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深圳市天创美科技有限公司推出的X射线测厚仪是一款基于X射线穿透特性研发的高精度非接触式测量设备，广泛应用于工业生产与质量控制领域。其核心工作原理依托X射线与物质的相互作用：当X射线穿透被测材料时，其强度随材料厚度增加而衰减，衰减程度与材料密度、厚度及X射线能量密切相关。设备通过内置的X射线源发射稳定射线束，穿透材料后由高灵敏度探测器接收剩余射线强度，经电信号转换与算法处理后，结合已知衰减规律精确计算厚度值，测量精度可达微米级。
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深圳市骏辉腾科技有限公司推出的JXF-8000镀层测厚仪，是一款基于能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度与成分检测设计。其核心工作原理通过微焦斑X射线管（Mo靶）发射高能X射线，激发镀层与基体原子产生特征荧光X射线，Si-PIN探测器接收信号后，结合基本参数法（FP）与经验系数法，快速解析镀层厚度及元素含量。该技术可同步检测多层镀层结构（如铜-镍-铬复合镀层），并支持无标样分析，满足工业级快速检测需求。
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深圳市时代华南仪器有限公司推出的TT310手持超声波测厚仪，是一款基于超声波脉冲反射原理的高精度非接触式测量设备，专为金属、塑料、陶瓷、玻璃等良导体材料的厚度检测设计。其核心工作原理通过探头发射高频超声波脉冲，穿透被测物体并在材料分界面反射回探头，仪器精确测量超声波传播时间，结合已知声速计算材料厚度。该技术适用于任何能使超声波以恒定速度传播的材料，如金属板材、塑料管道、陶瓷构件等，可对复杂结构进行多点连续测量。
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深圳市善时仪器有限公司推出的iEDX-150WT镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度非接触式测量设备，专为金属电镀层、合金镀层及PCB镀层厚度检测设计。其核心工作原理通过微焦点X射线管（50kV/1mA，钼、钨、铑靶）发射高能X射线，穿透镀层后被SDD探测器（能量分辨率125±5eV）接收。镀层厚度与元素含量通过特征荧光强度计算得出，结合FP（基本参数法）与MLSQ（多变量最小二乘法）分析算法，可同时解析1-5层镀层结构及合金成分比例。
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UL1581水平垂直燃烧试验机是严格按照UL1581 sect 1080.1~1080.14标准生产，完全符合VW-1 （Vertical-specimen）Flame Test燃烧试验标准。被大量电线电缆行业广为使用。整个试验在一个体积为4.8立方米密封的试验室进行。适用于UL1581、UL13、UL444、UL1655之VW-1以及CSA之FT-1、FT-2；并综合UL-94之V级阻燃测试。
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舜宇金相显微镜采用最新设计的光学系统，配备高级平场消色差物镜和全面抗反射真空镀膜处理的镜片，提供鲜明对比和超高解像力，修正色像差。其铰链式眼幅调整无需补正焦距，内藏高折射率光学棱镜，确保影像明亮清晰。该显微镜专用于高倍金属表面结构组织分析，配备10x/20x广角型目镜和5x/10x/20x/50x平场消色差物镜，使用6V 20W卤素灯泡照明，带有双透镜阿贝式聚光器和多种滤光镜。可选配彩色CCD和中文量测软件，支持Windows环境操作，具备多国语言支持和直观的界面布局。
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Fischer/菲希尔X-RAY XUL 220是一款高性能、设计紧凑的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，专为无损测量金属镀层厚度及成分分析设计，广泛应用于电镀、电子、汽车及珠宝行业。
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惠州市荣顺科技有限公司推出的台式金属镀层膜厚测量仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的精密无损检测设备，专为金属镀层厚度及成分分析设计，广泛应用于电镀、电子、珠宝及汽车制造行业。
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深圳市华欣茂科技有限公司推出的锡膏测厚仪，是一款基于非接触式激光三角测量技术的高精度检测设备，专为SMT（表面贴装技术）行业设计。其工作原理通过高精度红色激光线以一定角度投射至PCB板上的锡膏表面，利用激光束在锡膏与基板交界处形成的断续落差，结合三角函数算法计算高度差，实现三维形貌的精确重建。设备配备600万像素光学系统与电动伺服平台，支持XY扫描间距10μm至50μm可调，扫描速度达60FPS，可覆盖390×300mm的PCB测量范围。
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苏州威福光电科技有限公司推出的接触式金属涂层测厚仪，是一款基于磁感应与涡流双原理的高精度检测设备，专为金属表面涂层厚度测量设计。其工作原理通过磁性法（F型测头）与涡流法（N型测头）实现非破坏性检测：磁性法利用测头与磁性金属基体（如钢、铁）构成闭合磁路，非磁性涂层（如油漆、橡胶）的存在导致磁阻变化，通过测量磁阻值计算涂层厚度；涡流法通过高频交变电流在测头线圈中产生电磁场，当测头接触导电金属基体（如铜、铝）时，基体表面产生的电涡流对线圈形成反馈，反馈信号强度与涂层厚度成反比。
