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本发明实施方式涉及电梯故障检测领域，公开了一种封星接触器电气控制电路和封星接触器失效检测方法。本发明中，封星接触器电气控制电路包括变频器16、永磁同步曳引机11、封星接触器10以及封星失效检测线路4。封星失效检测线路4可以用于检测封星接触器10中的各封星线路、限流元器件3、电源2分别与下桥臂13、14、15是否形成正常回路，并在检测到不能形成正常回路的情况下，确定非正常回路中封星接触器10和所述永磁同步曳引机11之间的封星线路存在断路，继而判定封星接触器10失效。在本发明提供的封星接触器电气控制电路的基础上，可以实现安全、高效的“封星线路失效”静态检测。
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一种充电电池失效状态检测仪，所述充电电池失效状态检测仪包括电源模块、主处理器模块、信号处理模块、电压检测模块、电流放电模块、显示模块，所述显示模块、电压检测模块、电源模块及信号处理模块分别与所述主处理器模块连接，所述信号处理模块还分别与所述电流放电模块、电压检测模块连接；所述主处理器模块为一单片机；所述充电电池失效状态检测仪还包括一放置电池的容置盒，充电电池放置在容置盒内，所述电流放电模块及电压检测模块均与所述容置盒连接；所述显示装置包括三个红色指示灯及一绿色指示灯。本实用新型通过测量充电电池内阻，实现了对充电电池是否失效快速、准确的判断，弥补了市场同类产品的不足。
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本发明提供了一种检测太阳能电池失效的方法,其首先由太阳能电源控制模块中的微处理器按照预先设定的时间间隔读取电压检测电路检测到的每一太阳能电池两端开路电压,并逐一与太阳能电池电压上限值和下限值比较,根据比较结果判断太阳能电池是否部分失效还是全部失效。利用本发明提供的方法,不需要在太阳能电池板上安装任何附加硬件,仅通过太阳能电源控制模块内增加软件即可进行投切式太阳能电池组失效检测,极大地降低系统硬件建设和维护的成本。
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本发明公开了一种互连线失效检测方法,包括,将至少两个以上具有相同互连线规模的互连线单元串接起来构成失效探测电路;向失效探测电路输入测试电流,并测量失效探测电路两端的电压;如果所测得的电压大于或等于设定电压值时,则失效探测电路中出现互连线失效;将出现互连线失效的失效探测电路的输入与输出相连构成惠斯通电桥;向惠斯通电桥输入电流,测量惠斯通电桥的中点上的电流方向,并根据电流方向来定位失效互连线的位置。本发明互连线失效检测方法不但能够快速检测到互连线失效的现象,还能够快速定位出现失效的互连线位置。
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本实用新型的一个目的在于提供一种轴失效检测系统，能够有效检测涡轮发动机中的轴失效事件。本实用新型的另一个目的在于提供一种涡轮发动机。为实现前述一个目的的轴失效检测系统，用于检测涡轮发动机中的轴失效事件，涡轮发动机包括静子单元以及转子单元。轴失效检测系统包括至少一个检测单元以及接收单元，检测单元用于检测并发送碰撞信号，接收单元用于接收检测单元发送的碰撞信号，其中，至少一个检测单元设置于静子单元中，静子单元与转子单元之间的轴向距离最小的位置。
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本发明提出了一种快速检测冷却液失效程度的方法和装置，基于冷却液失效的本质的研究，对比于现有的一些检测冷却液失效的设备，提出了一种从冷却液失效本质出发检测冷却液失效程度的方法，并以此为原理设计了一套检测冷却液失效程度的装置。该方法能比屏蔽环境因素对检测结果的影响，快速准确的检测出冷却液失效程度。
