本发明涉及电子器件辐射效应领域,特别是涉及一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统,通过获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率;分别获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量;根据所述试验环境和目标环境的大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子;根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子可以获取到在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。获取过程简单高效,简化了大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程,从而实现对大气中子条件下电子器件单粒子效应敏感性的定量评价,解决我国目前大气中子条件下电子器件单粒子效应评价方法缺失的难题。
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