319     

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“奥龙芯”悬臂式全洛氏硬度计为台式洛氏硬度计HRS-45X，采用洛氏(ROCKWELL)测量原理，用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测，采用国际中先进的闭环式传感器控制技术，实现了全自动控制和硬度测试过程。加载系统采用高精度力值传感器与中央控制器构成闭环回路实现全程微秒级跟踪和控制加力过程。广泛应用于计量、机械制造、冶金、化工、建材等行业的检测、科研与生产。

“奥龙芯”全自动凸鼻子全洛氏硬度计 344     

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“奥龙芯” 全自动凸鼻子洛氏硬度计为大平台洛氏硬度计，采用洛氏(ROCKWELL)测量原理，用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测，“奥龙芯” 平台升降凸鼻子洛氏硬度计采用国际中先进的闭环式传感器控制技术，实现了全自动控制和硬度测试过程。“奥龙芯”加载系统采用高精度力值传感器与中央控制器构成闭环回路实现全程微秒级跟踪和控制加力过程。广泛应用于计量、机械制造、冶金、化工、建材等行业的检测、科研与生产。

“奥龙芯”高端全自动数显平台双洛氏硬度计 352     

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MHRS-150/45-Z PLUS“奥龙芯” 高端全自动数显平台双洛氏硬度计是用来确定材料硬度的测试仪器，而硬度试验是判断金属材料或产品零件质量的一种手段。所谓硬度，就是材料在一定条件下抵抗另一本身不发生残余变形物体压入的能力。抵抗的能力愈大，则硬度愈高，反之则硬度愈低。

“奥龙芯”凸鼻子全洛氏硬度计 311     

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“奥龙芯”凸鼻子洛氏/表面洛氏/双洛氏硬度计为台式洛氏硬度计，采用洛氏(ROCKWELL)测量原理，用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测，采用国际先进的高速精密步控技术，“奥龙芯”加载系统通过高精度力值传感器与中央控制器实现全程微秒级跟踪和控制加力过程。广泛应用于计量、机械制造、冶金、化工、建材等行业的检测、科研与生产。

“奥龙芯”精密洛氏硬度计（机头移动式） 328     

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“奥龙芯”精密洛氏、表面洛氏、双洛氏硬度计（机头移动式）采用先进的闭环式传感器控制技术实现全自动控制和硬度测试过程。

“奥龙芯”全自动全洛氏硬度计 332     

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“奥龙芯”全自动全洛氏、表面洛氏、双洛氏硬度计，采用国际最先进的高速精密步控技术，实现了全自动控制和硬度测试过程。测深系统采用高精度位移传感器，由此可获得最小硬度值分辨率为0.1HR。压头位置固定，由平台上下运动进行硬度测试。大平台整体移动，消除了丝杠升降时产生的间隙，大大提高了测试的精度和重复性，也增加了机器工作的稳定性和效率。新增脚踏开关功能，一键式测量，节省大量人力，方便现场使用。

“奥龙芯”触摸屏数显洛氏/表面洛氏/双洛氏硬度计 324     

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硬度计是用来确定材料硬度的测试仪器，而硬度试验是判断金属材料或产品零件质量的一种手段。所谓硬度，就是材料在一定条件下抵抗另一本身不发生残余变形物体压入的能力。抵抗的能力愈大，则硬度愈高，反之则硬度愈低。

“奥龙芯”悬臂式数显全洛氏硬度计 340     

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“奥龙芯”悬臂式全洛氏硬度计HRS-150/45X为台式洛氏硬度计，采用洛氏(ROCKWELL)测量原理，用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及工程塑料等材料的硬度检测，采用国际中先进的闭环式传感器控制技术，实现了全自动控制和硬度测试过程。加载系统采用高精度力值传感器与中央控制器构成闭环回路实现全程微秒级跟踪和控制加力过程。广泛应用于计量、机械制造、冶金、化工、建材等行业的检测、科研与生产。

全自动洛氏硬度计 383     

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系统采用高速精密步控技术，实现全程连续跟踪和控制加力过程。测深系统采用高精度位移传感器，由此可获得最小硬度值分辨率为0.1HR。机头固定，由平台上下运动进行硬度测试。外形新颖、功能齐全、操作方便、显示清晰直观、性能稳定，是集机电于一体的高新技术产品。仪器取消了砝码，采用电动加卸试验力，可进行洛氏、表面洛氏全部标尺的硬度测试。

手持热成像仪 256     

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支持WiFiFLIR Ex系列手持热成像仪是电气与机械检测、建筑绝缘损耗等有效之选，能快速检测安装设备的潜在危险，助力避免故障发生。全新升级FLIR E5-XT、E6-XT、E8-XT 测温范围更广，支持WiFi功能，性价比更高!

