其他有色金属失效分析技术理论与应用

使用线性反馈移位寄存器在存储器内建自测试环境中的故障诊断 1004     

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本发明所公开内容为在存储器内建自测试环境中对失败的存储器测试的测试响应标记进行暂时压缩的方法和器件,其目的是即使在检测到多个与时间相关的存储器测试故障时也能够进行存储器内建自测试操作。在本发明的一些实施例中,被压缩的测试响应标记在自动化测试设备器件上与存储器位置信息一起给出。根据本发明的各种实施例,带有嵌入式存储器(204)的集成电路以及存储器BIST控制器(206)还包括用作标记寄存器的线性反馈结构(410),可在存储器测试的某一测试步骤中对来自嵌入式存储器阵列的测试响应标记进行暂时压缩。在各种实施例申,集成电路还可能包括失效字计数器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以对失败的测试响应收集存储器位置信息。

用于预测发动机及其部件的剩余使用寿命的方法 881     

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一种用于预测具有部件（18、19、22、23）的发动机（10）的剩余使用寿命的方法，所述部件由传感器（50）检测，该传感器（50）产生指示所述部件的运行状况的电子数据信号，该方法包括：识别（52）一个或多个部件并识别每个部件的限制所述部件和发动机的运行寿命的至少一种失效模式。该方法还包括：获得（62）并存储有关所述部件的与所识别失效模式关联的现有运行状况的数据；以及接着基于有关所述部件的现有运行状况的数据、有关与失效模式相关联的运行状况的历史数据、以及所预测的失效模式速率，确定（68）所述部件的剩余使用寿命。

监测元件和结构的完整性的方法和装置 627     

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为监测置于包含处于环境压力下的流体(F)的环境中结构(10)的完整性提供一种方法和装置。结构(10)包括外壳(12)和多个内腔(14)。该方法包括:施加另一流体至腔体(14),施加的流体处于稍大于大气环境压力(F)的压力下。监测施加的流体的流率,来检测流率的变化。流率的变化表明了通过结构(10)的额外流体渗漏,从而提供了结构(10)的完整性失效的高级报警。通过使施加的流体流过高流量阻件(28)和用转换器(30)监测阻件(28)两端压力的变化,可实现监测功能。

电子镇流器的灯寿命终止单点感测、防电弧放电和空载保护 800     

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披露了系统和方法,所述系统和方法有利于感测灯处于寿命终止(EOL)阶段时或者灯经历例如灯与其支座之间的触点受损时可能出现的电弧放电传导情形时灯用镇流器中的脉冲。通过感测脉冲,微控制器可基于检测到的脉冲宽度区分EOL和电弧放电情形,并可起动适当的响应。例如,如果脉冲由电弧放电现象引起,则微控制器可在重启灯之前短时中断灯的工作,以减少电弧放电情形。如果脉冲由EOL情形引起,则微控制器可将灯置于预热或重启模式以加速灯的失效。在任一情况下,对感测脉冲的响应均减少可破坏灯座的危险高灯温的出现。

用于照明元件测试的故障保护电流源 757     

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提供了一种故障保护电流源，其可以用来在可靠性测试系统中安全驱动地LED。该电流源包括检测在LED可靠性测试系统中发现的常见故障的电路和过程。在检测到故障之后，该电流源在破坏性尖峰产生之前关闭驱动器。因为仅将真实LED失效计数，所以该故障保护电流源可以用来构造产生更准确的可靠性测试数据的可靠性测试系统。

流体状态监测器 882     

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本发明是一种小型设备和在工作设备中以有效方式直接监测工作流体状态和液面高度的方法。提供一种包括多个液体传感器和多个蒸汽传感器的传感器装置,在不同温度下互相结合使用时,可以全面评价流体的氧化降级,液体污染和固体污染以检测流体使用寿命的终结。通过在相同传感器装置上提供液体传感器和蒸汽传感器,本发明能够以小型、有效和经济可行的方式监测流体的状态以及在其他元件损坏和最终设备失效之前检测非正常的工作状态。

