其他其他有色金属分析检测技术理论与应用

燃料电池堆中的膜和电极失效的检测方法 711     

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本发明涉及燃料电池堆中的膜和电极失效的检测方法。一种确定燃料电池堆中的燃料电池内的膜失效的方法。所述方法包括:测量所述燃料电池堆中每个燃料电池的电压,从所述燃料电池堆内的所有所述燃料电池的电池电压来计算平均电池电压,以及从所述燃料电池堆内的所有所述燃料电池的电池电压中识别出最小电池电压。之后所述方法确定绝对δ电压值,该绝对δ电压值是采样周期内多个采样点处所述燃料电池的所述平均电池电压和所述燃料电池的所述最小电池电压之间的差值。针对低电流密度被滤波的在多个采样周期内确定的多个绝对δ电压值被用于确定是否存在膜失效,并且通过针对高电流密度滤波来确定是否存在电极失效。

检测半导体晶片上局部失效的测试方法 1169     

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本发明公开了一种用于测试包括半导体芯片的晶片的方法。与晶片上过滤失效半导体芯片的空间相关组相关地确定晶片是否有缺陷,其中所述空间相关组对应于晶片上的局部失效且用来计算缺陷指数值。

用于非对称隔离监测器失效检测的装置和方法 914     

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本申请涉及用于非对称隔离监测器失效检测的装置和方法。在至少一个实施例中，提供了用于监测车辆中的隔离电阻的装置。该装置包括至少一个控制器，其被配置为对多个开关中的任意数量的开关执行激活和去激活中的至少一种，并对高压系统执行多次测量。该至少一个控制器还被配置为基于多次测量来确定高压系统和低压系统之间的隔离电阻，并至少基于该隔离电阻来确定正支路和低压系统的接地之间的第一电阻。该至少一个控制器还被配置为至少基于第一电阻来确定高压系统的隔离电阻是表现出对称失效还是非对称失效。

聚合物挤出组件和用于检测聚合物挤出组件中的切割机刀片失效的方法 896     

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本发明涉及聚合物挤出组件和用于检测聚合物挤出组件中的切割机刀片失效的方法，所述组件包括：和挤出机板、可旋转切割机组件、结构化光、检测机构、重建机构和能够分析所述图像的分析机构。本发明允许口模板和刀具组两者的在线情况监测。

切换失效的检测方法 1148     

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本发明公开一种切换失效的检测方法,应用在具有BMC及IPMI的系统,该方法包括:在该系统开机且供电至BMC后,该BMC执行FRB3机制,且依据BMC读取到的BIOS程序代码而取消FRB3机制,并同时启动计时处理;以及在计时达到一预定时间值时,判断BMC是否已启动FRB2机制,若未启动,则建立失效记录并予以储存。本发明提出的切换失效的检测方法主要解决FRB2及FRB3两种错误弹回机制FRB3与FRB2切换发生当机的问题,通过计时处理技术可在当机时取得当机信息并建立一笔失效记录,确保当机时系统人员能及时排除当机状况,增加了系统的稳定性、增加当机后分析解决问题的能力及避免系统持续处于当机状态。

用于检测弹簧和稳定杆相关劣化和失效的车辆检测和隔离系统 731     

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用于检测弹簧和稳定杆相关劣化和失效的车辆检测和隔离系统。用于测试车辆的悬架系统的系统包括惯性测量模块和悬架故障检测模块。惯性测量模块被配置为当车辆不移动时，从用于悬架系统的不同状态的一个或多个惯性测量传感器收集传感器数据。传感器数据指示当悬架系统处于不同状态中的每个状态时车辆的惯性状态。悬架故障检测模块被配置为基于传感器数据和一组阈值，确定悬架系统是否存在故障，隔离并识别故障，并基于故障的检测来执行对策。

