公开了一种失效分析装置,包括:置物台,用于固定待检测
芯片;测试台,包括光源,用于对所述待检测芯片进行抓点测试,其中,所述光源产生红外脉冲激光,所述红外脉冲激光能穿透所述待检测芯片的衬底。本申请的失效分析装置,采用能穿透所述待检测芯片的衬底的红外脉冲激光作为光源,提高了正面和背面抓点的准确性,同时提高了存储层的失效点定位的准确性。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)