健康监测系统的帮助诊断和维护方法与机构 731     

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本发明涉及健康监测网络的系统和方法,其利用对动态注册传感器数据流的实时故障检查来自动检测故障或失效传感器。监测系统和传感器网络可以提供单触式系统来在传感器需要注意时通知用户,而无需事先了解网络中的传感器的操作特性、安装方法或配置。网络利用决策引擎根据基于个人偏好和能力的简档帮助维护。

用于加热和烹调装置的温度测量电路 1050     

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一种温度测量电路,通过分支电阻将一个温度传感器,比如热敏电阻,连接到一个基准电压源,比较装置把所述传感器连接点的电压与规定的电压作比较,以检测所述温度传感器所检测的值,经过简化的电路能够检测出所述的温度传感器的失效,比如传感器的断裂或烧断。

测试装置 624     

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本发明提供一种以高效率管理测试结果为目的的测试装置,该测试装置包括:测试被测试存储器的各单元的测试部;对应被测试存储器的各单元,在失效存储器中保存表示该单元好坏的失效信息的失效信息保存部;对被测试存储器具有的每个块,计数在该块内中被检测出的不良单元的数目的计数部;块接收要求读出块所包含的各单元的失效信息的读出要求接收部;将读出目标块内的不良单元的数和预先被确定的基准数进行比较的比较部;把读出目标块内的不良单元的数超过基准数作为条件,为了对读出要求回信,将包含读出目标块内的各单元的失效信息的回信数据列中,连续的复数的失效信息转换成表示品质不良的值的变换部;以及回信数据列压缩后回信的压缩部。

将波束恢复测量优先于其他测量 1045     

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根据第一实施方式，一种方法可以包括由用户设备确定波束失效实例的数目大于或等于至少一个阈值。该方法可进一步包括由用户设备发起对至少一个波束候选集的至少一个测量。该方法可进一步包括由用户设备暂停由用户设备执行的非波束候选测量。

用于监测集成电路上金属退化的电路 956     

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本发明涉及用于监测集成电路上金属退化的电路。一种集成电路(IC)，具有诸如功率MOSFET的热发生元件、耦合到热发生元件的载流导体、邻近载流导体的感测导体以及耦合到感测导体的失效检测电路。当IC的热循环导致感测导体的电阻变得大于依赖于温度的阈值时，失效检测电路生成信号，该信号指示集成电路将不久失效。由通过将电流注入到感测导体中以生成电压来确定感测导体的电阻。依赖于温度的阈值是通过将电流注入到被布置得远离载流和感测导体的参考导体中所生成的电压。电压比较器比校两个电压以生成输出。替代地，失效检测电路包括处理器，该处理器从在集成电路上采取的温度测量计算依赖于温度的阈值。

用于监测硬盘的健康状况的方法和装置 694     

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本发明的各种实施例提供了一种用于监测硬盘健康状况的方法和装置。该方法包括获取与硬盘相关联的全维度特征，其中全维度特征包括以下各项中的至少两项：硬盘性能信息、数据完整性信息、输入／输出I／O正确性信息、以及硬盘的自动监视分析和报告技术S.M.A.R.T.报告。该方法还包括基于全维度特征确定硬盘的健康状况。在本发明的实施例中，根据反映硬盘的多方面状况的全维度特征对硬盘的健康状况进行评估，可以降低对硬盘的健康状况的误判率，从而使得硬盘更换次数降低、更换成本降低，并且还将会能够及时发现存储系统中实际失效的其他部件。

具有改良式压柱的测试座及其测试系统 868     

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本发明公开了一种具有改良式压柱的测试座及其测试系统，测试座包括：一吸测盘、一套衬座、及一基座。吸测盘具有多个压柱，每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部；套衬座上具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室，多个容纳室对应多个压柱而设置；基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。其中，吸测盘的每一压柱分别置入套设于套衬座的每一容纳室。由此，可避免在吸取移动及压测待测传感器时，造成待测传感器的感应元件，产生测试失效等问题。

