湖北武汉有色金属分析检测技术理论与应用

加筋板轴压试验中加强筋侧向变形的同步测量试验装置 931     

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本实用新型涉及一种加筋板轴压试验中加强筋侧向变形的同步测量试验装置，包括压缩试验机和夹具，夹具安装于压缩试验机上用于夹紧加筋板的两端，还包括激光测距仪，激光测距仪正对加筋板上的加强筋放置，用于同步测量试验过程中加强筋的侧向位移。本实用新型在常规加筋板试验的基础上，引入激光测距仪设备，用于准确测量试验过程中加筋板上加强筋的侧向位移，进一步地，对压缩试验机记录的轴向压力和时间的关系曲线F‑t及通过激光测距仪记录的侧向位移和时间的关系曲线D‑t进行数据处理，得到侧向位移和轴向压力的关系曲线D‑F，可以更准确地计算加筋板的极限承载力，为分析出加筋板承载失效的真实原因奠定基础。

封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测方法及装置 720     

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本发明属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测方法及装置，装置包括投影云纹模块、X射线模块、监测分析模块；方法包括：通过投影云纹模块获得待测封装模块样品的第一翘曲信息；通过X射线模块获得待测封装模块样品的第二翘曲信息；根据第一翘曲信息、第二翘曲信息获得监测结果信息。本发明解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行三维在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行三维在线监测。

超高强钢动态断裂特性的表征测试方法 920     

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本发明涉及一种超高强钢动态断裂特性的表征测试方法，根据现有设备技术参数及超高强钢强度高、韧性相对较低的特点，设计拉伸条件下具有不同应力状态的试样，根据应力三轴度从小到大为剪切、拉剪、单向拉伸、单孔拉伸、及不同尺寸缺口试样，并根据不同试样在不同应变速率下的断裂特性设计相应试验矩阵，完成超高强钢动态断裂性能的试验表征。试验采用3D非接触式高速摄像光学应变采集系统，同步记录试验过程中试样变形，采集材料不同应力状态及速率下失效数据，数据经处理可在后续数值模拟分析中对相应模型进行标定，完成精准化建模。本发明充分利用设备特点，为后续碰撞模拟分析提供数据支持，大大提高车身安全设计评估的效率，有效降低成本。

芯片测试装置及芯片测试方法 707     

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本发明公开了一种芯片测试装置及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试装置包括测试单元，用于向芯片提供测试信号，以及获取芯片反馈的反馈信号；探针卡，用于测试单元和芯片之间的电连接，探针卡用于测试信号和反馈信号的传递；以及去耦单元，与测试单元电连接，其中，反馈信号包括正常芯片反馈的正常反馈信号和失效芯片反馈的异常反馈信号，当探针卡与芯片电连接时，去耦单元过滤异常反馈信号。根据本发明实施例的芯片测试装置及芯片测试方法，设置有过滤异常反馈信号的去耦单元，能够防止异常反馈信号与正常反馈信号产生耦合效应，从而防止在测试时出现将合格芯片判断为失效芯片的情况。

半导体存储器老化测试系统及方法 566     

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本发明属于半导体存储器测试技术领域，公开了一种半导体存储器老化测试系统及方法，其系统包括测试核心板和测试板；测试核心板根据上位机指令生成测试信号和电源信号进行调整后提供给DUT，并将DUT输出信号与预设值比较得到初步测试结果分区存储，并上传到上位机；测试板用于承载DUT，为DUT提供时钟信号和片选信号，单块测试板设置有多个测试位，DUT老化测试可单颗进行或多颗DUT同时进行；其方法通过在测试核心板上输出各种类型的测试信号，并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制等处理，以及对电源信号进行补偿，对测试结果通过分区设置的存储区分别存储，实现老化测试中对单个DUT测试过程控制的管理和失效分析的功能，并增加了DUT同测数，减少了测试资源开销。