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本发明涉及一种旋转刀具失效状态在机监测系统及其检测方法。该监测系统包括：检测仪、数据处理控制器、刀具数据服务器以及霍尔电流传感器；根据刀具图像序列确定刀具直径和刀具长度，根据该刀具直径和刀具长度确定刀具磨损状态和破损状态；利用霍尔电流传感器获取主轴电流信号，并根据该主轴电流信号确定刀具的崩刃状态和折断状态。采用本发明能够实现了一个高效、灵敏、覆盖加工全过程的通用型刀具失效状态在机实时监测系统，帮助避免刀具失效造成的零件报废，提高刀具利用率，降低加工成本。
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本实用新型公开了一种防测距轮失效的轨道走行距离检测装置，包括检测装置本体（11）、移动距离运算控制器（14）、测距轮（12）、旋转编码器（16）和水平度检测仪（15）；检测装置本体通过轴销与轨道移动设备（2）铰接，测距轮通过测距轮转轴（13）安装在检测装置本体上，测距轮与轨道（3）滚动接触，旋转编码器安装在测距轮转轴的一端处，水平度检测仪固定在检测装置本体上，水平度检测仪与移动距离运算控制器电连接；移动距离运算控制器与轨道移动设备的控制系统通信连接。本实用新型的轨道走行距离检测装置能及时发现自身工作位置的异常，避免了因错误的测距数据导致的轨道移动设备误动作所引发的生产事故和设备事故。
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本发明涉及一种失效运算放大器表面态缺陷的检测方法，包括以下步骤：S1：分别对正常运算放大器和失效运算放大器加电，获取两个运算放大器均处于正常工作状态下的端口间的初始漏电流值；S2：对两个运算放大器持续加电，判断两个运算放大器端口间的漏电流值的变化，若正常运算放大器端口间的漏电流值无明显变化，失效运算放大器端口间的漏电流值逐渐增加，则执行S3；S3：对失效运算放大器进行高温贮存，若失效运算放大器端口间的漏电流值恢复到初始漏电流值，执行S4；S4：定位并基于失效运算放大器中的漏电单元，分析并确定运算放大器的失效是否由表面态缺陷所致。与现有技术相比，本发明能够准确定位运算放大器的失效是否由于表面态缺陷所致。
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本实用新型公开了一种阳离子交换器失效监测装置，其设于阳离子交换器内，该阳离子交换器包括一树脂层，树脂层下方设有产水口，其中阳离子交换器失效监测装置包括一测量回路，该测量回路包括设置于树脂层的第一测量回路以及设置于阳离子交换器产水口处的第二回路，该第一、第二测量回路上均设有电导测量装置，第一、第二回路之间设有测量对比装置；本实用新型的有益效果在于更快速、有效的监督出终点，且在检测出失效时距离失效终点有一定程度的提前量，可以保证产水水质；相对于常用的钠离子分析仪表节约较多成本，且操作方便，有利于生产运行维护，并且可以应用于各种规格类型的阳离子交换器，具有很强的实用性。
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本发明提供了一种栅氧层缺陷检测方法及器件失效定位方法，在半导体衬底上形成栅氧层之后包括：以栅氧层为阻挡层对半导体衬底进行湿法刻蚀工艺；湿法刻蚀工艺所采用的刻蚀药液对半导体衬底的刻蚀速率大于对栅氧层的刻蚀速率；检测半导体衬底受到刻蚀药液的腐蚀所产生的损失；基于半导体衬底的损失来分析栅氧层的缺陷。通过检测出半导体衬底的损耗缺陷来分析栅氧层的缺陷，实现了对栅氧层缺陷和器件漏电的准确和实时监测，及时发现漏电问题，克服了现有的发现缺陷问题滞后以及难以检测的问题，并且节约了时间和成本。
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本发明公开了一种手机自动拨号的失效机理的检测方法,采用标准规范的以下几个步骤:烘烤、失效点定位物理隔离、失效点定位电学分析和金相切片分析,能很快找到故障点,以便确定故障责任方和以此为生产技改依据,避免类似故障再次发生。