半导体存储装置及检查方法 924     

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提供一种半导体存储装置,具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种:对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21),对由特定的行地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40),对由特定的列地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。

内建自行测试系统及方法 714     

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外部测试装置系被使用以仿造一内部BIST测试,因此使获取或产生详细测试结果为可能。通过在测试时间实时仿真BIST测试序列,外部测试器可能监控自BIST之一输出且决定失败发生的确实位置。外部测试器可能产生一位失败映像指示是否每一内存位置通过或未通过BIST测试。

超声探头换能器测试 918     

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通过在其透镜与空气接触的情况下操作探头来针对其阵列换能器的元件的失效对超声探头进行测试。在该操作模式期间产生的回波信号被波束形成为由所述探头产生的扫描线的常见集合。每条扫描线的频率响应被分析，并且和与测试中的所述探头相同类型的已知好探头的对应扫描线的频率响应的参考信号进行比较。如果比较披露方差大于预定的偏差，那么警告用户所述探头应当被更换。

机器剩余使用寿命的预测方法 946     

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一种基于时间——特征值的数据记录对机器的剩余使用寿命进行预测的方法，包含以下步骤：步骤1)采用回归分析法拟合出反映时间与特征值之间变量关系的机器寿命曲线的数学模型，并根据所述模型计算出寿命曲线到达预设的失效阈值所需的时间，即预期剩余使用寿命；以及步骤2)、以随机缺省部分数据的方式重复执行上述步骤1，并根据重复执行的结果统计出预期剩余使用寿命的概率分布，其中最大概率分布处所对应的剩余使用寿命被确定为机器最有可能的预期剩余使用寿命。上述方法避免了以单一寿命曲线模型预测机器剩余使用寿命的偏执性，能够显著提高机器预测的可靠性和准确性。

用于远程感测等离子体的系统和方法 734     

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本发明提供一种用于远程监测等离子体(3)的方法和系统，该系统包括位于耦合等离子体源的近电磁场中的磁场天线(2)，其中，该磁场天线是置于该近电磁场中的磁环天线并测量从该等离子体源发射的近场信号。一种无线电系统(1)用于分析宽频带上的低功率信号电平。通过对驱动频率的高次谐波上所存在的谐振特征进行拟合来评估诸如串联或几何谐振等离子体频率、和电子中性碰撞频率之类的等离子体参数，以标识制造等离子体系统中常见的电弧、泵、或匹配失效事件。

用于燃料质量的声学监测装置 607     

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在本发明的框架内发展出一种用于监测储存在燃料箱中的燃料的质量的装置。主要应用领域是柴油驱动的车辆。因此，燃料优选是柴油燃料。所述装置的特征在于，设置用于确定燃料沸点的器件。此外，在本发明的框架内也发展出一种用于监测储存在燃料箱中的燃料的质量的方法。主要应用领域是柴油驱动的车辆。因此，所述燃料优选是柴油燃料。所述方法的特征在于，测量所述燃料的沸点或者该沸点与标准值的偏差。在分析实际失效的喷射泵时看出，燃料的过低的沸点会导致所述燃料的气体析出。结果是在喷射泵中形成气泡，在所述气泡中局部地不再存在必需的润滑。此外，润滑作用依赖于，所述燃料具有确定的最小粘度。低沸点也与低粘度相关。因此，沸点(初沸点，IBP)总体是刚好针对燃料的带来特别昂贵损害的标准偏差的特别好的指标。

