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朗铎科技（北京）有限公司推出的尼通XL2 Plus手持式合金分析仪，是一款集便携性、精准性与高效性于一体的分析工具。其核心工作原理基于X射线荧光技术，通过2W X射线管发射高能X射线激发样品原子内层电子跃迁，产生特征性二次X射线，再由硅漂移探测器（SDD）接收并解析其能量与强度，结合智能基本参数法（FP）校正基质效应，实现从镁（Mg）到铀（U）的元素快速定量分析。该技术无需样品制备，单次测量仅需数秒，适用于现场快速决策场景。
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岱美仪器技术服务（上海）有限公司推出的 FSM413 红外激光测厚仪，是一款基于红外干涉（IR）技术的高精度非接触式测量设备，专为半导体、光伏、MEMS 等行业设计。其核心工作原理是通过红外激光束垂直照射样品表面，利用光束在材料内部及界面的多重反射形成干涉条纹，结合光谱分析算法计算薄膜或基底的厚度。该技术适用于所有红外线可穿透的材料（如硅、蓝宝石、玻璃、砷化镓等），可穿透透明或半透明介质直接测量背面结构，无需破坏样品表面。
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岱美仪器技术服务（上海）有限公司推出的 FR-pRo 薄膜厚度测量仪，是一款基于白光反射光谱（WLRS）技术的模块化、可扩展光学测量设备，专为科研与工业生产中的薄膜表征需求设计。其核心工作原理是通过分析垂直入射光在薄膜表面及基底界面反射后形成的干涉光谱，结合薄膜材料的光学常数（折射率n、消光系数k），精确计算薄膜厚度。该技术覆盖 200nm-2500nm 波长范围，支持单层至多层透明、半透明薄膜的厚度及光学参数测量，分辨率可达 0.1nm，精度优于 0.2%。
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东儒DR380升级版两用涂层测厚仪是一款集成磁性感应与电涡流技术的高精度无损检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理基于双模式传感器技术：针对磁性金属基体（如钢、铁），采用磁性测厚法，通过测量探头与基体间的磁通量变化推算非磁性涂层（如镀锌、油漆、电泳层）厚度；针对非磁性金属基体（如铝、铜、不锈钢），则切换至涡流测厚模式，利用高频电磁场感应涂层与基体的电导率差异实现精准测量。设备内置智能识别系统，可自动切换测量模式，支持连续测量与单次测量两种操作方式。
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上海阜力测量设备有限公司推出的XULM240型X射线荧光电镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱技术的高精度检测设备，专为金属基材表面镀层厚度及成分分析设计。其工作原理为：通过微聚焦X射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，比例接收器采集荧光信号并转换为计数率，结合基本参数法计算镀层厚度及元素含量。该技术实现非接触式无损测量，最小测量点可达0.09×0.09mm，支持单层、双层及三层镀层同步分析，测量范围覆盖50nm至100μm，精度在Au镀层厚度＞0.1μm时可达±5%（有标准片校准），重复精度±2.5nm（如80nm金层）。
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广东度班科技有限公司推出的DB20-CM211S基本型涂层测厚仪，是一款基于磁感应与电涡流双原理的高精度便携式检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理为：针对铁磁性基材（如钢、铁），仪器利用磁感应原理，通过探头与基体间的磁阻变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材（如铜、铝），则采用电涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过分析反馈阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，测量范围覆盖0-1250μm，分辨率达0.1μm（小于100μm时）或1μm（大于100μm时），精度在±(1-3%n)或±2.5μm范围内。
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上海遂欧仪器有限公司推出的MPO涂层测厚仪是一款高精度、智能化的便携式检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理基于磁感应与电涡流双技术融合：针对铁磁性基材，仪器利用磁感应原理，通过探头与基体间的磁通量变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材，则采用电涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过分析反馈阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，最小测量面积仅为直径φ4mm，测量范围覆盖0-2000μm，分辨率达0.1μm，精度在0-50μm范围内≤±1μm，50-1000μm范围内≤±2%，1000-2000μm范围内≤±3%。
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上海理涛自动化科技有限公司推出的LT-034Q全自动测厚仪，是一款基于机械式测量原理的高精度检测设备，专为薄膜、纸张等柔性材料的厚度测量设计。其工作原理为：通过步进丝杆驱动的上下测量头，以恒定压力（17.5±1kPa薄膜/50±1kPa纸张）垂直压合被测材料，利用高精度位移传感器实时捕捉测量头位移变化，结合PLC控制系统将物理位移转化为厚度数据。该技术可实现0-2mm（常规量程，可选0-6mm）的测量范围，分辨率达0.1μm，测量精度±00.02mm（薄膜）。
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HD5701-200粗糙度轮廓一体式测量仪一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器；采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面粗糙度和轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓进行各种参数分析。
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河北沧辰科技有限公司推出的SDT180/192可穿涂层超声波测厚仪，是一款基于超声波脉冲反射原理的高精度无损检测设备，专为金属基材表面涂层下的厚度测量设计。其工作原理为：探头发射高频超声波脉冲，穿透表面涂层（如油漆、塑料等非金属附着物）后到达基材界面，脉冲被反射回探头，仪器通过精确测量超声波在材料中的传播时间，结合预设声速计算基材厚度。该技术无需清除涂层，可穿透0.01-5mm厚度的涂层直接测量基材，测量范围覆盖0.65-600mm（钢），分辨率达0.01mm，精度±(1%H+0.1)mm（H为实际厚度）。