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本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于测试载具板的蓄能电容失效检测方法。具体测试方法如下：S1：测试载具板与DPS测试电路连接；S2：将测试载具板处于空载状态下；S3：测试载具板开始运行；S4：预估出蓄能电容的目标电容值C；S5：读取恒定输出电压Vdut及钳制电流Iclamp；S6：计算测试时间t；S7：设置DPS测试电路的工作参数；S8：触发DPS测试电路的ForceV模式；S9：计算出实测蓄能电容的电容值C实测；S10：根据蓄能电容的电容值C实测的数据，判断出蓄能电容的失效情况。同现有技术相比，利用自动测试机的现有功能就实现载具电路板上蓄能电容失效的检测，精准得知载具电路板上蓄能电容的失效情况，并及时处理，确保集成电路芯片测试精准度。
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本实用新型公开了一种强碱阴离子交换器失效检测装置，其设于一阴离子交换器上，该阴离子交换器内设有一树脂层，其中强碱阴离子交换器失效检测装置包括一检测回路，该检测回路包括设于树脂层上的电导测量装置，该电导测量装置与树脂层之间设有阀门；本实用新型的有益效果在于可以更有效的监督出终点，在测量点电导出现明显升高时，即可判断失效，并保留有一定程度的提前量，可以保证产水水质；省去了现有技术中的二氧化硅分析仪表，有效地节约了成本，且操作方便，省去了二氧化硅分析仪表操作繁琐和日常维护的工作量；应用范围广泛，可以应用于各种规格类型的阴离子交换器。
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本发明公开了一种具有智能识别功能的分析物检测装置，包括：发射器；传感器结构，传感器结构包括传感器基座和具有第一参数的传感器；底座，传感器结构设置于底座上，发射器安装至底座上；设置于底座、传感器基座或者发射器上的物理部件，物理部件具有第二参数，第二参数与第一参数相对应；和用于检测第二参数的检测电路，检测电路将第二参数传输至发射器，使发射器自动识别传感器的第一参数，提高了检测装置的智能化程度，增强用户体验。
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本发明公开了一种微型分析物检测装置，包括：底壳，底壳底面设置有安装孔，安装孔边缘设置有第一卡合部；探头结构，探头结构包括探头和探头基座，探头包括信号输出端和检测端，探头基座边缘设置有第二卡合部，探头基座边缘的轮廓形状与安装孔边缘的轮廓形状相匹配，第一卡合部与第二卡合部互相卡合，安装孔边缘与探头基座边缘相互嵌合；和发射器，发射器包括发射器壳体和设置于发射器壳体内的电子器件，电子器件设置有电连接区，电连接区与信号输出端电连接。本发明的微型分析物检测装置的发射器厚度较小，减小的检测装置整体的厚度尺寸，增强了用户体验。
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本发明公开了一种高集成型分析物检测系统，包括：底壳；探头结构，探头结构与底壳互相卡合，探头结构包括探头和探头基座，探头包括信号输出端和检测端，信号输出端向靠近探头基座的顶部表面的方向弯曲或弯折，信号输出端表面至少设置两个互相绝缘的第一电连接区；和发射器，发射器与底壳互相卡合，发射器设置有与第一电连接区相对应且互相绝缘的第二电连接区，每个第二电连接区与对应的第一电连接区电连接。内部紧凑的结构使检测系统体积更小，增强了用户体验。
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本发明公开了一种高集成型智能分析物检测装置，包括：底壳，底壳上设置有第一连接区；发射器，发射器包括发射器壳体和内部电路，内部电路设置有至少两个第二电连接端和至少两个彼此绝缘且与第一连接区相对应的第一电连接端，至少两个第一电连接端电导通，发射器产生信号；传感器，传感器包括信号输出端和检测端，信号输出端设置至少两个与第二电连接端相对应的第三电连接端；和第二连接区，第二连接区包括至少两个导电区和至少一个绝缘区，相邻两个导电区之间设置有绝缘区。这种设计提高了检测装置内部结构的集成度，进一步缩小检测装置的体积，增强用户体验。