带有冗余的泄放歧管的电子可控且可测试的涡轮机跳闸系统及方法 941     

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一种配合例如涡轮机使用的跳闸控制系统，包括支撑并提供流体给两个或多个跳闸歧管的入口歧管，每个跳闸歧管包括具有在跳闸联箱管线和返回或切断管线之间并联的两个或多个泄放阀从而将液压流体压力从跳闸联箱管线泄放进而导致跳闸的泄放回路。每个跳闸歧管的泄放阀由在控制器的控制下的一个或多个控制阀驱动。跳闸控制系统被双倍冗余的，其中所述跳闸控制系统包括并列运行的冗余的跳闸歧管，以使得每个跳闸歧管能被用于独立地接合涡轮机的跳闸装置，以及每个跳闸歧管包括在跳闸歧管的一组组件中的一个出现失效的情况下或者在跳闸歧管的多个组件被测试时，能使跳闸歧管运行以接合涡轮机跳闸装置的冗余的阀组和其他跳闸组件。

入口歧管、跳闸控制系统、跳闸歧管系统及其操作方法以及测试方法 741     

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本发明提供了入口歧管、跳闸控制系统、跳闸歧管系统及其操作方法以及测试方法，其中尤其涉及配合例如涡轮机使用的跳闸控制系统，其包括支撑并提供流体给两个或多个跳闸歧管的入口歧管，每个跳闸歧管包括具有在跳闸联箱管线和返回或切断管线之间并联的两个或多个泄放阀从而将液压流体压力从跳闸联箱管线泄放进而导致跳闸的泄放回路。每个跳闸歧管的泄放阀由在控制器的控制下的一个或多个控制阀驱动。跳闸控制系统被双倍冗余的，其中所述跳闸控制系统包括并列运行的冗余的跳闸歧管，以使得每个跳闸歧管能被用于独立地接合涡轮机的跳闸装置，以及每个跳闸歧管包括在跳闸歧管的一组组件中的一个出现失效的情况下或者在跳闸歧管的多个组件被测试时，能使跳闸歧管运行以接合涡轮机跳闸装置的冗余的阀组和其他跳闸组件。

材料磨损寿命预测方法、设备、和材料磨损测试装置 652     

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本发明公开一种材料磨损寿命的预测方法、设备和材料磨损测试装置。该方法包括设定测试条件的参数；获取材料在测试条件中的摩擦性能的数据和材料的失效临界硬度；对数据进行处理，得到材料的摩擦性能的变化关系；根据变化关系和失效临界硬度，计算材料的磨损寿命。该装置包括：基盘；磨片，磨片用于与样品进行摩擦，磨片被固定在基盘上；温度控制单元，用于控制测试环境的温度；压力控制单元，用于对样品施加恒定压力；平衡臂，平衡臂的一端与样品同轴线相连，通过调整平衡臂，改变样品在磨片上的摩擦角度；驱动单元，与基盘相连，用于控制基盘的转动速度和转动方向。本发明对材料磨损寿命进行准确预测，提高试验效率和试验经济性。

位置测量装置和用于运行位置测量装置的方法 950     

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本发明涉及位置测量装置和用于运行位置测量装置的方法。所述位置测量装置具有：分度载体，在该分度载体上布置有测量分度，至少一个位置传感器，利用其通过扫描测量分度可生成与位置有关的测量信号，处理单元，利用所述处理单元可将与位置有关的测量信号处理成位置信号，和用于经由至少一个数据传输通道与随动电子装置通信的接口单元，其中所述位置测量装置包括监控单元，给所述监控单元可输送位置测量装置的至少一个运行条件，并且所述监控单元包括评估单元，所述评估单元根据至少一个运行条件来测定至少一个要监控的部件的部件失效率，并且由此测定位置测量装置的当前运行失效率。本发明进一步涉及一种用于运行这样的位置测量装置的方法。

阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构 648     

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本发明提供一种阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构,其在一待测电子元件基板底部的第一接点群中,以螺旋状方式或有规律的连续式回路设计使每二毗邻的接点形成短路;并在一相对应的测试电路板基板表面的第二接点群中,以反螺旋状方式或有规律的反向连续式回路设计将其分组使每二毗邻的接点形成短路,且对应于待测电子元件第一接点群的短路则为开路;再利用复数导电接点导通第一接点群及第二接点群,进而依该测试电路板的分组路线而将偶数个导电接点串联成监测回路;连续测试每一该监测回路的电阻变化及其发生的异常事件,以据此判读得知某一特定监测回路的导电接点失效,达到导电接点多点式且为连续即时性的可靠性监控测试的功效。

