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江苏一六仪器有限公司推出的XTD-200全自动镀层测厚仪是一款专为复杂镀层体系设计的智能化检测设备，采用X射线荧光光谱技术（XRF）实现无损、高精度测量。其核心工作原理基于X射线与镀层材料的相互作用：仪器发射微聚焦X射线照射样品表面，激发镀层元素产生特征荧光X射线，通过分析荧光强度与波长，结合多元迭代EFP算法，可精准计算镀层厚度及成分含量。该技术无需破坏样品，测量范围覆盖0.005-100μm（厚度检出限），成分检出限达1ppm，支持多层镀层（如Au/Ni/Cu）及重复镀层（如Ni/Cu/Ni）的逐层分析。
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苏州实谱仪器有限公司推出的T-350M镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过微聚焦X射线管激发样品表面，使镀层中的元素释放特征X射线荧光，探测器（如SDD或Si-Pin）捕捉信号后，结合增强型FP算法计算镀层厚度及元素含量。该技术无需破坏样品，支持多元素同步分析，可穿透表面氧化层直接测量基材镀层厚度，测量范围覆盖0.01-100μm，精度达±1%，分辨率优于0.001μm。
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DVT-CHX-3000是无锡动视宫原科技有限公司研发的低辐射射线测厚仪，专为塑料薄膜、无纺布、金属箔材及橡胶等材料的在线厚度检测设计。其核心工作原理基于射线穿透吸收式测量技术：当射线（如β射线）穿透材料时，材料对射线的吸收与衰减程度与面密度（克重）呈正相关。在材料体积密度一致或波动较小时，可通过面密度与密度的换算关系间接测量厚度。设备采用双闭环电路控制系统，确保射线强度长期稳定，配合德国前置放大电路技术的高信噪比探测器，可精准识别微小厚度变化，空间分辨精度高，条纹缺陷识别能力强。
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XTU-A型镀层测厚仪由苏州吉恩斯检测技术服务有限公司研发生产，是一款基于X射线荧光光谱技术的非接触式无损检测设备。其核心工作原理通过下照式C型腔体设计，利用X射线穿透样品时因涂镀层厚度差异导致的能量衰减变化，结合EFP核心算法与多道脉冲分析系统，精准解析涂层成分及厚度数据。该仪器可检测元素范围覆盖氯（Cl）至铀（U），厚度检出限达0.005μm，成分检出限低至1ppm，最小测量直径仅0.2mm，适用于平面、微小样品及凹槽深度≤30mm的异形件检测。
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苏州安原仪器有限公司的LS225涂层测厚仪是一款专为金属表面涂层厚度检测设计的高精度便携式设备，适用于工业生产与质量控制场景。该仪器采用磁感应或涡流感应技术，通过探头与基材的电磁交互实现无损测量。当测量铁磁性金属基材（如钢铁）上的非磁性涂层（如镀锌、镀铬、油漆等）时，仪器利用磁感应原理，通过探头磁线圈与基材间磁场强度的变化推导涂层厚度；针对非铁磁性金属基材（如铝、铜）上的非导电涂层（如阳极氧化层、陶瓷涂层等），则采用涡流感应技术，通过高频交变磁场在基材中感应的涡流变化进行厚度分析。
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苏州惠更斯仪器科技有限公司推出的EDX2000A荧光光谱仪，是一款基于能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度检测与元素成分分析设计。其核心工作原理通过微焦斑X射线管（W靶）发射高能X射线，激发样品表面原子产生特征荧光X射线，SDD探测器接收信号后，结合FP（基本参数法）与MLSQ（多变量最小二乘法）算法，快速解析镀层厚度与元素含量。该仪器采用自动对焦与三维移动平台（XYZ轴，荷载5kg），可精准定位复杂结构镀层，支持单点与多点连续测量。
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艾利特克(苏州)科学仪器有限公司推出的金属镀层检测仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为金属材料表面镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过X射线管发射高能X射线，激发样品表面镀层与基材的原子特征荧光。探测器捕获荧光信号后，结合光谱解谱算法与机器视觉技术，可同步分析多层镀层厚度及元素组成，覆盖Mg至U元素周期表，支持单层、合金镀层及复杂多层结构（如Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu）的精准检测。
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深圳市天创美科技有限公司推出的ICP-OES原子发射光谱检测仪，是一款基于电感耦合等离子体发射光谱技术（ICP-OES）的高精度分析设备，专为多元素痕量分析设计。其工作原理通过高频电磁场（27.12MHz）激发氩气形成高温等离子体炬焰（温度达6000-10000K），样品经雾化后进入等离子体，原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。仪器采用Czerny-Turner型光路与离子刻蚀全息光栅（3600线/mm或2400线/mm），实现190-800nm全波段光谱采集，分辨率≤0.008nm（3600线光栅），可同步检测70余种元素，检出限低至ppb级。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX1800矿石化验仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度分析设备，专为矿石成分快速检测设计。该仪器通过高压电源激发X光管产生初级X射线，穿透样品后激发特征荧光，电制冷Si-Pin探测器捕获信号并转换为数字信号，结合FP基本算法、经验系数法等多重算法，实现矿石中元素的定性定量分析。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，分析含量可达2ppm-99.99%，检测限低至2ppm，能量分辨率144±5eV，满足纳米级矿物成分分析需求。