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本发明公开了一种分析物检测装置的安装单元，包括：辅助安装结构，辅助安装结构设置于安装单元后端；设置于靠近安装单元前端的传感器单元，传感器单元包括基座和设置于基座上的传感器，传感器包括体内部分和体外部分，体外部分向基座顶部弯曲或弯折，且体外部分处于工作位置；触发按钮，在启动前，触发按钮阻止辅助安装结构在安装方向上的运动；和设置于安装单元前端的第一卡合部。在整个安装过程中，传感器体外部分的形状不发生变化，避免其表面的电极或者电极引线断裂，确保正常检测，提高分析物检测装置的可靠性。
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本发明公开了一种高集成型分析物检测器件，包括：底壳；传感器，传感器装配于底壳上，传感器包括信号输出端和检测端，信号输出端设置至少两个第一电连接区；发射器，发射器与底壳互相卡合，发射器设置有至少两个与第一电连接区相对应的第二电连接区；和连接件，连接件设置于第一电连接区和第二电连接区之间，连接件包括至少两个导电区和至少一个绝缘区，相邻两个导电区之间设置有绝缘区，不同第一电连接区或者不同第二电连接区分别与不同导电区电连接。这种设计提高了检测器件内部结构的集成度，进一步缩小检测器件的体积，增强用户体验。
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一种半导体器件电性失效的检测方法，包括：步骤S1：灰阶收集；a、以所述电子束缺陷扫描仪能够扫描的最小区域作为扫描单元区域，通过程式设定为缺陷而被检测，并拍摄电子显微镜图谱；b、以半导体器件作为扫描对象，并在不同条件下扫描，进行灰阶分析；步骤S2：扫描条件筛选，进行电性测试；获得相似度数值；定义最优扫描条件；步骤S3：进行定点灰阶分析，获得电性有效的灰阶收集数据区间；步骤S4：电性失效区域预报。本发明通过电子束缺陷扫描仪所获得的灰阶收集数据与所述电性测试数据进行比较，可有效的预报电性失效区域和电性有效区域，为监测离子注入工艺优劣提供依据，并为即将采取的改善措施提供技术支持，为缩短半导体器件的研发周期提供有力的保障。
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本申请提供了一种高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法。该高电阻结构的原位温度检测装置包括：二极管，具有正极端子和负极端子；金属导线，与二极管的负极端子相连接。二极管控制电流的走向，金属导线用来感应高电阻结构辐射出的热量，利用金属导线的温度与电阻之间的特定关系，即金属导线的电阻值与电阻温度系数的乘积为常数，即可通过本申请的原位温度检测装置来检测高电阻结构的产生焦耳热后的温度值，进而得到准确的失效检测结果。
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本发明公开了基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路及检测方法，整个方案中恒压电源主要功能是给单片机、MBI5039芯片以及发光二极管提供供电电源，MBI5039芯片完成发光二极管工作电流的恒流控制、增益控制、发光二极管开路或短路失效侦测及信息回报；单片机给MBI5039芯片提供控制逻辑信号和接收MBI5039芯片的失效回报信号并送显示单元进行显示。本方案能够在线检测正常工作过程中发光二极管阵列中发光二极管随机处于开路或短路两种失效状态，并进行故障信息提示。
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本发明公开了一种高低压端绝缘失效检测装置，包括：连接在高压端的电源正极与参考地之间的第一分压电路，其包括依次串联的第一电阻、开关管和第二电阻；连接在参考地与高压端的电源负极之间的第二分压电路，其包括依次串联的第三电阻和第四电阻；加法电路，加法电路的一个输入端与第一分压电路的输出端和第二分压电路的输出端电连接，另一个输入端与一参考电位电连接；微处理器，该微处理器的信号输入端与加法电路的输出端电连接，该微处理器的控制输出端与开关管的控制端电连接。本发明还公开了一种利用上述检测装置进行绝缘失效检测的方法。本发明能够检测出正高压端和负高压端的绝缘同时失效的情况。