用于储存真空计校准参数及测量数据于真空计结构上的方法及装置 920     

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一种用以借由组合离子化真空计与至少一其它的真空感测器来测量气体压力的方法及装置。耦接于真空计的非依电性记忆体含有依据工厂校准而定的各个个别感测器唯一的校准参数。该非依电性记忆体可含有用于一热敏真空感测器的校准参数,以补偿由该离子化真空计所产生的温度梯度。该等校准参数是当离子化真空计开启及关闭时所判断的校准数据的函数。该非依电性记忆体可储存该真空计的一视窗的测试数据,该非依电性记忆体更新于预定的时间间隔及回应于一诸如错误事件的事件,以协助调查真空计故障或失效的原因。

测试模块及测试方法 949     

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本发明可简单计算每个测试图案错误率。本发明提供一种测试被测试设备的测试模块,包括:图案生成部,基于图案程序生成给予被测试设备的测试图案及对应测试图案的期望值图案;输出图案取得部,取得被给予测试图案的被测试设备所输出的输出图案;比较部,对输出图案与期望值图案进行比较;失效计数器,计数比较部的输出图案与期望值图案比较为不一致时输出的失效信息的输出次数;控制部,通过图案程序包含的控制命令控制失效计数器的动作。

轴承剩余寿命的监测方法及监测装置 602     

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一种轴承剩余寿命的监测方法及监测装置，其中监测方法包括：在轴承运行过程中，确定轴承的缺陷所在的位置，确定所述缺陷的大小；根据所述缺陷所在的位置和设定条件，确定所述轴承的失效模式，以及在所述失效模式下所述缺陷的扩展速率和失效值，所述失效值为所述轴承失效时所述缺陷能够达到的最大值；基于所述缺陷的大小、所述扩展速率以及所述失效值，获得所述轴承剩余寿命。本方案能够判断轴承的剩余使用寿命，以便维护人员提前安排维护计划和应对措施。

用于放大器模块的预测性维护的方法和系统 597     

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本发明公开了一种用于执行放大器模块(12)的预测性维护的方法。经由测量数据获取单元(18)获取至少一个放大器模块(12)的至少一个参数。经由测量数据分析单元分析所获取的至少一个参数，以便预测至少一个放大器模块(12)的失效概率和/或时间。此外，描述了一种系统(10)。

测试装置以及测试方法 806     

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本发明提供一种对用于存储附加了错误订正符号的数据流的被测试存储器(以下称为DUT)进行有效测试的测试装置。该测试装置将从DUT读取的数据流所包含的各比特与期望值相比较。该比较结果作为表示DUT的每个存储单元是否合格的比特合格/失效信息被存储在第一失效存储器(以下称为FM)中。存储装置在每一页统计与期望值不一致的比特数,并在DUT的每一级别及每一页,判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件。该判断结果作为在每个级别表示各页是否合格的页合格/失效信息被存储在第二FM中。如果包含有对应某存储单元的比特的页满足某级别条件的比特合格信息存储在第二FM中,则测试装置将第一FM的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。

可失活的测量装置 854     

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描述了测量装置(2;90;100;150;200;250),其包括:测量部分(6;158;254),其用于获取对象测量结果;以及输出部分(8;46),其用于输出与所获取的对象测量结果相关的测量数据。设置失活部分(10;58;260),其用于阻止所述测量装置的正常操作,使得测量数据的输出被阻止。在使用中,失活部分(10;58;260)从装置使用模块(18;114B;162;206;268)读取装置使用信息,并在装置使用信息没有满足一个或多个预定标准时阻止测量装置的正常操作。装置使用模块可以设置成测量装置的一体的部分(114B;162;206),或者作为单独的激活按钮(18;268)。该测量装置可包括测量探头(2;90;100;150;200),例如碰触触发式测量探头。