具有失效检测器的绝缘状态检测单元 684     

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一种绝缘状态检测单元构造成：通过利用根据可变值的失效判定阈值执行对于开关的失效检测，所述开关将快速电容器连接至用于获取充电电压的取样保持电路和地电位。也就是说，绝缘状态检测单元构造成：当快速电容器被充以与DC电源的输出电压对应的电荷量时，通过把被充以与快速电容器的充电电压相对应的电荷量的取样保持电路的电容器的充电电压作为基准来确定失效判定阈值。

用于在失效操作之后检测高速缓冲存储器中的有效指示符中的位翻转的高速缓冲存储器错误检测电路，以及相关方法和基于处理器的系统 772     

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本文所揭示的方面包含高速缓冲存储器错误检测电路，用于在失效操作之后检测高速缓冲存储器中的有效指示符(例如有效位)中的位翻转。还揭示相关方法和基于处理器的系统。如果高速缓存命中是因失效操作之后对高速缓存条目的存取而产生，那么所述高速缓存条目的有效指示符中已发生位翻转。这是因为在所述高速缓存条目的所述失效操作之后，所述有效指示符应指示无效状态，而非有效状态。因此，高速缓冲存储器错误检测电路经配置以确定是否对所述高速缓存条目执行失效操作。因此，所述高速缓冲存储器错误检测电路可致使产生所存取高速缓存条目的高速缓冲存储器未中或错误，即使用于所述高速缓存条目的有效指示符因所述位翻转而指示有效状态也是如此。

用于检测熔断器失效的方法和装置 839     

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用于检测保护熔断器(5)的熔断器失效的方法和装置，所述保护熔断器(5)用于保护相关的负载(7)免受过电流和/或过载的影响，所述方法包括以下步骤：通过电流传感器元件(2)测量(SA)在到所述负载(7)的电流路径中流过保护熔断器(5)的电流Im；确定(SB)一个或多个失效指示器FI，每个失效指示器FI适于基于测量到的电流Im来指示保护熔断器(5)的可能失效；以及如果所确定的至少一个失效指示器FI指示保护熔断器(5)的可能失效并且如果由电流传感器元件(2)测量的电流Im已经停止(Im＝0)流过所述保护熔断器(5)或低于预定的电流阈值(Im

检测燃气涡轮机中预定状态的方法和用于燃气涡轮机的失效检测系统 728     

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本发明涉及一种检测燃气涡轮机（10）中预定状态的方法，并涉及一种用于燃气涡轮机（10）的失效检测系统。本发明分析来自燃气涡轮机（10）的燃烧系统（22）内部或外部/下游的不同位置（42，32）的瞬时温度读数，这是通过计算预定的时间周期内每个测量位置（42，32）的变化量进行的（130）。选择一个测量位置的变化量，然后将其与阈值进行比较，该阈值基于其它测量位置的其它变化量中的至少两个变化量（140，150）。如果所述一个选择的变化量变得大于一阈值，检测到出现了预定状态（170，180）。

用于可靠性试验的速度老化能力的带有自我试验的成品率增强的失效分析载体 1120     

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一种用于评估集成电路的制造工艺的试验载体,该载体用所设置的库驱动元件的更高效率的空间布局产生实施许多互连的电路,这些互连可以在制造工艺的最小设计参数下设计。这些元件可以设置成作为环振荡器工作,提高允许更高的频率电路试验的试验模块的有效电路频率,以及缩短用于进行寿命循环试验的时间。明显地对元件进行标记,并结合电隔离错误易发的电路节段使缺陷的识别的效率更高许多试验方法的可获得使根致失效的定位更快捷,进一步改进了制造工艺。

关于分析半导体器件失效的剥层处理方法 797     

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一种分析半导体器件多晶硅接点断开失效和接点偏离的剥层处理方法,它包括下列步骤:除掉包含存储单元的晶片上的钝化层和双金属层;利用等离子干腐蚀方法,选择地除掉形成电容器的多晶硅和形成位线的多晶硅的上层部分;利用含HF的腐蚀剂进行湿腐蚀,以便露出场氧化层,同时留下位于晶片上的形成位线的多晶硅和形成电容器存储节点的多晶硅的下部。

