有色金属物理检测设备

三维视频显微镜 442     

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DVM 5000三维视频显微镜是一款高性能的显微镜设备，具备211万动态解析度的彩色实时画面，提供多种镜头选择（0-50X、20-160、50-400、35-7000），支持360度连续旋转观察。它配备多种照明模式，包括侧光、同轴、环形、扩散、偏振、透射和微分干涉等，能够满足不同观察需求。设备采用编码技术，自动识别图像获取条件，支持高清晰图片记录和电影录制。此外，DVM 5000具备2D自动测量和精确的3D模型建立功能，实时二维、三维图像拼接功能，以及BGA观察功能。它还支持电动或手动精密调焦，并通过电脑软件一体化设计实现便捷操作。

三维测量显微镜 454     

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Leica DCM 3D三维测量显微镜是一款结合了共聚焦成像和干涉测量技术的双核三维轮廓仪，适用于多种样品的三维立体观察和测量。它具备电动调焦功能，支持普通平面成像和三维立体成像系统，可进行三维建模、分析及测量。设备集成了BF/DF（明场/暗场）光学显微镜、共焦显微镜和干涉显微镜三种模式，提供超大Z轴范围（0.1nm-40mm），适合大样品测量。采用智能双LED同光路照明，无需耗材维护费用，低图像失真，支持彩色和3D图像合成，适用于各种样品表面，仅需更换物镜倍率即可在共焦和干涉模式间切换。

数码显微镜 449     

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这款模块化系统采用标准徕卡元器件、变倍光学头,配数码摄像头和数字显微镜专用软件。因此,LeicaDVM2500提供了充裕的选择余地,令您从完整的徕卡显微系统产品和附件系列中选择契合您需求的数字解决方案。此外，LeicaApplicationSuite(LAS)还针对不同的分析和评估工作提供各类软件模块。例如,LeicaMAP是用于分析三维模型的软件。记录的分析结果可直接打印(LAS、MAP)或使用MicrosoftOffice程序(LAS)进行进一步的处理。

数显卡尺 371     

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日本三丰数显卡尺500-196-30是三丰（Mitutoyo）品牌旗下的经典精密测量工具，集成数显技术与高精度传感器，适用于外径、内径、深度、台阶等尺寸的快速、精准测量，广泛用于工业生产、质量检测及维修场景，是机械加工、汽车制造、电子元件等领域的基础量具。

涡流测厚仪 254     

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天星涡流测厚仪ED300是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度非破坏性涂层厚度检测设备，利用涡流原理快速测量金属基材上非导电涂层（如油漆、塑料、橡胶）的厚度，适用于金属加工、汽车制造、航空航天等领域，为涂层质量控制、防腐检测提供高效、精准的解决方案。

全自动影像仪 266     

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万濠全自动影像仪VMS-5040H是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度非接触式测量设备，集成光学成像、精密运动控制与智能软件系统，通过摄像头捕获工件影像并自动分析尺寸、形状及形位公差，适用于机械制造、电子、汽车、航空航天等领域，为精密零件检测、质量控制及逆向工程提供高效、精准的自动化测量解决方案。

链式液压布氏硬度计 220     

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天星牌链式液压布氏硬度计PHB-3000a是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度材料硬度检测设备，集成链式液压系统与布氏硬度测试原理，通过压头施加规定试验力并测量压痕直径，实现金属、非金属等材料的布氏硬度值精准测定，适用于冶金、机械制造、质量检测等领域，为原材料检验、热处理效果评估提供可靠的数据支持。

数显千分表 272     

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德国马尔数显千分表1086R是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度便携式测量工具，集成机械测量与数字显示技术，支持外径、内径、深度等多维度尺寸的快速测量，适用于机械制造、质量检测、科研实验等领域，为现场检测与日常维护提供高效、精准的尺寸控制解决方案。

膜厚测量仪 352     

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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。FilmetricsF10-RT以真空镀膜为设计目标，只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。

大型金相自动切割机 217     

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上海阜力测量设备有限公司金相大型金相自动切割机QGZ-100是专为大尺寸、高批量金相/岩相试样制备设计的全自动切割设备，集成高速砂轮切割、精准自动进给与高效冷却系统，通过PLC或触控面板控制实现金属、岩石等材料的无人值守切割，适用于冶金、地质、机械制造等领域，为金相显微观察、岩相分析提供高效、高质量的试样制备解决方案。

硬度计 330     

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Duranmin-40涵盖了Struers微观/宏观硬度测试仪的基本载荷范围。此测试仪配有手动和电动XY载物台和一个全景相机。Duramin-40有三个载荷范围，10gf–10kgf、10gf–31.25kgf和1gf–62.5kgf。测试仪包含带有立显示器的集成计算机，可以使用触摸屏或鼠标进行操作。还可以选择使用双显示器。测试循环是完全自动的，标配电动6位转台。附加模块包括Kc断裂测量，映射和焊接测量。

金相岩相试样切割机 238     

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上海阜力测量设备有限公司金相岩相试样切割机QG-2是专为金相与岩相试样制备设计的精密切割设备，集成高速砂轮切割与冷却系统，通过手动/自动进给控制实现金属、岩石等材料的精准切割，适用于材料检测、地质分析、科研实验等领域，为金相显微观察、岩相分析提供高质量试样制备解决方案。

散射式扫描近场光学显微镜 475     

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美国Molecular Vista推出的全新一代散射式扫描近场光学显微镜（Vista-SNOM）基于光诱导力显微镜（PiFM）技术，通过检测探针与样品之间的偶极相互作用直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器，避免了远场信号干扰。该技术无缝适应紫外到射频范围，简化了传统SNOM的复杂配置。Vista-SNOM不仅在PiFM模式下提供与模拟结果高度吻合的场强测量，还具备s-SNOM模式，使科研人员能够对比分析两种模式下的场强结果，是研究纳米光子学、表面等离激元、二维材料及范德华异质结构等领域的有力工具。

