在线PCBA锡膏3D光学检测设备是一款用于检测印刷锡膏缺陷的先进设备,能够识别少锡、多锡、厚度不均等问题。它采用相位调制轮廓测量技术,实现对精密印刷焊锡膏的三维测量,在保证高速测量的同时,显著提高测量精度。设备具备极简编程和便捷操作功能,支持多机互联,配备AI智能算法,实现一键搜索和定位,编程快速简单。此外,它能够实时进行SPC监控和分析,具备坏板飞行识别功能及贴片机BadMark点共享功能,可与印刷机配合实现闭环控制,支持整板图形存储,确保生产过程的高效和精准。
现代薄膜涂布镀层工艺在进行在线生产过程中,需要对膜厚及涂层厚度进行实时的在线测厚,由于传统的射线类膜厚检测仪检测精度低、易偏移、难于校准等缺点给实际的工艺产品质量控制造成了很大的影响,SIMV涂层(膜厚)在线测厚仪,采用纳米光学干涉的方式,可同时对20层不用涂层、薄膜进行同时测量,同时精度高达1nm,完美的解决了传统射线类在线测厚仪有辐射、偏移周期长、检测精度低、不能检测涂层厚度的缺点。赛默斐视涂层厚度在线测厚仪检测精度高,同时能够实时在线自动校准,有效的保证了在线测厚仪的检测精度。
X荧光光谱仪(也称EDS、XRF或X-ray光谱分析仪)根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。 近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。