合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统

用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统

678   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统,其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括:执行初始采样,以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本;产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布;识别所述失效样本;执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中;以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。
声明:
“用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记