基于机器学习分析图像伪影和成像系统失效的方法和系统 1043     

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本发明题为“基于机器学习分析图像伪影和成像系统失效的方法和系统”。本发明公开了用于解决医疗成像设备的误动作的方法和系统。该方法包括通过使用已训练的机器学习模型对由医疗成像设备获取的医疗图像中的图像伪影的类型进行分类。该方法还包括分析与医疗图像的获取相关联的系统数据，以识别可能对该类型的图像伪影有贡献的一个或多个系统参数；以及基于所识别的一个或多个系统参数来提供用于解决图像伪影的动作。

半导体器件中失效分析的结构和方法 1142     

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本发明公开了一种半导体失效分析的分析结构和方法。所述结构包括:多个分析场,设置于半导体器件的预定的区域上;半导体晶体管,设置于每个所述分析场中,所述半导体晶体管设置为阵列;字线,设置于所述多个分析场的每个上,在第一方向将所述半导体晶体管彼此连接;和位线结构,在所述多个分析场的每个上,在第二方向将所述半导体晶体管彼此连接,其中,所述位线结构在所述多个分析场的每个中配置为不同的图案。

数据失效的聚合分析和补救 830     

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本公开涉及这样的处理操作：其评估数据失效的影响，并基于数据失效对应用/服务的操作的影响的评估结果来管理数据失效的补救。可以聚合和分析所识别的数据失效。在一个非限制性示例中，在时间计数上聚合数据失效类型以识别近期的数据失效。数据失效的所聚合类型的分析包括评估在时间计数内识别的数据失效类型的强度。可以在时间计数期间基于识别对通过应用/服务的内容呈现的影响的强度分析来对识别的数据失效进行排列。可以基于排列处理来管理数据失效的补救。例如，可以对一个或多个数据失效进行优先处理以进行补救处理以纠正与错误相关联的底层数据结构。

用于操作活塞式发动机的方法和用于检测汽缸盖垫片失效的布置 977     

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提供了一种用于操作活塞式发动机(1)的方法，该方法包括以下步骤：监测被用于冷却所述发动机(1)的汽缸(5)的冷却液的压力；监测所述发动机(1)的曲轴的扭转振动；比较所测量的冷却液压力与预定极限值；比较所测量的扭转振动与预定极限值；以及在所测量的冷却液压力超过其预定极限值并且所测量的扭转振动超过它们的预定极限值的情况下，诊断出泄漏的汽缸盖垫片。

电压超调对介电失效/击穿的影响的分析实验估计器 911     

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本发明涉及一种电压超调对介电失效/击穿的影响的分析实验估计器。一种方法测试集成电路器件以测量电压超调状况。所述方法确定超调时间比例。所述超调时间比例是在所述集成电路器件的整个有用工作寿命期间，发生电压超调状况的时间量相对于发生正常工作状况的时间量。所述方法还确定超调失效比例。所述超调失效比例包括在所述电压超调状况期间发生的介电失效量相对于在所述正常工作状况期间发生的介电失效量。所述方法基于所述超调时间比例和所述超调失效比例计算允许的超调电压。所述方法附加地计算电压波形的平均超调电压并将所述平均超调电压与所述允许的超调电压进行比较，从而确定所述平均超调电压是否超过所述允许的超调电压。

用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统 697     

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一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统，其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。

使用聚焦离子束于供物性失效分析的多层半导体中曝露所欲层的方法 952     

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一种针对包含多个晶粒的半导体晶片或封装品的缺陷检测方法,这种方法包括对半导体晶片或封装品进行电性失效分析;确认该多个晶粒的至少一个晶粒中的缺陷;在该至少一个缺陷晶粒中确认要进行分析的目标层;以聚焦离子束设备移除已确认的缺陷晶粒的至少一上方层;以及曝露出将供物性缺陷分析的整个目标层。

