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本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统，通过获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率；分别获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量；根据所述试验环境和目标环境的大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子；根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子可以获取到在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。获取过程简单高效，简化了大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程，从而实现对大气中子条件下电子器件单粒子效应敏感性的定量评价，解决我国目前大气中子条件下电子器件单粒子效应评价方法缺失的难题。
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本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。
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本发明涉及一种基于优化费用函数的功率变换器失效率分配方法，其先对功率变换器的结构进行分析，将功率变换器的实际拓扑抽象为复杂网络模型，依据复杂网络模型构建元件的重要度评价矩阵，从而得到功率变换器各元件的重要度；根据已有的离散失效率-费用数据进行函数拟合得各元件的失效率-费用函数，在此基础上构建改进的功率变换器的费用函数以及相关约束条件，求解该费用函数得到各元件所分得的失效率；该方法考虑了元件在功率变换器中的重要度，可以保证功率变换器达到预期失效率指标的前提下实现总体费用的优化，保障变换器的运行质量。
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本发明公开了一种超级电容器失效预警方法、系统及设备，包括：确定超级电容器的失效判定变量χ1～χN以及相对应的临界判定值ω10～ωN0，确定失效判定变量的标定值χ10～χN0；以一定的时间间隔获取超级电容器当前的失效判定变量χ1T～χNT相对于标定值χ10～χN0的比值ω1～ωN，根据ω1～ωN与ω10～ωN0的大小的比较，确定超级电容器的失效状态并进行预警，本发明通过选取了多个失效判定参数，使得判断结果更加客观有效，并且，本发明通过对各失效判定变量进行标定，并以此作为判断的基准值，避免了仅采用出厂值作为基准值带来的偏差；而在判断超级电容器是否失效时，本实施例用实测值/标定值的百分比值作为失效判据进行判断，进一步减小了测量方法和测量过程带来的误差，使得检测结果更加准确。
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本发明公开了一种软件的失效模式的识别方法及装置，涉及互联网技术领域，该方法包括：对构建软件的预设需求模型划分为软件外部接口模型、软件功能模型、软件工作状态模型及软件系统依赖关系模型；并基于上述模型分别对软件的独立功能失效模式、软件的功能组合失效模式和软件的状态转移失效模式进行分析；充分体现软件工作状态转换和多个功能组合引起的软件失效，可全方位地分析软件失效模式，具有通用性、易推广和可复制的优点，从而在软件开发过程中发现软件失效的真正原因及潜在威胁，有效促进软件研制阶段安全性设计水平的提高，增强纠正措施的针对性和有效性，提高软件产品的安全性，降低软件失效带来的设备损坏和软件全寿命周期费用。
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本发明涉及一种光伏组件失效风险判别方法，主要包括以下步骤：确定光伏组件的故障模式；专家小组分别对故障模式相关评价指标因素评价等级，根据评价结果构建故障模式的模糊评判矩阵；根据层次分析法构建相关评价指标因素的权重集；根据模糊评判矩阵和权重集计算各故障模式的综合风险评价因子；根据综合风险评价因子确定故障模式的失效风险。本发明实现了指标评价的客观化、意义化；利用模糊综合评判，引入层次分析法进行权重赋值，实现风险评价指标的量化连续性、权重化，并应用于光伏组件失效风险分析，有效改进FMECA方法量化排序不合理、重复现象，使得分析与实际更加贴合，提高光伏组件失效风险分析结果可信性。
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本发明公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建方法，包括步骤：根据元器件失效物理共性特点，按失效物理6个层次构建故障信息库，形成6个失效物理层信息的故障信息库；根据故障信息库，按失效物理6个层次及失效物理逻辑关系构建故障树，形成6个失效物理层n级事件的元器件故障树；采用机理子树转移和故障模块子树导入方式对所述元器件故障树进行简化。本发明还公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建系统，上述方法和系统建立的故障树可深入到元器件失效物理层面进行分析，以节点事件形式准确描述各失效模式的失效路径、失效机理、机理因子和影响因素，满足元器件故障树分析和机理原因分析的需求。本方法和系统适用于各类元器件故障树的构建。