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深圳市天创美科技有限公司研发的PCB线路板镀层检测仪，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度检测设备，专为电子制造行业镀层质量控制设计。其核心原理通过X射线管发射高能射线，激发镀层材料原子内层电子跃迁，释放特征荧光。探测器捕获荧光能量谱线后，结合多层薄膜基本参数法（FP）算法，实现镀层元素种类、含量及厚度的无损定量分析，支持单层至五层复杂镀层结构解析。
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深圳市天维仪器有限公司推出的EDX7200B电镀镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱分析技术的高精度检测设备，专为金属镀层厚度测量及成分分析设计。其核心工作原理是通过X射线管激发样品表面，使镀层元素产生特征荧光X射线，仪器通过探测器捕获并分析这些射线的能量与强度，结合FP法软件实现多层镀层厚度及成分的定量分析。该技术无需接触样品，可避免物理损伤，同时支持微小区域（最小0.1mm）的精准测量，适用于复杂结构或精密部件的检测需求。
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ETT-B系列紧固件摩擦系数试验机是万测自主研发的新一代螺栓螺母摩擦系数试验系统，用于螺栓螺母的总扭矩、端面扭矩、螺纹扭矩、总摩擦系数、端面摩擦系数、螺纹摩擦系数测试试验，能够满足螺纹紧固件紧固通则、紧固件 扭矩-夹紧力试验等标准的相关条文，并能自动测量出紧固扭矩、螺纹扭矩、支承面扭矩、紧固轴力、扭矩系数K、总摩擦系数μtot、螺纹摩擦系数μth、支承面摩擦系数μb等螺栓螺母的机械性能。
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紧固件横向振动试验机是本公司自主研发的新一代螺栓螺母横向振动试验设备，用于螺栓螺母组成的螺纹副的防松性能测试试验，能自动测量紧固扭矩、紧固轴力、扭矩系数K，总摩擦系数、横向推力、横向振幅、振动频率、振动周期、时间、松动角等螺栓螺母的机械性能。
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SZ-100V2纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
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紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱(PLSpectrum)和光致发光寿命(PLLifetime)而设计的。适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。
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KLA是全球半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、MEMS、太阳能、光电子以及其他领域中有着极高的市占率。P-7 是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。P-7建立在市场P- 17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。P-7可 以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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采用符合IEC AAA等级的光源系统(100 x 100 mm以内)，ABA等级(300mm x 300 mm)的超大光斑尺寸的高稳定均匀光，提供300-1000 nm全光谱测试。可长时间测量光伏器件与不同材料的老化寿命与稳定性，也可直接作为太阳光模拟器使用。多年的老化设备运行经验，系统连续数月稳定运行，品质保障。
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可针对单个电池到大面积太阳能电池组件进行快速且高分辨率的激光扫描分析与量测。与普通的XY平台相比之下，大面积激光描分析仪仅需要几秒钟.便可完成扫描并分析器件的缺陷分布、效率变化、表面脏污与隐劣区域等。另外，根据不同器件光伏响应的范围，可搭配单波长或多波长激光配置，是作为改善制程的***方案。
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根据IEC 60904-8所设计与研发制造的一款从事 ***率太阳能电池研发、提高其材料能隙的检测工具。采用非破坏性的检测技术，可以直接量测电池样品，量测时不需要真空环境。另外，其***的讯噪比与高分辨率的讯号撷取能力，可提供快速与准确的量测结果。一体式设计，操作简单、高性价比与卓越的技术支持，IPCE-R也可依客户需求与手套箱进行整合，适用于各式太阳能电池与光电探测器的研究。
2025年06月06日 ~ 08日 
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2025年06月13日 ~ 15日 
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