全部
▼
热搜：
638
0
本申请实施例提供一种继电器健康状态在线预测方法、装置及电子设备。该继电器健康状态在线预测方法包括：根据继电器的驱动电信号波形曲线确定电信号特征数据，根据电信号特征数据和基准特征数据计算继电器的目标偏移量，根据目标偏移量与失效偏移量确定用于反映继电器健康状态的健康因子。本申请通过对继电器处于在线驱动工作状态时的电信号特征数据与处于标准工作状态时的基准特征数据进行计算，得到目标偏移量，根据继电器处于失效状态时与标准状态时的失效偏移量，以及目标偏移量确定继电器的健康状态，从而能够实现实时在线监控继电器的健康状态，有利于根据继电器的健康状态提前做出判断，提前规避行车和充电风险。
603
0
本发明涉及一种预测有机电致发光显示器的寿命方法,在OLED正常点亮的条件下收集平均亮度随时间变化的试验数据,利用此数据拟合出OLED平均亮度衰减变化的曲线公式,即可根据失效时的亮度标准求出OLED的平均寿命。此外,还可根据该亮度衰减拟合公式反过来推算OLED设计之初客户所要求的寿命来确定OLED的初始亮度。有效地为生产上测试OLED的有效寿命提供了有效的方法,并且此方法对OLED的寿命预测和初始亮度设计具有指导意义。
635
0
本发明公开了一种闪存的可靠性测试方法，该方法通过两次测试步骤来对闪存进行筛选，第一次测试步骤直接筛选出不良品，将不能判定为不良品的闪存作为待确认良品，以便在第二次测试步骤中对该待确认良品进行进一步的测试，经过两次测试之后才筛选出真正的良品，提高了可靠性测试方法的准确度。另外，两次测试步骤中均对闪存施加电压应力，正确模拟了闪存在25℃（室温）条件下使用10年时所承受的正常应力条件，因而能够利用电压应力来激发闪存在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，进而能够利用该可靠性测试方法来对失效反应活化能较低的闪存进行筛选。
953
0
本发明公开了一种晶圆可接受性测试的方法，述方法包括：在所述第一梳状金属线上施加高电压，同时在所述第二梳状金属线上施加中电压，并保持全部的所述多晶硅接地；若测得所述多晶硅的电流超出规格，则表明是所述接触孔和所述多晶硅之间存在泄漏；若测得所述多晶硅的电流未超出规格，则表明是金属线间失效或者是层间介电质孔洞失效；通过本发明的使用，可以在帮助生产线在第一时间发现层间介电质孔洞、接触孔和多晶硅之间的孔洞等工艺缺陷，及时做出调整；并且由于本发明可同时监控多个工艺问题，大大减小了测试结构面积，降低了包含测试在内的生产成本。
932
0
本发明提供了一种基于微波星间链路载荷的北斗三号卫星应急测控系统，包括：失效自主判断单元，被配置为自主循环判断测控载荷是否失效，若是则跳出循环，启动应急测控流程；故障排除单元，被配置为自主排除工作模式自动切换过程中，微波星间链路载荷的故障；工作模式自动切换单元，被配置为应急测控流程启动后，微波星间链路载荷自动切换至正常收发工作模式、地面站指向工作模式或地心指向工作模式。
1009
0
本发明提供了一种高压MOS器件的测试方法,用于测试半导体晶圆上各芯片的高压MOS器件是否失效,包括:在半导体晶圆上任选若干芯片,测试其高压MOS器件;将所述各芯片的高压MOS器件的一极接地,另一极与栅极接测试端;逐步升高在所述测试端施加的测试电压,并同时测量各高压MOS器件对应的源漏电流;所述测试电压的初始值小于所述高压MOS器件的饱和电压;根据所述测试电压以及相应的源漏电流,形成各芯片的高压MOS器件的输出特性曲线;根据所述输出特性曲线判定所述高压MOS器件是否失效。与现有技术相比,本发明采用递增调整测试电压的方式,测试源漏电流,能够避免因寄生效应导致源漏电流过小,而发生错误判定的问题。
829
0