基于多源状态监测信息和可靠性特征融合的液压设备早期故障预测方法 776     

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本发明公开了一种基于多源状态监测信息和可靠性特征融合的液压设备早期故障预测方法，旨在提供一种能够识别早期故障信号，降低预警的误报和漏报，提高故障预测的准确率。其技术方案的要点是，挖掘液压设备的监测信息与状态评价之间的关联规则；构建基于多源传感器监测数据融合方法，实现监测数据降维；融合监测信息与可靠性寿命数据，构建参数化的失效率函数(proportional covariate model,简称PCM)，预测设备的早期故障演变过程，为液压设备运行维护提供有力的预警信息。相对于传统的液压故障预测方法，该方法通过在液压设备状态监测信息中融合可靠性特征，能够有效提高预测精度和拓宽预测区间等优点。

水质监测用红外测油仪 1012     

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本申请涉及一种水质监测用红外测油仪，涉及水质监测领域，以解决操作人员使用后常常忘记手动关闭测试窗口，导致干燥剂快速失效的问题，其包括红外测油仪主体和用于监测水质的测试窗口，所述测试窗口设置于红外测油仪的顶部，所述测试窗口处活动连接有挡板，所述挡板用于开启和关闭所述测试窗口，所述红外测油仪的内部设置有复位机构，所述复位机构用于使挡板自动复位，以关闭所述测试窗口。本申请具有设置挡板能够对测试窗口进行遮挡，从而减缓红外测油仪主体内部的干燥剂失效，同时通过设置复位机构，使打开的挡板自动关闭，无需操作人员手动关闭，避免造成忘记关闭挡板从而使干燥剂快速失效的效果。

液压往复密封件的服役疲劳性能测试方法及试验装置 696     

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本发明是一种液压往复密封件的服役疲劳性能测试方法及试验装置，其中：伺服电机系统为液压缸提供可变负载，液压系统用于控制试验缸的往复运动，温控系统用于油液温度的控制，以此实现对液压往复密封件实际工况的模拟；通过铺设在活塞导向套内侧的光纤光栅应变传感器，测得液压往复密封件的接触应力，实现对密封件服役状态的监测；通过计算液压缸/活塞密封荷载摩擦副系统的疲劳失效概率，实现对液压往复密封件疲劳失效状态的分析和判断；通过试验可以得到特定服役条件下的液压往复密封件疲劳寿命测试结果，为液压往复密封件的可靠性设计提供依据。

测试半导体结构击穿的设备、系统和方法 703     

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本申请提供了一种测试半导体结构击穿的设备、系统和方法，该设备包括：第一支路和第二支路，第一支路的阻抗大于第二支路的阻抗，第一支路的第一端用于连接半导体结构的第二端，第一支路的第二端接地，第二支路的第一端用于连接电压源，第二支路的第二端接地，测试半导体结构的击穿时，半导体结构的第一端连接电压源，第二支路断开，第一支路导通以使半导体结构被电压源击穿进行击穿测试，半导体结构被击穿后，第二支路导通，第一支路断开。从而可以在半导体结构被击穿后，减轻对击穿后的半导体结构的进一步损伤，方便研究人员后期对击穿失效位置的第一现场进行物理失效分析。

摩托车远程监测系统 1014     

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本发明涉及摩托车监测技术领域，特指一种摩托车远程监测系统，包括远程监测终端、CCU联网设备以及远程服务器和服务器端分板程序，远程监测终端以MCU为核心，在接受GPS和摩托车OBD数据之后可通过SIM卡通讯模块向服务器发送摩托车的位置信息以及摩托车行车数据，同时，这些数据可实现本地存储，存储在终端自带存储卡上，方便维修人员获得第一手资料，服务器端包含数据库模块、数据分析统计及数据显示模块，可以实时显示摩托车的运行状态及故障信息，通过分析可以判断摩托车后处理系统是否失效，可为摩托车生产厂家和环境监管部门提供数据参考。

