本发明属于X射线成像技术领域,特别涉及一种三维纳米X射线成像专用单颗粒样品的制备方法。该方法包括:分散尺寸为10~50μm的颗粒;筛选颗粒;加工制备一定直径的圆柱作为支撑棒;配制胶液,将胶液置于竖直固定的支撑棒的最下端的顶表面上,形成半球状胶滴;利用薄片镜面确定半球状胶滴最低点的高度;调整颗粒平面位置,使得半球状胶滴最低点接触到颗粒,继续降低高度,增加粘结体积;升起支撑棒,待粘结强度达到最大后,取下支撑棒,开始三维纳米X射线成像单颗粒样品扫描。本发明克服了现有方法的易遮挡、失败率高、设备昂贵、技术门槛高等弊端,实现各类金属、陶瓷以及
复合材料颗粒三维X射线成像专用样品的精准、简单、快速、低成本制备。
声明:
“三维纳米X射线成像专用单颗粒样品的制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)