江苏苏州有色金属无损检测设备

贵金属分析仪 285     

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BXR-686 贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器，常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损的无损检测仪，广泛应用于珠宝首饰检测行业。

金属探伤仪 1771     

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苏州福尔特电子科技有限公司从事无损检测技术研究、各系列涡流探伤仪、分选仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、X射线探伤仪、探伤及对各种管棒材、金属零部件、轴销圈杆等金属零部件的自动探伤系统设备研发生产。

便携式TOFD超声波检测仪 2240     

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便携式TOFD超声波检测仪：TOFD及PE多通道扫查一次性全覆盖200mm厚度焊缝，满足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的指标要求;

涡流探伤仪 1651     

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涡流探伤仪采用高分辨率液晶显示屏显示测量结果，完整、紧凑的工业化集成设计方法，保证了仪器可靠性和坚固性。

X-射线荧光光谱/XRF 2342     

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一种能快获得材料中化学成分信息的无损分析方法，适用于各种形态的样品(包括固体、粉末、颗粒、液体等)。

材料分析光谱仪 2265     

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Simply the Best >美国AmpTek -FSDD探测器, 高分辨率高计数率 >真空测试环境提供最优轻元素检测效果 >无损元素分析涵盖11Na to 92U >适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆 >多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限 >坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

X射线荧光镀层测厚仪 3013     

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膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪 Simply The Best >微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计 >高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量 >高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度 >全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

能量色散X荧光光谱仪 矿产矿石专用分析仪 2265     

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EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家 >先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器 >真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限 >可同时分析40种元素 >可分析固体，液体，粉末和泥浆 >原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能 >无损检测，快速分析（1-2分钟出结果） >无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效

TrueX 贵金属分析仪 2404     

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TrueX 贵金属分析仪可以无损地分析金、银和铂族金属，以及非贵金属合金金属和镀金样品中的元素含量。相比于传统的锡试金法、镍锍试金法等分析方法，TrueX 贵金属分析仪检测能力更强、检测时间更短，更为高效和便携，被广泛应用于珠宝首饰制造与回收、工业催化剂、电子器件等领域。​