基于事件关联的网络流量预测方法及系统 949     

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本发明公开了一种基于事件关联的网络流量预测方法，步骤如下：步骤1、采集原始数据流或流采样数据；步骤2、分析事件信息和流量信息；步骤3、使用运行周期中的节点事件序列与流量特征序列建立训练集；步骤4、持续采集数据，根据协议分析，训练神经网络，预测单节点或全网流量。本发明还公开了基于事件关联的网络流量预测系统，包括：数据采集模块；数据建模模块：将数据建立以节点相关的特征；神经网络训练模块：神经网络训练，建立神经网络；预测模块：使用流量特征和节点状态，输入神经网络预测后续流量趋势。本发明实现了对事件相关型网络的流量预测，解决了传统时序预测方法在流量的时序和周期上存在的失效问题，可以广泛应用于网络领域。

边坡监测设计优化方法 804     

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本发明提供一种边坡监测设计优化方法，包括：确定边坡随机参数及其统计量，建立边坡响应分析模型并选择候选监测变量；建立边坡监测设计决策树；产生样本空间Z*并对其每一组样本进行模拟；基于Z*计算给定监测变量组合op条件下不同监测可能值的发生概率；执行先验可靠度分析以计算先验失效概率，产生服从F的候选样本空间ΩF并对其每一组样本进行模拟；基于ΩF计算给定op条件下不同监测可能值的条件概率；计算给定op条件下不同监测可能值对应的边坡条件失稳概率；根据决策树信息特征量化op的预期信息价值；重复执行步骤4、6、7和8，直至完成所有监测组合合集的预期信息价值计算；最大化预期信息价值。本发明解决了边坡监测优化设计中的计算瓶颈。

低温锂电池测试系统及方法 971     

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本发明公开一种低温锂电池测试系统及方法，该方法包括：对锂电池进行常温性能测试；对锂电池进行低温充放电测试，对锂电池进行低温储存测试，对锂电池进行低温循环寿命测试；对锂电池进行低温电化学阻抗谱测试：在电池的有效低温范围内，分别进行直流阻抗测试和交流阻抗测试；对锂电池低温失效原因进行分析。本发明能够判断出锂电池在低温条件下的极限使用温度，分析并有效提高低温电池的循环寿命和使用性能。本发明采取了低温测试，考虑到自然条件下的因素，更直观对比出不同温度条件下的性能差别，具有一定的应用价值。

实验室试剂分类存储用带有检索标示的存储箱 914     

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本实用新型涉及实验室试剂存放技术领域，尤其涉及一种实验室试剂分类存储用带有检索标示的存储箱。其技术方案包括：箱体和冷藏箱，所述箱体前表面中间位置处安装有箱门，所述箱体前表面中间位置处通过储存室套接有试剂储存箱，所述箱体底部两侧位置处均安装有底座，所述底座底部中间位置处设有位移槽，所述位移槽内的顶部中间位置处通过轴承安装有调节杆，所述调节杆外表面位于位移槽内部通过螺纹安装有移动座。本实用新型解决了现有装置无法对试剂进行分类储存并标记，试剂查找较为繁琐，使用便捷性不佳，且无法对试剂进行冷藏保存，试剂在温度过高时，极易挥发失效，使用寿命不佳的问题，提高了本实用新型的储存效果。

电迁移测试结构、半导体结构及三维存储器 781     

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本申请提供了一种电迁移测试结构、半导体结构及三维存储器。其中，电迁移测试结构包括测试线和衬底。测试线连接有阳极引线和阴极引线；衬底与阴极引线连接，衬底配置为通过阴极引线接收测试线中的静电荷。本申请通过将阴极引线接入衬底，从而使衬底能够通过阴极引线接收测试线中的静电荷，因此，在测试过程中以及在后续失效分析过程中即使引入了静电，这部分静电也可通过阴极引线导出至衬底中，以此减小测试和失效分析过程中测试线发生爆燃的可能性。

