江苏有色金属无损检测设备

X射线荧光镀层测厚仪 3336     

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膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪 Simply The Best >微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计 >高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量 >高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度 >全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

能量色散X荧光光谱仪 矿产矿石专用分析仪 2494     

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EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家 >先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器 >真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限 >可同时分析40种元素 >可分析固体，液体，粉末和泥浆 >原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能 >无损检测，快速分析（1-2分钟出结果） >无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效

岛津紫外可见分光光度计 1757     

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岛津再次隆重推出新款高性能UV-VIS的紫外可见分光光度计UV-2600/2700！UV-2600/2700可配合测定样品自由自在地扩展，在广泛领域大显身手。标准配备有效性软件，可轻松确认装置状态。同时实现省空间与省能源，更是一款操作简便的分光光度计。

TrueX 贵金属分析仪 2654     

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TrueX 贵金属分析仪可以无损地分析金、银和铂族金属，以及非贵金属合金金属和镀金样品中的元素含量。相比于传统的锡试金法、镍锍试金法等分析方法，TrueX 贵金属分析仪检测能力更强、检测时间更短，更为高效和便携，被广泛应用于珠宝首饰制造与回收、工业催化剂、电子器件等领域。​