本发明公开了建筑体系张弦结构中预应力索失效下的防连续倒塌设计方法，包括步骤(1)建立分析模型，获得张弦结构的初始状态及响应；步骤(2)选择具体一个预应力索做失效处理，然后对整体结构进行响应分析；步骤(3)对预应力索构件逐一做失效处理并逐一对失效后的结构进行响应分析：重复步骤(2)，以得到每个预应力索处于失效状态后的张弦结构的破坏状态及响应；步骤(4)进行张弦结构防连续倒塌设计。该方法能够有效防止在任意预应力索发生失效时张弦结构可能出现连续倒塌的情况发生，以保证张弦结构整体结构的稳定性。
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本发明提供一种封装器件的失效定位方法。封装器件的失效定位方法包括：获取未失效封装器件的参考信号；所述参考信号包括所述未失效封装器件的时域信号；获取失效封装器件的测量信号；所述测量信号包括所述失效封装器件的时域信号；对比所述参考信号和所述测量信号，获得所述失效封装器件的失效位置。本发明所述的封装器件的失效定位方法，分别获得未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，并通过对比未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，可以快速获得失效封装器件的精确失效位置，极大地节省了研发人员测试失效位置的时间，帮助提升企业研发竞争力，为后续开展先进封装器件失效分析定位工作提供参考。
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本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
本申请涉及一种失效点的定位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取通过红外热成像装置对被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的热成像图片，并对所述热成像图片进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的相位角；获取通过图像扫描装置对所述被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的三维图像，并对所述三维图像进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的三维坐标；根据所述待测试芯片表面各点的相位角和三维坐标计算所述待测试芯片中失效点的三维坐标。采用本方法能够提高芯片内部失效点定位精度。
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本发明公开了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置，其方法包括：获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，确定所述灯具零部件为导致LED光源变色失效的源头。通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源发生变色失效的源头，得到可能造成光源失效的源头。
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本发明公布了一种基于细观动态复杂应力监测的混凝土疲劳损伤分析方法，包括步骤：先制作一批试件，试件内布设9个空间应力传感器；通过单轴疲劳加载试验，确定SDF值最大时的传感器阵列；通过试验与模拟的方法，将优化的传感器阵列布设在试件或模型内，确定各受力模式下构件由加载到疲劳失效时的SDF—N曲线；在待测构件浇筑前将优化过的传感器阵列布设在构件中，通过传感器可检测出构件的受力模式，通过将监测的SDF值与试验或模拟的结果对比得出构件的疲劳损伤状态。本发明克服了以往混凝土应力或应变监测只能单向监测的问题，在较小的体积上实现空间六向动态应力监测，获取真实的细观应力状态，更准确地分析结构的疲劳损伤状态。
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本发明涉及一种面向SoC的片上TDDB退化监测及失效预警电路，控制电路模块将Q1、Q0信号转化为开关状态控制信号输出至TDDB性能退化数字转化模块；TDDB性能退化数字转化模块内的第一MOS管电路的MOS管处于电源电压的应力状态下，第二MOS管电路的MOS管处于非应力状态下；第一MOS管电路和第二MOS管电路在开关状态控制信号的控制下，分别输出第一频率值和第二频率值至输出选择模块；输出选择模块将TDDB性能退化数字转化模块输出的第一频率值输出至计数器B中进行记录，或者将第二频率值输出至计数器A中进行记录；计数器模块通过比较第一频率值与第二频率值确定TDDB性能的退化量。本发明的结构简单，输出可监测TDDB性能退化过程，能够对TDDB性能进行准确预警。
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本发明公开了一种监测试验箱内灯具是否失效的方法，包括如下步骤：采集试验箱内图像；获取采集到的所述图像；根据所述图像判断试验箱内的灯具失效状况。它是通过采集试验箱内的灯具图像，然后对所采集的图像进行处理，判断是灯具失效的状况。该方法能取代人工观察，节省人力物力，而且获得的结果将更加准确及时。
