本发明提供了一种运行寿命建模方法及运行寿命预测方法,运行寿命建模方法包括以下步骤:获取t个待测试功率模块,并对每一待测试功率模块通电使得待测试功率模块于同一测试电流下形成具有期望结温差值的结温波动;持续对每一待测试功率模块通电直至每一待测试功率模块损坏,记录每一待测试功率模块自测试起至损坏的通电次数,并以通电次数为X轴,累计失效率为Y轴建立韦布尔概率分布图;选取韦布尔概率分布图中累计失效率为m%的测试点,并提取测试点的通电次数为寿命值;将寿命值和结温差值代入寿命模型,以拟合出一寿命模型曲线。采用上述技术方案后,可适用于各类封装的功率模块并适用于各种应用场景,且所建立的模型具有更强的针对性。
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