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北京时代盈海科技有限公司推出的新款漆膜测厚仪TT270，是一款基于磁感应与涡流双原理的高精度无损检测设备，专为金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理为：针对铁磁性基材（如钢、铁），仪器利用磁感应原理，通过探头与基体间的磁阻变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材（如铜、铝），则采用涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，无需破坏涂层，测量范围覆盖0-1250μm（部分探头可达10mm），分辨率达0.1μm，精度在0-1000μm范围内≤±(3%H+1)μm（H为实际厚度）。
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苏州安原仪器有限公司推出的C型腔体X荧光镀层测厚仪T-450S，是一款基于X射线荧光光谱技术的高精度检测设备，专为金属基材表面镀层厚度及成分分析设计。其工作原理为：仪器通过微聚焦增强型X射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，探测器接收信号后结合增强FP算法软件，精确计算镀层厚度及元素含量。该技术实现无损检测，最小测量点可达0.15mm，厚度检出限低至1nm，成分检出限达1ppm，支持多层镀层（最多15层）及24种元素同步分析。
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河北慧采科技有限公司推出的工业级喷塑电池款厚度检测仪是一款便携式、高精度的无损检测设备，专为金属基材表面喷塑层厚度测量设计。其工作原理基于磁感应与涡流技术：针对铁磁性基材（如钢、铁），仪器利用磁感应原理，通过探头与基材间的磁通量变化计算涂层厚度；针对非铁磁性基材（如铝、铜），则采用涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过阻抗变化推算涂层厚度。该技术无需破坏涂层，测量范围覆盖0-2000μm，分辨率达0.1μm，精度在0-1000μm范围内≤±(3%H+1)μm（H为实际厚度），1000-2000μm范围内≤±(5%H+1)μm。
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北京欧信胜科技有限公司代理的德国QNIX7500油漆涂层测厚仪是一款高精度、便携式无损检测设备，专为金属及非金属基材表面涂层厚度测量设计。其工作原理基于磁感应与涡流技术：铁磁性基材（如钢、铁）采用磁感应原理，通过探头与基材间的磁通量变化计算涂层厚度；非铁磁性基材（如铝、铜）则利用涡流效应，高频交变磁场在导电基材中产生涡流，通过阻抗变化推算涂层厚度。该技术实现非接触式测量，无需破坏涂层，测量范围覆盖0-5000μm，分辨率达0.1μm，精度在0-2000μm范围内≤±2%，2000-5000μm范围内≤±3%。
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佳谱仪器T450Splus镀层测厚仪是一款高性能X射线荧光光谱仪，专为高精度镀层厚度及成分分析设计。其工作原理基于X射线荧光技术：仪器通过微聚焦增强型射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，探测器接收信号后结合增强FP算法软件与变焦装置，精确计算镀层厚度及元素含量。该技术实现无损检测，最小测量点可达0.25mm，厚度检出限低至1nm，成分检出限达1ppm，支持多层镀层（最多15层）及24种元素同步分析。
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电子探针X射线显微分析仪，又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后 的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定性或定量分析。。可以进行点、线扫描（得到成分分布信息）、面扫描（得到成分面分布图像）。相对EDS，检测限更低，有标测试，对于轻元素、微量元素测试精度更高。
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深圳云威网络科技有限公司推出的SW-6510A/S超声波测厚仪是一款高精度、智能化的工业级无损检测设备，基于超声波脉冲反射原理实现厚度测量。仪器通过探头向被测材料发射高频超声波脉冲，脉冲穿透耦合剂后到达材料底面或界面，发生反射并返回探头。仪器根据超声波在材料中的传播时间及预设声速，自动计算材料厚度值。该技术可穿透表面涂层直接测量基材厚度，测量范围覆盖1.00-300.00mm（钢），分辨率达0.01mm，精度±0.1mm，符合ASTM E797等国际标准。
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透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍。
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原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
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北京吉泰科仪检测设备有限公司推出的JT170超声波测厚仪是一款高精度、智能化的工业级无损检测设备，基于超声波脉冲反射原理实现厚度测量。其工作原理为：仪器通过探头向被测材料发射高频超声波脉冲，脉冲穿透耦合剂后到达材料底面或界面，发生反射并返回探头。仪器根据超声波在材料中的传播时间及预设声速，自动计算材料厚度值。
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江苏一六仪器有限公司推出的XTD-200全自动镀层测厚仪是一款专为复杂镀层体系设计的智能化检测设备，采用X射线荧光光谱技术（XRF）实现无损、高精度测量。其核心工作原理基于X射线与镀层材料的相互作用：仪器发射微聚焦X射线照射样品表面，激发镀层元素产生特征荧光X射线，通过分析荧光强度与波长，结合多元迭代EFP算法，可精准计算镀层厚度及成分含量。该技术无需破坏样品，测量范围覆盖0.005-100μm（厚度检出限），成分检出限达1ppm，支持多层镀层（如Au/Ni/Cu）及重复镀层（如Ni/Cu/Ni）的逐层分析。
2025年06月06日 ~ 08日 
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2025年06月13日 ~ 15日 
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