本发明属于电子技术领域,具体涉及一种热点分析的方法和系统,包括:S1:将一失效
芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上,并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中,通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形,确认所述失效芯片正常运行的测试程序;S2:通过所述热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。有益效果:实现了对失效芯片产品在自动测试状态下进行热点分析,提高了产品的检出率,有效改善了芯片产品的生产质量。
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