江苏苏州有色金属无损检测设备

多功能磁粉探伤机 248     

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交直流磁化，全波或半波直流，具有一定的探伤深度；交流带断电相位控制，既适合连续法探伤又适合剩磁法探伤；可单相磁化也可复合磁化，超低频退磁或线圈远离法退磁；

弹簧荧光磁粉探伤机 166     

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CDW-6000型弹簧荧光磁粉探伤机系固定式机电分体结构的荧光磁粉探伤设备。以湿法荧光磁粉检测弹簧表面及近表面因各种原因引起的各种细微缺陷。该设备采用自动、手动两种运行方式，由进口可编程控制器(PLC)对设备集中控制。一次性全方位显示缺陷;并带断电相位控制，具有较高剩磁稳定度，既适用于连续法探伤检测，又适用于剩磁法探伤检测。

井式荧光磁粉探伤机 185     

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CXW-3000型井式荧光磁粉探伤机系机电分立型半自动磁粉探伤设备，由电源控制系统、磁化装置、磁悬液系统等几大部分组成，适用于以湿式磁粉法检测由铁磁性材料制成的各类铁磁性工件的表面及近表面因铸造、锻造、加工、疲劳等各种原因引起的裂纹和各种细微缺陷。

闸瓦托磁粉探伤机 185     

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该探伤机是闸瓦托专用磁粉探伤机，设备全方位检测工件因 铸造、锻压、淬火、研磨、焊缝、疲劳等引起的各种裂纹、等极细微的缺陷。是闸瓦托检测的首选设备。

曲轴荧光磁粉探伤机 164     

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采用电流与磁场从工件中心通过的二次感应法对工件进行复合磁化，使磁力线旋转。从而一次探伤可检查工件表面和近表面因锻压、淬火、研磨、夹渣、疲劳而引起的各个方向的裂痕。并可对工件分别进行单路和复合磁化，磁化电流分别可调，具有噪音小、性能可靠等优点，带有断电相位控制功能，同时PLC工作程序还可根椐探伤需要经行调整。

数字化荧光磁粉探伤机 186     

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CDG-4000型数字化多功能荧光磁粉探伤机系机电分立型半自动磁粉探伤设备，由电源控制系统、夹持磁化装置、磁悬液系统等几大部分组成，适用于以湿式磁粉法检测由铁磁性材料制成的半轴、管、棒类零件的表面及近表面因铸造、锻造、加工、疲劳等各种原因引起的裂纹和各种细微缺陷。

十字架荧光磁粉探伤线 160     

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CXW-2000型在线式荧光磁粉探伤机系机电组合式半自动荧光磁粉探伤设备，由电源控制系统、磁化系统、磁悬液喷洒系统、荧光系统、退磁系统等几大部分组成。适用于以湿式磁粉法检测由铁磁性材料制成的各种套管件表面及近表面因锻造、加工、疲劳等各种原因引起的裂纹和各种细微缺陷。

贵金属分析仪 400     

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BXR-686 贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器，常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。

金属探伤仪 1885     

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苏州福尔特电子科技有限公司从事无损检测技术研究、各系列涡流探伤仪、分选仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、X射线探伤仪、探伤及对各种管棒材、金属零部件、轴销圈杆等金属零部件的自动探伤系统设备研发生产。

便携式TOFD超声波检测仪 2378     

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便携式TOFD超声波检测仪：TOFD及PE多通道扫查一次性全覆盖200mm厚度焊缝，满足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的指标要求;

涡流探伤仪 1819     

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涡流探伤仪采用高分辨率液晶显示屏显示测量结果，完整、紧凑的工业化集成设计方法，保证了仪器可靠性和坚固性。

X-射线荧光光谱/XRF 2510     

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一种能快获得材料中化学成分信息的无损分析方法，适用于各种形态的样品(包括固体、粉末、颗粒、液体等)。

材料分析光谱仪 2376     

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Simply the Best >美国AmpTek -FSDD探测器, 高分辨率高计数率 >真空测试环境提供最优轻元素检测效果 >无损元素分析涵盖11Na to 92U >适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆 >多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限 >坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

X射线荧光镀层测厚仪 3197     

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膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪 Simply The Best >微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计 >高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量 >高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度 >全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

能量色散X荧光光谱仪 矿产矿石专用分析仪 2401     

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EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家 >先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器 >真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限 >可同时分析40种元素 >可分析固体，液体，粉末和泥浆 >原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能 >无损检测，快速分析（1-2分钟出结果） >无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效

TrueX 贵金属分析仪 2534     

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TrueX 贵金属分析仪可以无损地分析金、银和铂族金属，以及非贵金属合金金属和镀金样品中的元素含量。相比于传统的锡试金法、镍锍试金法等分析方法，TrueX 贵金属分析仪检测能力更强、检测时间更短，更为高效和便携，被广泛应用于珠宝首饰制造与回收、工业催化剂、电子器件等领域。​