合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 于失效分析中观察失效区域的样品制作方法

于失效分析中观察失效区域的样品制作方法

1109   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本发明公开一种于失效分析中观察失效区域的样品制作方法,包括以下步骤,首先,提供一芯片,将进行失效分析。其次,在该芯片周围点上保护胶固定在一小基板上,使该芯片在研磨时不会造成破损。其次,将该芯片倒置固定在一支撑基板上。最后,灌入卸取胶使该芯片能固定在一承载基板上,且在进行失效分析中在判断出失效区域后能将该芯片卸取进而确认其失效原由。本发明方法能制作于失效分析中观察失效区域的样品,以便对于特定失效区域进行后续芯片结构及失效原由确认。
声明:
“于失效分析中观察失效区域的样品制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记