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本发明公开了一种测控保护装置的失效评估方法，在确定出待测试的测控保护装置的初始电气参数和经加速试验后的当前电气参数之后，就对加速实验后测得的测控保护装置的当前电气参数的准确性进行了判断，目的是得出符合要求的目标电气参数，剔除不符合要求的当前电气参数，考虑了采集测控保护装置数据时的随机误差；最后，依据初始电气参数和符合要求的目标电气参数实现对测控保护装置的失效性评估。因此，应用本评估方法，可以对实验后测得的电气参数的准确性进行判断，与传统的评估方式相比，提高了测控保护装置的失效评估准确性。另外，本发明还公开了一种测控保护装置的失效评估装置、设备及存储介质，效果如上。
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本发明提出一种电迁移失效的剩余寿命预测方法，包括步骤：建立MOS器件的电迁移寿命模型；根据预设的正常工作条件下的电流密度和第一环境温度，以及电迁移寿命模型，获取正常电迁移失效的寿命T1；根据目标预兆点T2和第二环境温度，以及电迁移寿命模型，获取电流密度应力；将电流密度应力输入基于预兆单元的MOS器件电迁移失效预警电路；若基于预兆单元的MOS器件电迁移失效预警电路经过时间T3后输出高电平，则根据T1、T2以及T3，获取对应T2的电迁移失效的剩余寿命。本发明还提出一种电迁移失效的剩余寿命预测装置，可以提高预测MOS器件电迁移失效剩余寿命的可靠性，提高预测效率，降低成本。
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本发明公开了一种高分子材料蠕变失效时间的预测方法，属于高分子材料领域。本发明所述高分子材料蠕变失效时间的预测方法针对聚丙烯、聚乙烯等应用在塑料制品上的半结晶高分子材料，无需进行具体结晶和结构参数的测量便可实现在不同温度和压力条件下高效、准确的蠕变失效时间预测。本发明还公开了所述高分子材料蠕变失效时间的预测方法在预测塑料制品使用寿命上的应用，其对于塑料制品的生产、使用、更换及补强时机等方面均具有重大意义。
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本发明公开的一种预测复合材料层合板失效强度的方法，包含以下顺序的步骤：步骤一、建立复合材料层合板有限元模型；步骤二、建立复合材料损伤本构模型；步骤三、基于ABAQUS‑VUMAT有限元用户动态子程序模块，使用FORTRAN语言编写用户自定义子程序实现提出的损伤本构模型，以求解应力、应变和损伤；步骤四、对有限元模型进行计算，预测复合材料层合板的失效强度。本发明利用ABAQUS‑VUMAT用户自定义子程序来数值实现所建立的三维损伤本构模型，该模型同时考虑了剪切非线性和损伤累积导致材料性能退化的影响，能准则预测复合材料的失效强度。
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本实用新型属于BGA失效监测仪领域，尤其是一种基于BGA菊花链式的BGA失效监测仪的保护装置，针对现有BGA失效监测仪使用位置固定，不便于移动，且BGA失效监测仪的减震性较差，得不到较好的保护的问题，现提出如下方案，其包括监测仪本体，所述监测仪本体的底部开设有两个固定槽，两个固定槽内均滑动安装有移动板，两个移动板的底部均安装有两个刹车万向轮，所述固定槽的两侧内壁上均开设有凹槽，移动板的两侧均固定安装有移动座，移动座滑动安装在对应的凹槽内。本实用新型结构合理，操作方便，该BGA失效监测仪使用位置灵活，便于移动位置，且BGA失效监测仪的减震性较好，可以得到较好的保护。
本发明公开了一种基于数字孪生技术的水土流失防治责任范围失效预测方法及系统，步骤包括：从预设的数据库中读取水土流失防治责任范围矢量数据；基于数字孪生技术的思路，建立可在生产建设项目水土保持监督管理全生命周期内实现动态映射的数字孪生模型；基于所述数字孪生模型预测水土流失防治责任范围的失效概率；判断所述水土流失防治责任范围失效的概率值是否大于预设的报警阈值；若所述失效概率值大于预设的报警阈值，则执行对应的报警提示操作。本发明根据数学孪生技术的思路，建立数字孪生模型，并计算水土流失防治责任范围失效的概率，基于失效概率进行失效警报，提高遥感监管工作中对于生产建设项目“未批先建”事件判别的准确率。
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本发明公开了一种实际运行工况环境下电器元件腐蚀失效预测方法，包括：步骤一、获取所述服役环境对腐蚀所述电器元件有影响的关键环境参数；步骤二、测量得到表面腐蚀产物膜总厚度平均值
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本实用新型提供一种测试桩与注浆土体接触面失效机理的试验装置，包括加载装置及管桩模型试验箱；所述加载装置包括反力架、设置在所述反力架上给管桩模型试验箱提供压力的加载机构；安装在所述反力架上的管桩模型试验箱，所述加载机构设置在所述反力架的顶部内侧；所述管桩模型试验箱可拆卸地设置在所述反力架的内部；所述加载机构位于所述管桩模型试验箱的管桩模型安装位的上方；所述反力架的顶部内侧设有用于检测所述管桩模型的纵向移动位置的位移检测装置。通过上述结构，本实用新型拆装方便，可移动，加载准确且强度和刚度满足试验要求的桩基模型试验系统来保证试验的顺利进行。
