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目前在对半导体电子材料进行辐照研究时往往通过辐照箱来进行,将半导体电子材料放入辐照箱内从而对半导体电子材料进行辐照研究,但由于半导体电子材料大都是片状的,从而使半导体电子材料的上下表面和每一表面的不同位置容易出现辐照不均匀的现象,从而影响对半导体电子材料辐照效应的研究。为此,提出用于半导体电子材料辐照效应研究的装置。
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