本发明公开了一种存储器的测试方法，所述存储器具有n个测试项目，所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均为整数；当i小于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则进入测试项目i+1的测试；当i等于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则判断所述存储器为合格品；当N小于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则进行对所述测试项目i的第N+1次判断；当N等于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则判断所述存储器为不合格品。这样的测试方法可以大幅度提高测试稳定性，大大降低误判率，从而提高产品良率。
949
0
本发明实施例公开了一种油箱压力监测方法、装置、车辆及存储介质。该方法包括：获取发动机的当前状态信息和压力传感器的压力值，所述压力传感器设置在车辆的油箱上；如果所述发动机工作，且所述压力值小于所述当前状态信息对应的第一压力阈值，控制所述发动机停止工作并进行预警指示；展示所述油箱当前的压力值。本方案在油箱上设置压力传感器，通过压力传感器实时监测油箱内的压力，实现了油箱压力的自动监测，而且当发动机工作，且油箱内的压力大于当前状态信息对应的第一压力阈值时，控制发动机停止工作并进行预警指示，有效防止了油箱内的压力过高仍继续工作而导致相关零部件失效的情况，提高了安全性。
1075
0
本发明提供一种汽车天窗测试方法和系统，通过典型试验道路行驶数据得到天窗使用寿命里程过程中的疲劳载荷的雨流矩阵和车辆天窗的疲劳损伤矩阵，进而得到车辆天窗损伤与疲劳载荷之间的对应关系，之后根据耐久性测试中的目标雨流矩阵确定目标载荷，根据所述目标载荷确定测试路况的等效载荷，就能够向待测试车辆所在的台架输入等效载荷，进而能够获得所述待测试车辆的天窗损伤与所述等效载荷的关系作为所述天窗损伤测试结果。以上方案完成了整车级加速耐久测试方法，可以提前快速识别天窗失效问题，校核车辆在使用过程天窗中横梁是否存在扭矩衰减现象，是否存在中横梁工艺槽开裂异响等风险，发现、消除潜在的天窗失效模式，降低售后产品故障率。
897
0
本发明涉及一种晶圆测试参数设置方法，不需要人工设置探针台配置文件。同一产品，得到客户提供的批号、片号、相应目标坐标信息和管芯参数要求后，探针台取得当前机台内的晶圆相应批号、片号和坐标信息，测试机按照输入信息参照目标坐标进行相应管芯的自动测试扫描，并对失效管芯进行周围位置管芯补测，自动测试的同时对失效进行验证和数据补充。保证测试数据的正确性，测试灵活并且适应各种客户要求，避免人工设定造成的误操作，有效地提高测试效率和质量。
本发明提供一种FPGA辐射测试模块、ASIC芯片抗辐射性能评估系统及方法，包括：时钟复位生成单元，产生系统时钟及复位信号；输入激励生成单元，产生测试用激励；被测软ASIC单元；采集对比表决与测试流程控制单元，采集各被测软ASIC单元及外部被测ASIC芯片的状态值，并对比判定得到判定结果；监控接口单元，将状态值及判定结果汇总后发送出去；通信接口模块，传输正常工作状态时的通讯数据。本发明性能高、容量大、速度快、灵活性高，如有失效事件发生，该系统还具有精确判定失效事件发生时刻，被测ASIC时序、内部状态及大致的内部路径位置的能力。
894
0
本发明涉及一种基于强化和损伤的移动S-N曲线疲劳寿命预测方法,预测步骤为:1.确定材料或零件的应力—寿命曲线,即S-N曲线;2.确定材料或零件的强化特性;3.根据变幅载荷谱中载荷的循环次数计算材料或零件的强化或损伤量;4.根据材料或零件的强化或损伤量移动S-N曲线,计算新的S-N曲线;5.疲劳寿命计算,重复步骤三和步骤四直到材料或零件失效——即累积损伤和为1,失效时的载荷累积总循环次数为材料或零件的疲劳寿命。本发明以传统的疲劳寿命预测方法为基础,在变幅载荷下预测疲劳寿命时,不仅考虑载荷的损伤,还考虑了载荷的强化,预测方法更接近于实际情况。本发明以传统的S-N曲线为基础,预测过程中计算简单、方便。
1039
0
