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Xstress 3000是先进的X射线应力仪，采用固态线性探测器技术，可以有效准确的测量晶体材料的残余应力，与之配套的XTronic软件，能实现直线和椭圆拟合数据、Dolle-Hauk、以及三轴应力测试方法。还包括多种高级拟合函数：如抛物线法、高斯法、皮尔森法、柯西法、中心法、重心法、中心重心法。峰强、积分宽度、半高宽以及ψ点位的图形展示提供了详实易懂的测量结果。通过PROTO 8818-V3能实现对材料表面抛光，去掉表面干扰层，获得更真实的应力结果，还能对材料进行剥层，获得沿深度方向的残余应力。
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MTS Landmark 低周疲劳试验机为液压伺服试验机，具有极高的稳定性。0.5级的接触式引伸计保证了试验的精度。试验机配备了电阻式高温炉，可在400℃到900℃下开展试验。设备配备了MTS 793软件和MPE软件，可实现满足国标和美标的各种疲劳试验。MPE软件提供了强大的可编程能力，使得设备可开展多种波形的疲劳或蠕变-疲劳测试。可开展三点弯试验。
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RDL-50高温电子蠕变试验机采用德国DOLI公司原装进口的EDC-222控制器，软件系统采用CreepTest试验软件。设备主机刚度大。蠕变专用负荷轮辐式传感器，抗侧向能力强，并采用温度补偿技术，提高了试验机长时工作的可靠性。控制器具有独特的动态校准功能;防止漂移，保证长时试验的负荷测量及控制精度。外置控制器可脱离计算机独立完成试验。温度控制系统采用可控硅移向触发方式控温，延长大气炉寿命，控温精度高。设备可依据已设定的参数条件，试验过程中自动执行加温、保温、加载、数据记录等操作;判定试验结束后自动执行降温、卸载、停止数据
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德国Zwick公司的Kappa 50LA高温机械式蠕变试验机是目前世界最先进设备，用于金属材料的高温蠕变持久性能测试。设备采用砝码式杠杆加载，闭环控制，加载平稳且无震动，以保证试验数据的可靠性。设备结构设计合理，具有足够的静态、动态和热态刚度，采用先进技术以保证系统具有较高的精度。设备的引伸计部分和控制系统稳定可靠、耐用。设备可依据已设定的参数条件，试验过程中自动执行加温、保温、加载、数据记录等操作;判定试验结束后自动执行降温、卸载、停止数据记录等操作。
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材料的热物理性质以及最终产品的导热优化在各种工业应用领域变得越来越重要。经过几十年的发展，在测量各种固体、粉末和液体热导率和热扩散系数中闪射法已经成为最常用的测量方法。Linseis LFA 1000激光导热系数测试仪采用模块化设计的最精密的热扩散系数，热导率和比热的测量仪器。可同时测量6个样品。可以选用多种不同的样品架，适用于固体，液体，熔体和炉渣。紧凑的设计使得硬件和电子元件分离，安装一个外罩后可以适应于核应用。采用自主设计的样品池，实现了液体样品导热系数/热扩散系数的测量。
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石墨中水分含量测试设备：性能指标：分析天平：检定精度：0.001g;测量范围：0-120g；电热恒温鼓风干燥箱：温度波动 ± 1 ℃;控温范围 ：50-300℃；
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石墨中体积密度含量测试设备：分别采用天平和外径千分尺测量烘干后石墨样品的质量和体积;根据体积密度公式计算得出石墨的体积密度。
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STA449F3可同时进行热重分析(TG)和差示扫描量热分析(DSC)，拥有最高的灵敏度与最佳的重复性，用于反应/转变温度与热焓，以及比热的测量。STA449F3与气体分析系统QMS 403 Aёolos ®质谱仪联用，使用热质联用技术，在同一次测量中除检测样品的重量变化与热效应之外，还可同时对逸出气体进行鉴别和定量分析。
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红外光谱对样品的适用性相当广泛，固态、液态或气态样品都能应用，无机、有机、高分子化合物都可检测。此外，红外光谱还具有测试迅速，操作方便，重复性好，灵敏度高，试样用量少，仪器结构简单等特点，因此，它已成为现代结构化学和分析化学最常用和不可缺少的工具。Frontier是PE公司一款高端红外光谱仪，使用该仪器不仅可以获得中红外光谱，还可以获得近红外光谱，辅以ART附件，可以实现固体样品的快速测定，免除了先前通过溴化钾等压片的繁琐步骤。另外，通过我们自己设计的加热炉和样品池，实现了高达600℃温度液态样品的检测。