电解抛光腐蚀仪 233     

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阜力电解抛光腐蚀仪EP-3000是上海阜力测量设备有限公司自主研发的金相试样制备设备，集成电解抛光与电解腐蚀双功能，通过精准控制电解参数（电压、电流、温度、时间）实现金属、合金等材料的表面精细化处理，适用于材料检测、质量控制及科研分析，为金相显微观察、硬度测试等检测提供高质量试样制备解决方案。

多功能数显卡尺套装 253     

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德国马尔多功能数显卡尺套装是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度便携式测量工具，集成机械测量与数字显示技术，支持外径、内径、深度、台阶等多维度尺寸的快速测量，适用于机械制造、汽车维修、电子装配、质量检测等领域，为现场检测与日常维护提供高效、精准的尺寸控制解决方案。

数字式轮廓传感器 297     

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日本三丰数字式轮廓传感器是上海阜力测量设备有限公司代理的高精度非接触式测量设备，集成激光或光学技术与数字信号处理系统，可快速获取工件表面的二维轮廓数据（如高度、宽度、角度、圆弧等），适用于汽车、电子、精密机械等行业，为质量控制、工艺优化及逆向工程提供高效、精准的轮廓检测解决方案。

关节臂测量机 297     

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PMT关节臂测量机ALPHA M是上海阜力测量设备有限公司代理的便携式三坐标测量设备，集成六自由度机械臂与高精度编码器技术，支持现场快速三维尺寸测量，适用于大尺寸、复杂形状工件的检测与逆向工程，为汽车、航空航天、模具制造等行业提供灵活、高效的质量控制解决方案。

自动膜厚测量仪 527     

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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚准确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。FilmetricsF50系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，配备R-θ较为坐标标准和订制化样品盘，样品直径可达450毫米。

无极调速金相试样单盘磨抛机 210     

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宇舟无极调速金相试样单盘磨抛机YMP-1是上海阜力测量设备有限公司代理的金相试样制备设备，采用单盘设计配合无极调速技术，通过手动或自动控制实现试样磨削与抛光的灵活操作，适用于金属、陶瓷等材料的金相试样制备，为材料检测、质量控制及科研分析提供高效、均匀的试样处理解决方案。

多模式三维光学轮廓仪 314     

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Zeta-20台式光学轮廓仪是非接触式3D表面形貌测量系统。该系统采用ZDot™技术和Multi-Mode(多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。

显微膜厚测量仪 432     

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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。F40用于测量光斑<1µm的薄膜膜厚。

数字式投影仪 215     

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新天光电数字式投影仪JT27是上海阜力测量设备有限公司代理的经典二维测量设备，结合光学投影与数字图像处理技术，通过非接触式检测实现工件轮廓尺寸的精密测量，适用于机械、电子、五金等行业的质量控制与研发验证，为中小企业提供高效、经济的二维测量解决方案。

全自动影像测仪 225     

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万濠全自动影像测仪VMS-4030H是上海阜力测量设备有限代理的智能影像测量设备，集成高精度光学系统与CNC自动控制技术，支持二维/三维尺寸的非接触式快速测量，适用于机械、电子、模具、汽车零部件等行业，为批量检测、质量控制与研发验证提供高效、精准的测量解决方案。

高精度自动调心圆度仪 227     

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威而信高精度自动调心圆度仪CA35CNC是上海阜力测量设备有限公司代理的高端圆度测量设备，集成自动调心技术与CNC控制系统，可精准测量圆柱、圆锥等回转体零件的圆度误差，适用于轴承、汽车零部件、精密机械等行业，为质量控制与工艺优化提供高效、自动化的测量解决方案。

高精度探针式轮廓仪/台阶仪 458     

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KLA先进的探针式台阶仪Alpha-StepD-600，可测量纳米级至1200um台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力。且其具有5.0A(1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率。

单点膜厚测量仪 477     

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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。

光谱型椭偏仪 458     

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UVISEL光谱型相调制椭圆偏振仪(SPME)是一款的仪器，它采用光弹性晶体来调制偏振光，而不是传统椭偏技术中的机械偏光装置。

阴极荧光成像光谱探测系统 432     

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阴极荧光成像光谱探测系统（Cathodoluminescence, CL）是一种高精度的分析工具，通常配置在扫描电镜或透射电镜中，能够实现形貌观察、结构和成分分析与阴极荧光光谱的结合研究，并支持全光谱荧光扫描成像。该系统利用高能量、小束斑的电子束激发样品，具有高空间分辨率、高激发能量、宽光谱范围和大激发深度等优点，特别适用于半导体材料与器件、荧光材料（如地质、考古材料）等的微观分析。在微米、纳米尺度的半导体量子点、量子线等荧光物质的研究中，阴极荧光技术能够揭示发光性质及电子结构，具有重要的应用价值。

数字源表 473     

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PSS SMU S100型数字源表源表是高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，输出电压达300V，测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

双轴光电自准直仪 243     

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阜力牌双轴光电自准直仪FLMAT2020是上海阜力测量设备有限公司自主研发的高精度角度测量仪器，集成双轴光电检测技术与智能数据处理系统，可同时测量X、Y两个方向的角度偏差，适用于精密机械、光学仪器、计量检测等领域，为导轨直线度、平面度、光轴平行度等形位公差提供高效、精准的测量解决方案。