测试3DNAND字线电阻的方法 1058     

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本发明涉及存储器失效分析技术领域，尤其涉及一种测试3D NAND字线电阻的方法，包括：步骤S1，将3D NAND减薄至暴露每层字线的第一接触孔和第二接触孔；步骤S2，在所述字线的第一端，形成金属垫覆盖每层所述字线的所述第一接触孔，以将每层所述字线的第一端电连接；步骤S3，在所述字线的第二端，选取一层待测试字线，在所述待测试字线的所述第二接触孔上标记出待测点；步骤S4，使用导电胶将所述金属垫引出至临近所述待测点的位置；步骤S5，选取所述导电胶上临近所述待测点的一量测点，使用探针量取所述量测点与所述待测点之间的电阻值，作为所述待测试字线的所述第一端和所述第二端之间的电阻值。

沉井松土检侧压下沉方法 1010     

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本发明公开了一种沉井松土检侧压下沉方法，包括：S1，沉井最后一次接高下沉时，在沉井端部支撑力去除后，若沉井仍难以下沉时，在沉井的外侧的土层中开挖深槽，直至沉井下沉至设计标高。本发明通过在沉井外侧开挖矩形深槽，使得沉井在坚硬地层、粘性土层下沉时侧摩阻大大减小，使得沉井在困难地层终沉时能够顺利下沉；即便当地层与井壁的侧摩阻力很大时，也可以逐步增加矩形深槽的长度、宽度、深度，从而使得沉井顺利下沉到位，从而避免了沉井在传统的助沉措施失效时无法顺利下沉的难题。本发明提供的一种沉井松土检侧压下沉方法，简单可行，施工安全可靠，可广泛应用于建筑施工领域。

垂直切分式组合检查井 655     

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本实用新型公开了一种垂直切分式组合检查井，该检查井包括左半井体和右半井体；左半井体与右半井体通过热板焊接形成一内部中空的井体，井体的外侧设置有至少一个用于与支管相导通的支管承口，井体的顶端上设置有一井筒承口。本实用新型提供的检查井，仅仅包括左半井体和右半井体，两者通过热板焊接方式组成井体，焊接的同时完成了井体的装配和密封，有效解决了现有检查井通过密封条和螺钉固定而带来密封失效、连接处渗漏及螺钉锈蚀、松动等潜在隐患；该检查井具有所需模具小、生产效率高、成本低等特性。

半导体存储器老化测试核心板 665     

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本发明属于半导体存储器老化测试技术领域，公开了一种半导体存储器老化测试核心板，根据上位机的参数配置实时产生测试向量，输出各种类型的测试信号、各种测试图形，并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制的处理，以及对电源信号进行补偿，产生更精准的测试信号的电源信号；提升了用户对测试波形的自定义能力和灵活性；测试核心板具有分区的存储器，将测试过程中实时对比测试的数据分区保存，通过分区存储的数据对失效DUT测试过程进行控制和失效分析，实现了老化测试中对单个DUT测试过程的控制和失效分析；通过存储器譬如DRAM提供的存储空间保存每颗DUT的每一个IO足够长的测试信息，从而能够让DUT厂商对各批次失效DUT进行统计分析，改善良率，提升产品可靠性。

电气化铁路接触网检修专用工具 641     

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本发明公开了一种电气化铁路接触网检修专用工具，包括液压撑拉杆(100)和机械撑拉杆(200)，液压撑拉杆(100)置于升降平台(20)上，在液压丝杠(8)与立柱(2)的连接部分设置有液压丝杠转位机构；机械撑拉杆(200)包括支柱夹头(12)、多孔调节杆(13)、机械丝杠(14)和勾环(15)，在支柱夹头(12)内设置有夹头收紧机构使机械撑拉杆(200)卡持在支柱(23)上；本发明所述工具简单，使用方便，可以同时对受损失效的腕臂(21)拆装更换、对金属导线(16)拉出值调整及校正、对承力索(22)及金属导线(16)收紧，能有效提高电气化铁路接触网检修的工作效率。

