本发明涉及一种利用超声波来无损检测受检件(100)的方法,包括以下方法步骤:a.将定向超声波脉冲以入射角β射入受检件(100)之中,其中以电子方式调整入射角β;b.记录由入射到受检件(100)之中的超声波脉冲产生的回波信号;c.确定入射位置X0,在该入射位置处可以记录对应于受检件体积中的缺陷(102)的回波信号;d.确定缺陷(102)的ERS值在位置X0处变得最大的入射角β最大;e.将受检件(100)表面上的入射位置从X0变为X1,其中检测入射位置的变化;f.以电子方式调整入射角β,以使得缺陷(102)的ERS值在改变后的入射位置X1处最大。本发明还涉及一种用来执行该方法的装置。
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“利用超声波来无损检测受检件的方法以及执行该方法的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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