合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 存储元件的失效模式分析方法

存储元件的失效模式分析方法

686   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
一种存储元件的失效模式分析方法,包括:利用检测系统来扫描晶圆,以产生所述晶圆的失效图形,并利用检测程序来取得所述晶圆中的单比特位的失效数量;依据字线布局、位线布局以及有源区布局定义出单比特位的分组表;对自对准双重图案化工艺中的至少一工艺分类出核心群组与空隙群组;以及分别统计所述核心群组与所述空隙群组中的单比特位的失效数量,以产生核心失效信息与空隙失效信息。
声明:
“存储元件的失效模式分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记