本申请实施例提供一种风电场产能预测方法、系统及风电场布局设计优化方法，其中，风电场包括多个节点和连接多个节点的集电线缆，多个节点包括多个风机，风电场布局设计优化方法包括：确定当前风电场布局下的风电场的在预设时长内的总理论产能；根据当前风电场布局下的集电线缆的失效率，确定风电场在预设时长内的失效场景；根据总理论产能和失效场景，确定当前风电场布局下的风电场在预设时长内的总实际产能。本申请的风电场产能预测方法准确性高。
897
0
本发明提供了一种运行寿命建模方法及运行寿命预测方法，运行寿命建模方法包括以下步骤：获取t个待测试功率模块，并对每一待测试功率模块通电使得待测试功率模块于同一测试电流下形成具有期望结温差值的结温波动；持续对每一待测试功率模块通电直至每一待测试功率模块损坏，记录每一待测试功率模块自测试起至损坏的通电次数，并以通电次数为X轴，累计失效率为Y轴建立韦布尔概率分布图；选取韦布尔概率分布图中累计失效率为m％的测试点，并提取测试点的通电次数为寿命值；将寿命值和结温差值代入寿命模型，以拟合出一寿命模型曲线。采用上述技术方案后，可适用于各类封装的功率模块并适用于各种应用场景，且所建立的模型具有更强的针对性。
898
0
一种接触式MEMS开关寿命测试的方法和仪器,属接触式MEMS开关器件测试技术领域,该方法利用连续方波脉冲信号驱动被测接触式MEMS开关的上、下电极,在该开关正常,即第一、二接触点间有开关动作时,计数器计数连续方波脉冲信号的脉冲个数,直至该开关疲劳失效,即第一、二接触点间无开关动作时,计数器停止计数,显示器显示的数字就是该被测开关的寿命指标,该仪器由方波发生器10、脉冲幅度转换器20、测试架30、开关动作监视器40、二输入端与门50、七位十进计数器及显示器60、指示器70和电源80组成,有线路抗干扰性能好,结构简单,元器件通用,测试效率高,每测试一个开关,时间仅为2～3min等优点,本发明特别适于用来测试接触式MEMS开关的寿命。
696
0
本发明提供了一种恒温电迁移测试中的电流加速因子评估方法，包括：第一步骤：确定一组测试温度和载台温度，以得出金属测试结构的经待测金属线的电流；第二步骤：固定测试温度，通过载台温度调节的方式来改变载台温度，得到经待测金属线的调节后电流；重复第一步骤和第二步骤以得到多组数据，其中每组数据包括电流数据和失效寿命数据；第三步骤：利用所述多组数据，通过金属寿命布莱克方程，计算出该金属测试结构的电流加速因子；第四步骤：利用电流加速因子，结合自校准式恒温电迁移活化能的评估方法，实现在恒温电迁移测试下的金属寿命计算。
1061
0
本发明涉及一种基于灰色模型的动调陀螺仪寿命预测方法,通过对寿命测试期间的振动有效值、随机漂移和环境温度参数的数据采集,并运用径向基神经网络进行预处理,去除环境温度对振动有效值和漂移的影响,再减去漂移常值项,得到只和时间相关的随机漂移数据和振动有效值数据,然后采用小波变换提取出振动有效值和随机漂移的趋势项,对它们的趋势项分别建立灰色单变量一阶模型,当预测值超过性能参数容限值时,认为动调陀螺仪失效,预测的两个寿命值中,数据小的则为动调陀螺仪的寿命。本发明利用寿命试验期产品的性能参数来预测寿命,揭示性能参数与动调陀螺仪寿命的规律,简单易行,经济可靠。
本发明提供了一种基于IEEE?1149.1协议的封装过程中的测试方法，包括：在符合IEEE1149.1标准的所述器件上增加一TRD，所述TRD用于返回所述器件的数据；在IEEE1149.1标准中增加一返回数据指令，所述返回数据指令用于控制所述引脚接口TRD与TDO端的连接的状态，利用所述引脚接口TRD和所述返回数据指令共同实现所述封装过程中任一所述器件的TDO端的数据返回。使得集成电路器件在组装或者堆叠过程中，每组装或者堆叠一个器件，均可进行实时测试，而不需要等待组装或者堆叠工艺全部完成后才能测试，还可以进一步确认组装或者堆叠过程中失效器件的具体位置。
713
0