存储元件的失效模式分析方法 752     

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一种存储元件的失效模式分析方法，包括：利用检测系统来扫描晶圆，以产生所述晶圆的失效图形，并利用检测程序来取得所述晶圆中的单比特位的失效数量；依据字线布局、位线布局以及有源区布局定义出单比特位的分组表；对自对准双重图案化工艺中的至少一工艺分类出核心群组与空隙群组；以及分别统计所述核心群组与所述空隙群组中的单比特位的失效数量，以产生核心失效信息与空隙失效信息。

于失效分析中观察失效区域的样品制作方法 1124     

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本发明公开一种于失效分析中观察失效区域的样品制作方法，包括以下步骤，首先，提供一芯片，将进行失效分析。其次，在该芯片周围点上保护胶固定在一小基板上，使该芯片在研磨时不会造成破损。其次，将该芯片倒置固定在一支撑基板上。最后，灌入卸取胶使该芯片能固定在一承载基板上，且在进行失效分析中在判断出失效区域后能将该芯片卸取进而确认其失效原由。本发明方法能制作于失效分析中观察失效区域的样品，以便对于特定失效区域进行后续芯片结构及失效原由确认。

漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法 849     

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一种漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法。漩涡式探针包括一针体、一连接部与一漩涡弹簧。针体的一端具有一针尖。漩涡弹簧连接针体与连接部。漩涡弹簧包含一圈以上的旋绕体，这些旋绕体彼此共平面，且这些旋绕体的轴心与针体的长轴方向正交。故，通过上述架构，漩涡式探针不致于导电接点上横向滑移，降低滑出导电接点的范围的机会，以维持探针与导电接点之间的电接品质及测试性能，以及缩小测试变数。

车辆失效分析系统、车辆失效分析设备及车辆失效分析方法 708     

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本发明涉及车辆失效分析系统、车辆失效分析设备及车辆失效分析方法。一种车辆失效分析系统(1),用于装有多个控制系统的车辆,每个控制系统由一个或多个部件形成,所述车辆失效分析系统包括:故障系统识别单元(2D),其从多个控制系统中识别故障控制系统;故障部件识别单元(3B),其根据所识别的控制系统,从一个或多个部件中识别故障部件。

直线传动式光纤切换开关装置 805     

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一种直线传动式光纤切换开关装置,有一固定座、一马达、一连接马达轴心的螺杆、两分别平行螺杆的二滑杆及一设于螺杆及二滑杆间的定位块;其中当马达转动时,螺杆同时带动定位块移动,因定位块两端滑设于两滑杆上,故定位块于移动时,可使其两端达到平衡,使定位块确实达到直线平移,如此一来,此结构使设于定位块上的光输入器有效地对正平行设于固定座一侧的光接收器,进而使光发射/接收器达到无损耗的侦测光束传送。

机床 813     

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本实用新型涉及一种机床。提供一种具有拉线的装载设备，该装载设备能够以可重复和简单的方式进行装载和卸载。提供一种具有链的运输设备，该运输设备即使在负载有重的管件或型材的情况下也能防止链下垂。提供一种运输设备，该运输设备使得能够以结构上简单的方式运输散开的管件或型材。提供一种长度求取单元，该长度求取单元具有在对待测量工件的撞击方面良好的阻尼特性。提供一种夹紧装置，该夹紧装置能够实现管件或型材的无损坏夹紧。提供一种夹紧装置，该夹紧装置使得能够监控夹紧装置的夹盘的关闭状态。提供一种机床，该机床减少了机床的装配费事并且从而减少了投入运行时的成本以及时间耗费、改进管件加工废料的运走。