机器视觉在线红外热像仪 320     

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机器视觉红外热像仪广泛应用于各行业的工艺过程连续监控。机器视觉红外热像仪还能够轻松地收集到有关产品质量及/或生产效率的信息，利用热电偶或可见光摄像机等传统工县则难以或无法获得这些信息。若仅希望获得红外图像，不要求精确测混，那么FLIR Axx系列便是有效选择。FLIRAxx系列红外热像仪的特征和功能使其理所当然地成为采用PC软件解决问题的用户的选择。

在线红外热像仪 234     

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AX8适用于状态监控和热点探测的自动化、多波段测温红外热像仪其结构小巧，经济实惠的架构中，为关键机电设备无间断状态监控提供连续的温度监控报警.

高端红外热像仪 345     

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464*348像素--640*480像素 FLIR T800系列热像仪采用倾斜式光学设计，支持非接触检测方法，简单易用，可以安全舒适地评估关键电气和机械设备的状况。

在线式热像仪(图像流) 348     

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464*348-640*480分辨率 FLIR A50和A70图像流热像仪拥有强大的热像仪控制功能，支持通过以太网图像流图像，还能灵活地使用软件应用开展分析、采集原始数据.

手持式红外热像仪 331     

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320*240像素---640*480像素 FLIR T5XX采用人体工学设计，分辨率高，能快速排查热点、发现隐患并确认维修结果。高达640x480(307,200像素)红外热像仪配备明亮的4英寸液晶显示屏和可180°旋转的镜头平台，因此即便在难以触及区域，您都能轻松舒适地诊断电气或机械问题。

光谱反射和透射测量系统 329     

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F2-RT 光谱反射和透射测量系统是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。

高级光谱反射系统 240     

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Filmetrics F60薄膜厚度测量仪 电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点，并在几秒钟内提供厚度测量。 选择数十种预定义的极坐标，矩形或线性地图模式中的一种，或创建自己的地图模式，不限制测量点的数量。 典型的49点图形大约需要45秒。

薄膜厚度测量仪 331     

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Filmetrics F32薄膜厚度测量仪 使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。

硅片厚度测量 357     

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硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层(比如半导体膜层)。

精简薄膜厚度测量仪 330     

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FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。 使用 FR-ES，用户可以在 370-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量。

晶圆厚度测量系统 341     

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FR-Ultra是一种紧凑型设备，专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。

在线薄膜厚度测量仪 327     

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FR-InLine 是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪（膜厚仪），可进行在线非接触测量 3nm-1mm 厚度范围内的涂层。

自动化高速薄膜厚度测量仪 330     

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Thetametrisis显示器薄膜测量仪 光学厚度测量仪通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。

薄膜测量系统 325     

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UltraFilm薄膜测量系统是一款高精度的厚度均匀性测量设备，适用于各种材质薄膜。它采用创新的多传感器融合测量技术，结合光谱反射、近红外干涉以及高亮度光源驱动的光谱椭偏仪技术，是国内首款实现同质膜厚全自动检测的系统。该系统在50um厚度双抛玻璃片的实验中，静态精度表现为同点位多次连续测量的最大偏差值，而多次取放测量同点位数据的最大三倍标准差值，展现了其卓越的测量稳定性和重复性。

全自动带显微镜多点测量膜厚仪 338     

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硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控 制的XY工作台，使其快 速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。品牌属于Thetametrisis。

膜厚测量仪 249     

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膜厚测量仪在工业生产、材料研发、电子设备制造等领域广泛应用，可帮助用户准确测量和控制薄膜的厚度，确保产品质量和性能。使用膜厚测量仪时，需要根据实际情况选择适合的仪器和测量方法，并注意仪器的操作规范和安全注意事项。

自动化高速薄膜厚度测量仪 319     

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薄膜厚度测量的光学模块可容纳所有光学部件：分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。

电导率测试仪 220     

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电导率是一个重要的材料属性，不仅对金属传导电流的能力，也对其成分、微观结构和机械性能提供信息。SIGMASCOPE SMP350。 SIGMASCOPE SMP350是一款紧凑型手持设备，用于确定铝或铜等有色金属的电导率。 测得的电导率还可以使您得出有关热处理材料的硬度和强度的结论。 热损伤和材料疲劳的证据因此可以...

大屏幕测厚仪 322     

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DMP10-40 系列测量仪器是在磁性和非磁性基材上快速、无损地测量涂镀层厚度的解决方案。 这些紧凑型仪器主要用于质量保证，以其坚固且符合人体工程学的设计和广泛的功能令人印象深刻。

测厚仪 211     

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新款Fischer DMP10/40测厚仪是用于接触式涂镀层厚度测量的通用仪器系列，采用磁感应法和电涡流法进行测量。DMP10和DMP20为入门级型号，支持1个批次，可存储10,000个数据，通过USB-C传输数据，支持光和声音信号监控上下限。DMP30和DMP40为专业级型号，支持2,500个批次，可存储250,000个数据，通过USB-C和蓝牙传输数据，支持光、声音和振动信号监控上下限。所有型号均配备坚固的铝制外壳，防护等级为IP64，使用可更换锂离子电池，工作时间超过24小时。