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于失效分析中观察失效区域的样品制作方法

1066   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本发明公开一种于失效分析中观察失效区域的样品制作方法,包括以下步骤,首先,提供一芯片,将进行失效分析。其次,在该芯片周围点上保护胶固定在一小基板上,使该芯片在研磨时不会造成破损。其次,将该芯片倒置固定在一支撑基板上。最后,灌入卸取胶使该芯片能固定在一承载基板上,且在进行失效分析中在判断出失效区域后能将该芯片卸取进而确认其失效原由。本发明方法能制作于失效分析中观察失效区域的样品,以便对于特定失效区域进行后续芯片结构及失效原由确认。
声明:
“于失效分析中观察失效区域的样品制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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