本发明公开了一种高集成型分析物检测系统,包括:底壳;探头结构,探头结构与底壳互相卡合,探头结构包括探头和探头基座,探头包括信号输出端和检测端,信号输出端向靠近探头基座的顶部表面的方向弯曲或弯折,信号输出端表面至少设置两个互相绝缘的第一电连接区;和发射器,发射器与底壳互相卡合,发射器设置有与第一电连接区相对应且互相绝缘的第二电连接区,每个第二电连接区与对应的第一电连接区电连接。内部紧凑的结构使检测系统体积更小,增强了用户体验。
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