热辐射传感器及其阵列和制备方法 1137     

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本发明涉及一种热辐射传感器装置，所述热辐射传感器装置从下到上依次包括：基板、底部连接电路、热电柱、顶部连接电路和热辐射吸收层，其中所述热电柱是由离子导体制成的离子热电柱。本发明还涉及制造所述热辐射传感器装置的方法以及由多个热辐射传感器装置作为传感器单元组成的热辐射传感器阵列。本发明的热辐射传感器装置和阵列可以通过简单便捷的方法制备获得，可以用于多种热辐射领域，例如热成像、夜视、无损缺陷分析、生物监测、可穿戴电子设备等。

图象编码装置及方法、译码装置及方法及数据记录媒体 867     

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本发明的图象编码装置如图1所示,它备有:将与一个图象显示区对应的由多个象素值构成的图象信号分成与由规定数量的象素构成的块对应的块,以块为单元输出构成各块的图象信号的规定数的象素值的分块器2;将位于周围象素中的未编码象素的象素值置换成根据规定的规则从上述周围象素中的已编码象素的象素值获得的模拟象素值的象素值置换装置;以及接收由与上述各块对应的多个象素值构成的图象信号,对每个块进行根据上述已编码象素的象素值及未编码象素的模拟象素值依次对该各象素值进行编码的编码处理,并输出图象编码信号的编码器16a。这样构成的图象编码装置101能无损于未编码象素和被编码象素之间的象素值的相关关系,而且能避免图象编码信号的译码困难,而将适应象素单元的编码处理和块单元的编码处理组合起来。因此能将传送错误的影响限制在块单元内,同时与单纯的块单元的编码处理相比,能提高编码效率,另外在译码侧不会导致被编码象素的预测效率的劣化、能正确地进行被编码的编码信号的译码处理。

与DC-DC转换器有关的改进 918     

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本发明涉及用于控制DC-DC转换器的方法和装置，尤其是在谷值电流模式中。DC-DC转换器(100)能运行以使得在高侧供应开关(10)接通前可截断低侧供应开关(20)。在这两个开关都为截断期间，电流环路控制(501)保持有效，且对电感器(L)电流中的变化进行仿真。一个实施方案使用电流传感器(800)用于无损电流感测，并通过在低侧开关截断的时刻保持该电流传感器的输出值(ISNS)以及加入仿真的斜波信号(VISLP)直到电感器电流达到零，来仿真电感器电流中的变化。还公开了基于最小导通时间采用跨脉冲运行模式的实施方案。本发明使得能够实现从连续导通模式到不连续导通模式和跨脉冲的无缝转变，并提供在低电流负载时有效率的转换器。

编码设备、编码方法、解码设备以及解码方法 918     

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本技术涉及能够减小正交变换处理或逆正交变换处理的计算量的编码设备和编码方法以及解码设备和解码方法。DWT单元(91)对残差信息执行计算量小于KLT的计算量的DWT。KLT单元(92-0至92-8)利用对应的帧内预测模式的KLT的基础，对作为DWT的结果而获得的残差信息的低频分量执行可分离型KLT。对作为KLT的结果获得的系数和作为DWT的结果获得的残差信息的高频分量进行无损编码。本技术可以应用于例如图像编码设备。

聚烯烃层叠微多孔膜 956     

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本发明提供一种聚烯烃层叠微多孔膜。其目的在于无损于微多孔膜的强度和开孔性地提高微多孔膜的高温下的耐破膜性，并且兼顾包含微多孔膜作为分隔件的蓄电装置的装置特性和安全性。蓄电装置用微多孔膜具有层叠结构，前述层叠结构中的至少1层包含具有1种或2种以上的官能团的聚烯烃，在前述蓄电装置用微多孔膜容纳于蓄电装置后，(1)前述官能团之间发生缩合反应，或(2)前述官能团与前述蓄电装置内部的化学物质发生反应，或(3)前述官能团与其他种类的官能团发生反应，从而形成交联结构，且用广角X射线散射测定含有前述聚烯烃的至少1层时的机械方向(MD)相对于宽度方向(TD)的取向率之比MD/TD满足1.3以上。