合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法

高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法

796   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本申请提供了一种高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法。该高电阻结构的原位温度检测装置包括:二极管,具有正极端子和负极端子;金属导线,与二极管的负极端子相连接。二极管控制电流的走向,金属导线用来感应高电阻结构辐射出的热量,利用金属导线的温度与电阻之间的特定关系,即金属导线的电阻值与电阻温度系数的乘积为常数,即可通过本申请的原位温度检测装置来检测高电阻结构的产生焦耳热后的温度值,进而得到准确的失效检测结果。
声明:
“高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记