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本发明提供一种测试桩与注浆土体接触面失效机理的试验装置，包括加载装置及管桩模型试验箱；所述加载装置包括反力架、设置在所述反力架上给管桩模型试验箱提供压力的加载机构；安装在所述反力架上的管桩模型试验箱，所述加载机构设置在所述反力架的顶部内侧；所述管桩模型试验箱可拆卸地设置在所述反力架的内部；所述加载机构位于所述管桩模型试验箱的管桩模型安装位的上方；所述反力架的顶部内侧设有用于检测所述管桩模型的纵向移动位置的位移检测装置。本发明还提供一种使用所述的试验装置进行的测试管桩与注浆土体接触面失效机理的试验试验方法。通过上述结构及步骤，本发明拆装方便，可移动，加载准确且强度和刚度满足试验要求的桩基模型试验系统来保证试验的顺利进行。
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本实用新型涉及电能计量设备检测技术领域，公开了一种电能表可靠性试验显示失效自动测试装置。本实用新型的装置包括按键模块、传感模块和监控模块，其中按键模块包括多个模拟按键端子，每个模拟按键端子设置于与被测电能表的一按键对应的按压位置，传感模块包括用于在按键被按压后，对被测电能表的对应显示模块进行光电信号检测的传感器；该监控模块用于控制所述模拟按键端子按压对应按键，以及根据传感器传递的数据判断对应显示模块是否故障。本实用新型能够模拟人工按键操作，实现对电能表的显示功能的自动检测，可以有效节省人力成本，提高效率，智能性高。
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上述的阳离子交换树脂失效特性曲线测定设备包括：水样接口阀、原水流通池、第一测量电极、阳离子交换柱、离子交换水流通池、第二测量电极及电导率仪。电导率仪可同步检测原水样及阳离子交换柱出水的电导率，通过对比原水样电导率与阳离子交换柱出水电导率，能够确定阳离子交换柱内阳离子交换树脂状态，从而确定阳离子时效树脂失效特性曲线。上述的阳离子交换树脂失效特性曲线测定设备可以测量不同水样对同种阳离子交换树脂的失效特性曲线，或者相同水样对不同阳离子交换树脂的失效特性曲线，以满足实际生产中的监测需求。
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本申请提供了一种芯片失效类型测试系统，包括：检测装置，用于输出检测信号至待测芯片；处理装置，与检测装置通信连接，且与待测芯片通信电连接，处理装置用于至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型。该系统将处理装置与检测装置连接，通过处理装置至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，实现芯片测试的自动化控制，进而解决了现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。
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本发明实施例公开了一种电磁屏蔽层失效监测方法、装置及系统，电磁屏蔽层设置于变压器的外壳内壁，变压器的外壳内部设置有涡流检测装置，变压器的外壳外部设置有漏磁检测装置；方法包括：获取变压器三侧开关的电流值，并根据电流值判断变压器是否带电；若变压器带电，则启动漏磁检测装置，并通过漏磁检测装置检测电磁屏蔽层是否失效；若变压器不带电，则启动涡流检测装置，并通过涡流检测装置检测电磁屏蔽层是否失效。本发明实施例提供的技术方案采用内部和外部检测相结合的方法，持续在线监测电磁屏蔽层运行状态，实现了对电磁屏蔽层运行状态进行在线监测，以及对维护相关人员人身健康和安全的防护，降低了工作人员的安全隐患。
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本发明公开了一种晶闸管电压监测板的污秽失效测试方法，包括：模拟换流站阀厅电气设备的实际污秽程度，对待测晶闸管电压监测板的表面进行涂污。调整当前的环境相对湿度为预设的初始环境相对湿度，并对所述待测晶闸管电压监测板进行加压测试，记录所述待测晶闸管电压监测板发出回报信号时刻的脉冲宽度和对应的电源电压幅值。判断所述脉冲宽度和电源电压值是否均满足标准范围值；若是，则根据预设调整量调整所述初始环境相对湿度，再次进行加压测试；若否，则判定所述待测晶闸管电压监测板在当前的环境相对湿度下已失效，并结束污秽失效测试。本发明实施例能在预设污秽程度下确定晶闸管电压监测板的失效湿度，为其污秽失效机理提供实验依据。
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本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统，获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据，拟合出多项式拟合公式，计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差，分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析，得到锡须长度数据，根据锡须长度数据和预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中，从失效物理的角度，分别考虑锡须生长的面密度和长度值，并基于蒙特卡罗算法，分别进行迭代运算，兼顾锡须生长的失效物理因素，能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
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