一种dfn测试分选机
技术领域
1.本实用新型涉及半导体元器件检测设备技术领域，具体为一种dfn测试分选机。
背景技术：
2.半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个pn结；在进行半导体元器件加工时需要用到检测设备对半导体元器件进行检测。
3.但是目前半导体行业中，元器件封装后进行电性测试，人工使用仪表检测是目前市场绝大部分方式，此方式占用人工多、人工耗时长、效率低下；因此，不满足现有的使用需求。
技术实现要素：
4.本实用新型的目的在于提供一种dfn测试分选机，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种dfn测试分选机，包括机架，所述机架的顶部后端安装有四轴机器人本体，所述机架的顶部两侧分别安装有上料组件和收料组件，且上料组件和收料组件位于四轴机器人本体的前端，所述上料组件和收料组件之间设置有测试机构、ng分类组件和视觉检测机构，ng分类组件位于测试机构的前端，且视觉检测机构位于测试机构的后端，所述测试机构和ng分类组件均安装在机架的顶部。
6.优选的，所述四轴机器人本体包括第一机械手臂、气动夹具、第二机械手臂和支撑底座，所述支撑底座的顶部设置有第二机械手，所述第二机械手的另一端顶部设置有第一机械手，所述第一机械手的另一端底部设置有气动夹具。
7.优选的，所述测试机构包括半导体元器件测试组件、安装板和支撑板，所述安装板的下表面两侧均安装有支撑板，所述安装板的顶部设置有半导体元器件测试组件。
8.优选的，所述机架的底部四个拐角处均设置有可调节支撑座，所述机架底部两侧的前后两端均安装有万向轮。
9.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过一系列结构的配合设置，本实用新型采用人工上下料，四轴机器人本体将上料组件内的半导体元器件取放到测试机构上进行检测，四轴机器人本体将检测完成的半导体元器件放置到收料组件内，极大的摆脱了人工的束缚，降低了人工成本，提高了测试的速度以及效率，实用性强。
附图说明
10.图
声明：
“DFN测试分选机的制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：扬州爱迪秀自动化科技有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