纳米探针及纳米探针测试仪 650     

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本发明涉及一种纳米探针及纳米探针测试仪，包括针臂，所述针臂的一端用于连接测试仪，另一端设置有用于同时与待失效分析半导体器件同一极性两个以上钨栓接触的触头。在待失效分析半导体器件电学特性测试中，此纳米探针可同时接触待失效分析半导体器件同一极性多个钨栓，用多个钨栓共同对应的电学特性表征待失效分析半导体器件的实际电学特性，能够有效避免个别纳米探针触头与钨栓接触不良，或个别钨栓下没有硅化物等因素导致的测试误差，从而更精准的反映待失效分析半导体器件的实际电学特性。

圆拱网架建筑结构安全监测装置 891     

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本实用新型公开了一种圆拱网架建筑结构安全监测装置,涉及圆拱网架建筑结构的监测,具体地说,涉及一种位移监测装置。本实用新型由位移传感器1、信号变送器2、分布式采集器3、数据I/O计算机4、数据服务器5、监测工作站及外围设备6、信号总线A7、信号总线B8组成;在网架两侧同等高度位置上的对称节点上,安装X、Y、Z三方向的位移传感器,连续检测节点的位移,用分布采集方式采集位移数据,送入数据库,通过显示采集数据、分析位移数据历史趋势与安全诊断规则对比诊断,判断网架的整体变形和安全性。本实用新型可以对圆拱网架建筑结构实施长期、连续、可靠的安全监测,在网架失效或倒塌前发现隐患,避免恶性事故的发生。

锂离子电池厚度的预测方法、预测装置和锂离子电池 927     

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本发明属于锂离子电池技术领域，具体涉及一种锂离子电池厚度的预测方法、预测装置和锂离子电池。预测方法包括：获取待测锂离子电池在当前循环周数下充放电循环过程中的充放电数据；在所述当前循环周数截止后，对所述充放电数据进行特征值提取，得到多个预测用特征值；使用预先构建的神经网络模型对多个所述预测特征值进行处理，得到所述待测锂离子电池的预测厚度值。预测装置包括：获取模块、提取模块和得到模块。锂离子电池包括电池管理系统，所述电池管理系统具有锂离子电池的预测装置。通过上述技术方案能够进行在线实时检测电池的厚度变化，避免离线检测的人为误差，能够为电池厚度失效判断提供较为精度的提前预测。

基于光纤散射的分布式电池监测系统 798     

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本发明公开了一种基于光纤散射的分布式电池监测系统，包括光纤解调分析仪、控制模块和光纤传感器，其特征在于，所述光纤解调分析仪连接控制模块和所述光纤传感器。本发明提供了一种用于电池储能系统的分布式光纤原位表征检测系统及方法，可以实现对大规模储能系统中各个电池单体的实时多物理场监测。本发明系统通过相干解调沿着传感光纤的瑞利散射信息，无需提前在传感光纤内设计布拉格光栅传感单元，实现对储能系统的机械性能与热性能的实时监测，并通过算法评估电池荷电状态、健康状态以及提供失效预警，实现高效利用电池功能的同时保障电池储能系统安全运行，避免热失控甚至爆炸等事故的发生。

智能电表寿命和可靠性预测系统及其方法 665     

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本发明公开了一种智能电表寿命和可靠性预测系统及其方法，属于电力工程检测领域。本系统包括依次连接的数据采集单元（100）、数据调整单元（200）、模型建立单元（300）、模型调整单元（400）、计算单元（500）和结果输出单元（600）；本方法是：第1、建立智能电表寿命和可靠性指标；第2、建立智能电表的数学模型，进行元件失效率的计算，利用失效率结果计算得到预测结果从而完成智能电表的寿命和可靠性分析。本发明可解决现有传统判断方法有效性低、试验时间长、结果一致性差等问题，具有操作方便、误差较小、经济可行的优点。