本发明公开了一种晶圆测试芯片状态图的分类方法，包括步骤：根据晶圆允收测试得到需要标记为失效测试项目类的指定芯片并将指定芯片的坐标记录在配置文件中；对晶圆进行分步测试，在执行当前测试步的下降接触前都对指定芯片的信息做判断并将位于下降接触区域的指定芯片排除在测试对象之外；进行当前测试步的芯片状态图的打印将对应指定芯片的状态打印为失效测试项目类；将各步测试得到的芯片状态图生成整片晶圆的芯片状态图。本发明能有效减少测试时间，能有效保护测试硬件，减少工序流程并有效减少出错几率和提高工作效率。
735
0
本发明公开了一种对半导体器件进行晶圆级老化测试的方法,该方法包括:将测试探针接触晶圆上的半导体器件的压焊建立电学连接并进行初始测试;按照设置的老化测试规则通过测试探针对晶圆上的各个半导体器件施加电压应力,分别进行监控测试;判断测得的晶圆上的各个半导体器件的相关的电学参数是否符合所设置的对应老化判断标准,确定符合的晶圆为好且老化等级为判断标准;确定不符合的晶圆失效。本发明提供的方法降低了半导体器件的测试成本及提高半导体器件的测试效率。
740
0
本发明提供了一种处理器系统故障的预测与诊断方法和装置，处理器系统故障的预测与诊断方法包括以下步骤：利用数据清洗方法，构建结构化的故障样本数据集；利用贝叶斯网络模型，建立处理器系统故障的传播关系网络；利用LSTM网络，级联所述贝叶斯网络模型，对所述处理器系统的故障进行预测和诊断。所述处理器系统故障的预测与诊断装置适用于执行所述处理器系统故障的预测与诊断方法。该方法可以利用数据驱动的方式实现处理器系统“故障源‑系统失效行为”的双向概率推理，并利用模型级联的方式实现处理器系统故障的失效类型预测。
854
0
一种测试技术领域的基于电路分割的低功耗扫描测试方法,步骤如下:1)电路分割:对设计进行逻辑划分,划分后一个逻辑部分对应一个扫描测试模式;2)扫描时钟设计:对各个逻辑部分进行扫描测试时,每一时刻只有一个逻辑部分的扫描时序单元的时钟可控制;3)独立扫描链电路设计:对于整个设计进行逻辑分割后,各个划分的测试逻辑部分是互异的关系;4)输入输出复用:划分的多个逻辑部分都有对应的扫描链,各逻辑部分的扫描链通过多路选择器复用共同的输入输出端口。本发明减少了同时进行扫描测试的扫描触发器的数量,大大降低了瞬时测试功耗,平均功耗也有所降低,从而避免了芯片在测试过程中由于功耗过大而失效。
647
0
本发明公开了一种金属互连线电迁移的测试结构,包括本征多晶硅电阻、互连线测试结构、温度监控电阻和层间介质层,所述互连线测试结构和所述温度监控电阻相互平行且并排设置,所述本征多晶硅电阻位于所述层间介质层之下,所述互连线测试结构与温度监控电阻位于所述层间介质层之上。本发明还公开了一种金属互连线电迁移的测试方法,在给本征多晶硅电阻通电流使互连线测试结构周围温度达到设定温度之后,给互连线测试结构通恒定电流,并记录失效时间。本发明对金属互连线电迁移的评价不需要因在划片后进行封装测试而消耗硅片,从而大大的降低了成本,并且缩短了测试时间,提高了测试效率,可以实时监控工艺变化对金属互连线电迁移的影响。
649
0
本发明提供了一种金属电迁移测试电路结构，包括：由下至上的多层金属层；连接相邻所述金属层的通孔层；与所有所述金属层连通并向所有所述金属层和所述通孔层提供电流的引线端；以及，位于每层所述金属层上的测试线，通过测试所述测试线上的信号，以判断所述金属层或所述通孔层是否发生电迁移。在本发明提供的金属电迁移测试电路结构中，通过测试通孔层连接的相邻所述金属层上的测试线的信号，以判断所述金属层或所述通孔层是否发生电迁移，而多个测试线，可以同时测试到多个待测试失效问题的位置，并且测试后能根据不同测试线的位置精确定位到具体失效的位置。
882
0
本发明提供了一种星载姿轨控制导与导航软件的测试方法，包括：测试设计过程，具体包括：S0：利用失效模式库完善测试用例库，使得测试用例库覆盖已知所有的失效模式；S1：对待测的测试项的模块进行关键程度划分，并对各测试项进行优先等级的划分；S2：根据各测试项的优先等级，确定测试用例库中的测试用例的测试优先级；S3：根据所述测试优先级情况和测试需求，选择本次测试的用例集合；测试执行过程，具体包括：S4：根据各模块的关键程度对各模块进行静态测试；并且根据测试优先级实施用例集合中的测试用例，进而实现动态测试；在测试执行过程之中和/或之后，还包括对静态测试和动态测试进行充分性评价的过程。