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X射线衍射仪主要测试功能包括X射线粉末衍射、掠入射衍射及高温(~1200℃)条件下的X射线衍射，能够提供粉末、块状、液态的多晶样品的常规物相分析和半定量分析，晶胞参数的测定、修正、未知多晶样品的X射线衍射指标化、晶粒尺寸和结晶度测定。还可对材料的残余应力、织构及薄膜反射率进行测试和分析。配备的LynxEye XE阵列探测器共由192个子探测器阵列组成，具有优异的分辨率及信噪比;探测效率是普通闪烁探测器的10倍以上，普通样品可在7分钟左右测试完成;具有优异的能量分辨率，无需单色器，即可有效去除含铁样品的荧光。
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飞行时间——二次离子质谱仪(TOF-SIMS)采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入被分析样品，把动能传递给固体原子，通过层叠碰撞，引起中性粒子和带正负电荷的二次离子发生溅射，再通过测量不同二次离子的飞行时间测量它们的质量/荷质比，对被轰击的样品的表面和内部元素分布特征进行分析。二次离子质谱可以分析包括氢在内的全部元素，并能给出同位素的信息、分析化合物组分和分子构成，灵敏度好、质量分辨率高、可测量的分子量范围大
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电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线，对特征性X射线进行分光和强度测定，得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器(WDS)，与能量色散型X 射线分光器(EDS)相比，具有高分辨率的特点。本实验室装备有日本岛津公司生产的EPMA-1720电子探针显微分析仪，配备4道波谱仪，同时配备AZtec X-Max 80牛津能谱仪，可对试样进行微小区域成分分析，可对5B～92U范围的元素进行定性和定量分析。
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SPECTROMAXx的直读光谱仪的一个显著特点是用于测定金属行业要分析的化学元素，包括：碳 ( C )，磷 ( P )，硫 ( S ),特别是能实现氮 ( N )元素的分析。配有完备的工作曲线校正模块，具备同时进行十种不同基体分析的能力，如：Fe，AI，Cu，Ni，Co，Ti，Mg，Zn，Pb，Sn等。覆盖了全元素分析范围，可根据具体需要分析相应的元素。SPECTROMAXx应用范围非常广泛，适合压铸、熔俦，钢铁或有色金属行业的炉前金属分析要求，进、出厂材料检验经及汽车、机械制造等行业的金属材料分析。
Nu AttoM 是高分辨率等离子体质谱仪，分辨率最大到10000以上，且连续可调，从而保持最大的灵敏度，很好的分离干扰因素。Nu AttoM 采用了快速扫描技术，克服了常规高分辨率ICP-MS扫描速度慢的缺点，非常适合和激光烧蚀系统(LA)连接使用进行原位同位素研究，可提高同位素比值的精度。真空系统稳定可靠，背景超低。
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Spectra Arcos不同于传统的ICP光谱仪，采用帕邢-龙格CCD光学系统，可获得8.5pm的分辨率;采用专利的远紫外区UV-Plus光学系统，光室无须吹扫或真空，开机即可使用;采用带陶瓷功率管的新型自激式固态发生器和电源，高光通量的真空紫外光室波长达130nm，数据读出系统的动态范围达8个数量级，瞬间测量频率达10Hz;专利的智能逻辑校正(ICAL)系统可持续监控仪器的工作状况并自动校准，确保仪器在最佳状态下运行;可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素。
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利用SPM系统，可综合采用PIXE、PIGE、ERD、RBS等离子束分析方法，实现多种元素成份分析;可测定微区元素分布。可以用于材料、生物医学、环境、地质样品的多种微量化学元素成份和微区结构的无损分析。
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该分析系统是一个集成了水分析仪(DF745)、氧分析仪(DF310)与气路切换盘(标气、零级纯化气、样品气)、数据记录仪等辅助测量配件的有机体。DF745微量水分析仪基于朗伯-比尔定律，采用可调谐二极管激光吸收光谱法可检测0-20ppm范围内惰性气体中的水含量，其检测限可达到2ppb。DF310E采用非消耗性的库伦电化学传感器，可检测0-100ppm范围内惰性气体中氧含量，其检测限可达到50ppb。
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