本发明公开了一种存储器的测试方法,所述存储器具有n个测试项目,所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断,其中,1≤i≤n,1≤N≤100,且i和N均为整数;当i小于n时,若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格,则进入测试项目i+1的测试;当i等于n时,若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格,则判断所述存储器为合格品;当N小于100时,若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效,则进行对所述测试项目i的第N+1次判断;当N等于100时,若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效,则判断所述存储器为不合格品。这样的测试方法可以大幅度提高测试稳定性,大大降低误判率,从而提高产品良率。
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