发动机冷却液自检保温装置 832     

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本实用新型公开了一种发动机冷却液自检保温装置，包括冷却液加注口、冷却液膨胀箱、处理器、PH传感器，所述冷却液加注口底部固定安装冷却液膨胀箱，所述冷却液膨胀箱一侧固定安装有处理控制器，所述冷却液膨胀箱内部固定安装有PH值传感器，本实用新型所达到的有益效果是：本实用新型结构紧凑，使用方便，功能实用，通过每次启动车辆的瞬间检测冷却液的PH值和和冰点值，如果PH值低于7呈现酸性则冷却液失效，或者冰点值升高也不能使用了，两种情况出现一种都会在仪表台显示处理提醒驾驶员更换，停机状态下温度过低时，控制器会控制电机带动百叶片闭合形成内部独立空间隔绝外部冷空气，进行保温，汽车启动会自动解除，不会影响正常散热。

基于给定阀值的数控成品电路板性能退化测评方法 1008     

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本发明公开了一种基于给定阀值的数控成品电路板性能退化测评方法，包括：（a）选取测评样板执行加速性能退化试验，并测量表面绝缘电阻值；（b）执行试验数据拟合，建立测试样板的加速性能退化模型；（c）基于失效阀值并结合加速性能退化模型，计算得出测评样板的伪失效寿命；（d）选取测评样板的寿命分布模型，并利用伪失效寿命拟合检验来计算寿命分布模型的参数；（e）确定测试样板的寿命分布概率密度函数，计算其平均寿命，由此完成对电路板的性能退化测评过程。通过本发明，能够克服现有可靠性测评技术中失效数据的不足，同时节约可靠性的测评时间和成本，并有利于系统的维修计划和优化。

微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法 756     

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本发明涉及X射线检测技术，具体涉及一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法，该装置包括电子产品样品，包括冲击实验机和高速X射线成像系统；冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板；X射线成像系统包括X射线发生装置、图像增强器、CCD相机、图像采集装置和数据分析装置；X射线发生装置正对电子产品样品；图像增强器与X射线发生装置处于同一直线；CCD相机依次连接图像采集装置、数据分析装置。该装置采用高速X射线技术实时监测经跌落冲击后电子产品失效点的分布，能够及时发现不合格的失效产品，也为产品零部件材料的选择，外形设计方面提供可靠的参考，从而提高产品合格率，降低生产成本。

半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法及测试样品制备方法 586     

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本发明属于半导体金属导线电子迁移测试技术领域，具体涉及一种半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法及其样品的制备方法。测试样品的制备方法包括步骤：1)预处理及减薄和减宽；2)FIB样品制备。铜钽形貌的获得方法还包括步骤：3)第一次TEM观察；4)去铜进行第二次TEM观测。通过本发明所提供的半导体EM测试样品的制备方法，可以一次制备多个TEM样品，并且不需要进行样品提取。而通过本发明所提供的半导体EM测试中铜钽形貌的获得方法，可以快速得到钽元素分布图以及铜形貌来更好地失效分析，从而解决直接用EDS或者EELS做钽面扫描不但占用机台大量的时间，而且长时间扫描内样品可能会发生一定的漂移，因而无法真实反映其形貌的技术问题。

元器件饱和电流的量测方法和量测系统 801     

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本发明涉及半导体器件失效分析技术领域，尤其涉及一种元器件饱和电流的量测方法和量测系统，该量测方法包括：提供一探针台，所述探针台包括吸附卡盘、电学监测仪以及多根探针；将一元器件放置于所述吸附卡盘上且与所述电学监测仪电连接；所述探针台利用一第一探针在所述元器件的栅极端施加一固定电压，并利用一第二探针和一第三探针在所述元器件的沟道两端施加可变电流；以及利用所述电学监测仪，对所述沟道两端的可变电流进行监测。