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漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法

956   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 08:59:29
一种漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法。漩涡式探针包括一针体、一连接部与一漩涡弹簧。针体的一端具有一针尖。漩涡弹簧连接针体与连接部。漩涡弹簧包含一圈以上的旋绕体,这些旋绕体彼此共平面,且这些旋绕体的轴心与针体的长轴方向正交。故,通过上述架构,漩涡式探针不致于导电接点上横向滑移,降低滑出导电接点的范围的机会,以维持探针与导电接点之间的电接品质及测试性能,以及缩小测试变数。
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“漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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