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本发明公开了一种半导体器件主位线失效的检测方法和检测系统。该检测方法包括:选取至少2条字线,分别位于存储阵列不同的物理扇区;逐一测量所选字线与每一局部位线交叉位置处存储单元的工作电流;若测量工作电流大于基准工作电流,则判定该存储单元为异常存储单元;反之,则判定该存储单元为正常存储单元;对应每一局部位线,如果在所选字线上的存储单元均为异常存储单元,则判定控制该局部位线的主位线失效;如果在所选字线上的存储单元存在正常存储单元,则说明控制该局部位线的主位线没有失效。本发明提供的检测方法和检测系统通过对工作电流的测试实现对主位线失效的监控,既可应用于CP之前、之后,又可插入CP中,减少CP时间。
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本发明公开了一种发光二极管失效检测电路及检测方法，该检测电路中若干稳压二极管分别并联在LED阵列中每个LED的两端，恒压电源给LED阵列供电，恒流控制电路控制连接LED阵列中每个LED串的两端，实时检测每个LED串中每个LED的电压降。检测方法包括如下步骤：（1）通过检测电路实时检测LED阵列中每个LED串中的每颗LED的工作状态；（2）检测电路中的三极管上的集电极和发射极两端的电压值将根据LED串中每颗LED的失效情况发生变而进行变化；（3）检测三极管上的集电极和发射极两端的电压值的变化情况来确定LED的失效状态。本发明可以实现正常工作过程中LED阵列中的LED随机处于开路或短路两种失效状态时的在线检测和故障信息提示。
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本发明属于电子封装领域,涉及一种用于检测板级组装球栅阵列封装器件中焊球失效的电子散斑干涉测试系统及其检测方法。该系统包括:检测样品的固定与加载部分,电子散斑干涉的离面位移测试光路部分,和计算机数据分析处理部分。离面位移测试光路部分用于形成检测样品在机械载荷下变形后的干涉条纹,即表面微位移信息。计算机数据处理部分,用于采集条纹、进行相位解包和位移计算、定位失效区域。通过比较对标准品与样品的离面位移条纹确定样品是否发生焊球失效。该系统组成元件简单,测量过程不会损坏器件,检测方法简便、工艺整合性好,可实现流水线上的实时测量,从而大大提高板级组装球栅阵列封装器件中焊球失效的检测效率。
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本发明提供一种预充电继电器失效的检测方法及检测电路，所述预充电继电器失效的检测方法包括：获取预充电完成标志；基于所述预充电完成标志，对整流输出的母线电压进行采样，生成采样电压；分析所述采样电压随时间的变化情况，生成采样分析结果；响应于所述采样分析结果为所述采样电压发生突变，判定预充电继电器失效；所述预充电继电器用于将预充电电阻进行旁路，所述预充电电阻用于限制储能电解电容的预充电电流。本发明可以利用母线电压随时间的变化检测预充电继电器的失效状态。
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本申请提供一种半导体失效检测结构及其检测方法，应用于半导体器件失效检测过程，半导体失效检测方法包括：在待检测晶圆预设范围内设置参考层；获取设置参考层对应待检测晶圆的晶圆图像；将晶圆图像与检测标准图像进行对比，根据参考层得到待检测晶圆中失效的位置信息及分析结果。本说明书实施例设置类似金属材料的参考层，该参考层为多个最小单元规则排布的参考块，尤其使参考块构成的参考层呈米型状或T型状排布，优化测试结构周边和上下层dummy结构的设计，在不影响各种不同功能的测试结构的基础上，不仅有助于形成更加清晰高对比度的测试结构图形影像，而且大大提升失效分析定位的准确性和物性失效分析的成功率和效率。
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