739
0
本发明公开了一种在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法,在并行测试机台的程序中将写前一档补正数据向量和读下一档读时间向量合并为一个测试向量,得到多个测试向量,然后并行测试机台依次执行所述多个测试向量,不断循环直到同测对象集合中所有被测的芯片全部失效剔除或到循环结束,最后将为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道连接的被测芯片中最后写入的芯片补正数据激活,各被测芯片中的时钟周期微调电路根据最后写入的芯片补正数据对时钟周期进行微调。本发明能对多芯片进行频率同测。
668
0
本实用新型涉及汽车领域的测试装置，旨在提供一种新型的ESP/ABS泵的测试装置，该装置包括被测试泵单元，被测试泵单元还相连着油泵进油部分、可调节出油压力部分、流量测量部分和工控机部分。通过本实用新型装置可进行单个油泵单元测试，无需用总成做测试件，对ABS泵和蓄能器零件的失效能提前预测，降低了失效风险，也降低了软硬件的复杂度，进而降低成本；本实用新型简化了测试过程，缩短测试周期，降低测试难度，并且采集的数据更加可靠，测试准确性更高。
1046
0
本发明公开了一种晶圆测试中动态修改参数达到提高良率的方法，包括如下步骤：以若干颗的DIE的数据为样本；在ATE中进行相关设置；进行DIE样本的测试；判断测试结果；S20中的包括设置DIE测试fail时的BIN号以及设置需要修改的测试参数初始值，S50中的具体的判定方式为：若设置DIE在fail时的BIN号的失效率满足要求，则不需要进行参数的更改，整个测试结束；若设置DIE在fail时的BIN号的失效率不满足要求，则更改参数并重新返回执行S30‑S50的步骤，直到测试结果符合，整个测试结束，通过动态的修改参数以达到提高良率的方法，降低了对专业技术人员的依赖性，减少了不必要的人力成本和物力成本，极大的提高了产能、节省了时间。
本发明涉及前端围栏,尤其涉及一种使用线路终结器的前端围栏及使用其的电子脉冲式探测器。本发明前端围栏,包括一高压探测线,该高压探测线串联一电子线路终结器。本发明电子脉冲式探测器,包括前述前端围栏及一电子围栏主机,该电子围栏主机包括高压整流滤波电路和对前述电路输出信号进行判断的微控制器,该高压整流滤波电路含有至少两个输入端和一个输出端,输入端同串联电子线路终结器的前端围栏相连接,输出端同为控制器相连接。通过本发明前端围栏的结构,减少了主机端子个数,使主机结构简单化;并解决了电子围栏6线制(或以上线制)中存在高压等电位问题;且解决了通过非法旁路而造成报警失效的难题。
704
0
本发明涉及一种静电微量润滑有效性的评价方法及监测装置，评价方法：采集切削液的pH值pH、流量q、温度T、浓度值电阻率ρ、TDS值TDS、余氧量RO、浊度NTU，及静电微量润滑电压V、切削液气雾浓度值ω后，将参数分别代入公式计算冷却、润滑失效系数，当对应系数超过1时，判断冷却或润滑失效；反之，未失效；监测装置包括静电电压传感器、切削液气雾浓度值传感器及包含pH值传感器、流量传感器、温度传感器、浓度值传感器、电阻率传感器、TDS值传感器、余氧量传感器和浊度传感器的监测传感器箱；本发明的评价方法，能够评估静电微量润滑的有效性，确保加工效果；本发明的装置，能够保证静电微量润滑的可靠性。
中冶有色为您提供最新的上海有色金属分析检测技术理论与应用信息，涵盖发明专利、权利要求、说明书、技术领域、背景技术、实用新型内容及具体实施方式等有色技术内容。打造最具专业性的有色金属技术理论与应用平台！
2024年09月19日 ~ 21日 
2024年09月24日 ~ 26日 
2024年10月11日 ~ 13日 
2024年11月01日 ~ 04日 
2024年12月20日 ~ 22日 
