合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> FPGA辐射测试模块、ASIC芯片抗辐射性能评估系统及方法

FPGA辐射测试模块、ASIC芯片抗辐射性能评估系统及方法

666   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
本发明提供一种FPGA辐射测试模块、ASIC芯片抗辐射性能评估系统及方法,包括:时钟复位生成单元,产生系统时钟及复位信号;输入激励生成单元,产生测试用激励;被测软ASIC单元;采集对比表决与测试流程控制单元,采集各被测软ASIC单元及外部被测ASIC芯片的状态值,并对比判定得到判定结果;监控接口单元,将状态值及判定结果汇总后发送出去;通信接口模块,传输正常工作状态时的通讯数据。本发明性能高、容量大、速度快、灵活性高,如有失效事件发生,该系统还具有精确判定失效事件发生时刻,被测ASIC时序、内部状态及大致的内部路径位置的能力。
声明:
“FPGA辐射测试模块、ASIC芯片抗辐射性能评估系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记