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深圳市天创美科技有限公司研发的手持式合金光谱检测仪，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的便携式元素分析设备，专为金属材料快速成分鉴定与成分分析设计。其核心原理通过微型X射线管发射高能射线，激发合金表面原子内层电子跃迁，释放特征荧光光谱。探测器捕获荧光信号后，结合智能算法与标准谱库，实现合金牌号识别及元素含量（如铁、铜、铝、镍、钛、钼等）的实时定量分析，覆盖轻金属至重金属全谱段检测。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX 2000A电镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖氯(Cl)至铀(U)之间的24种元素，可同时分析23层镀层结构，单层测量精度达±0.001%，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的金属镀层厚度检测仪Thick800A，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，经样品激发后产生特征X荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，可同时分析5层镀层结构，单层测量精度达±0.005μm，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的化学镍膜厚测试设备，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测仪器，专为电镀、化镀及热镀工艺中的镍镀层厚度分析设计。该设备通过微焦斑W靶X射线管发射高能射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并解析能谱，结合多层薄膜基本参数法（MTFFP）模块，精准计算镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖铝至铀之间的元素，可同时分析5层及以上镀层结构，单层测量精度达±5%，最薄检出限低至0.0025微米，满足纳米级薄膜分析需求。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的Thick800A电子元器件镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度及成分检测设计。其工作原理是通过高压X光管激发样品表面，使镀层元素产生特征荧光X射线，探测器捕获信号后经多变量非线性回归算法处理，实现多层镀层厚度与成分的定量分析。该技术无需物理接触样品，可穿透表面直接检测，避免了对精密元器件的损伤，同时支持微小区域（最小0.1mm）的精准测量。
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0PA-1000可广泛用于可广泛应用于冶金、铸造、钢铁和有色金属等行业，在汽车制造、船舶、机电设备等领域的零件、产品工艺研发方面都有广泛的应用。全自动超大尺寸金属构件原位分析系统 0PA-1000，可分析构件尺寸长x宽为 1000mmx500mm，突破传统的以点分析代表表面分析、以小区域结果代表整体构件性能的局限，对构件平面表面实现全覆盖表征，实现对材料整体的成分和夹杂物分布分析表征。
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OPA-500 大尺寸金属构件原位分析仪是基于“国家重大科学仪器专项开发”成果研制，采用原位统计分布分析技术和高通量统计映射技术，在大尺寸构件级别金属材料试样的重大突破。解决了高铁等大尺寸金属构件的成分偏析度及夹杂物分析的难题。
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激励线圈对被检材料进行磁感应，检测线圈接收到的感应电动势和材料磁滞回线的形状、大小有关，当低频正弦波激励电压进行磁感应时，所得到的感应电势亦为正弦波形，通常包括基波，通过测量检测线圈感应电势的基波成分，可对被测量的合金成分、热处理状态等特性进行检测，从而实现材质硬度分选。
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FH3199系列金属硬度分析仪是专门针对金属硬度分选（区分不同硬度）的仪器。适用于轴承、钢管、无缝钢管、焊管、钢棒、钢丝、钢板、螺丝、螺柱、铜管、铜棒、不锈钢管、不锈钢棒、销子等产品的硬度检测与分选。本仪器是由工控计算机控制的基于操作系统的金属硬度分选仪器，具备自动检测、数字显示、高灵敏度、性能稳定等优点。是一套完整的、高性能、智能化的新型涡流检测仪器。可同时完成4个工件的检测，提升检测效率。本仪器可配合自动化设备同步作业。
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在线PCBA锡膏3D光学检测设备是一款用于检测印刷锡膏缺陷的先进设备，能够识别少锡、多锡、厚度不均等问题。它采用相位调制轮廓测量技术，实现对精密印刷焊锡膏的三维测量，在保证高速测量的同时，显著提高测量精度。设备具备极简编程和便捷操作功能，支持多机互联，配备AI智能算法，实现一键搜索和定位，编程快速简单。此外，它能够实时进行SPC监控和分析，具备坏板飞行识别功能及贴片机BadMark点共享功能，可与印刷机配合实现闭环控制，支持整板图形存储，确保生产过程的高效和精准。
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现代薄膜涂布镀层工艺在进行在线生产过程中，需要对膜厚及涂层厚度进行实时的在线测厚，由于传统的射线类膜厚检测仪检测精度低、易偏移、难于校准等缺点给实际的工艺产品质量控制造成了很大的影响，SIMV涂层(膜厚)在线测厚仪，采用纳米光学干涉的方式，可同时对20层不用涂层、薄膜进行同时测量，同时精度高达1nm，完美的解决了传统射线类在线测厚仪有辐射、偏移周期长、检测精度低、不能检测涂层厚度的缺点。赛默斐视涂层厚度在线测厚仪检测精度高，同时能够实时在线自动校准，有效的保证了在线测厚仪的检测精度。
2025年06月06日 ~ 08日 
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2025年06月13日 ~ 15日 
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