X射线荧光镀层测厚仪(AL-NP-7010)
	
	X射线荧光镀层测厚仪是采用能量色散X荧光分析技术,同时测量多种元素的分析仪器,根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。另外配以功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及元素含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。此仪器具有测量元素含量与镀层厚度检测的两种功能。
	
	广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、五金、PCB、卫浴、电子电器、贵重金属等行业。
	
	整机性能:
	
	●FAST SDD探测器
	
	探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪
	
	性能的主要指标之一
	
	分 辨 率 < 122eV (分辨率越低则灵敏度越高)
	
	计 数 率 > 1,000,000CPS
	
	铍窗厚度 = 0.005mm
	
	探测功率 < 1.2W
	
	●X射线管 靶材 铑(Rh)或钨(W)
	
	管电压 5-50KV
	
	管电流 1-1000uA
	
	●多道脉冲幅度分析器(俗称谱仪能量刻度)
	
	通道数:2048道
	
	●电源控制器
	
	系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)
	
	恒定制冷控制 400 VDC
	
	●低功率小型侧窗X射线发生器(俗称X光管)
	
	经过内部嵌
铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。罐绝缘油用于高压绝缘和冷却,0.005英寸铍窗标准窗口,额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命>15000小时。
 
	
	●高压发生器
	
	输入:85~265Vac,47~63Hz,功率因数校正。
	
	1kV~5kV的型号符合UL85~250Vac输入标准
	
	电压变动率:无负载到满负载,输出电压的0.01%
	
	电流变动率:0~额定电压,输出电流的0.01%
	
	纹波:输出电压的0.25%峰-峰
	
	温度系数:电压或电流调定,0.01%/℃
	
	稳定性:预热半小时后,0.05%/8小时
	
	●滤光片自动转换系统
	
	滤光片自动转换系统:6种滤光片自动选择并自动转换(滤光片作用:改善激发源的谱线能谱成分,在进行多元素分析时,用来抑制高含量组分的强X射线荧光,提高待测元素的测量精度)。
	
	●安全防辐射系统
	
	重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理(从源头做起)
	
	全封闭铅板双层防辐设计(从设计结构做起)
	
	全自动铅板滤光片自动屏蔽装置
	
	样品盖意外开启X射线强制中断装置
	
	延时测试与X射线警示系统
	
	●强大的分析软件工作站
	
	一键式的操作软件,简单易用,无需专业知识。
	
	人性化的人机界面
	
	各种测试参数无需操作人员设定,强大定制报告功能。
	
	测试数据自动存储,具有历史查询功能。
	
	最前沿的定性定量分析方法。
	
	可同时分析几十种元素。
	
	元素分析快速,分析时间从30秒到900秒可调。
	
	长时间待机不用,自动降低管压、管流,延长X光管寿命。
	
	对X射线管进行温度管控,保护X射线管并延长它寿命。
	
	实时监测仪器运行状态,轻易维护仪器。
	
	防止在测试样品时打开样品盖的误操作,软件有警示操作提示,同时关闭高压电源。
	
	●样品分析的种类
	
	可直接检测固体、液体、粉末,不需要复杂的制样过程,直接无损分析样品。
	
	●专业的镀层厚度检测
	
	可分析单镀层、多镀层以及合金镀层。
	
	具有多种镀层的分析方法。
	
	分析厚度:一般0.05-50um(不同元素厚度有所不同)。