合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构

阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构

690   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:13
本发明提供一种阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构,其在一待测电子元件基板底部的第一接点群中,以螺旋状方式或有规律的连续式回路设计使每二毗邻的接点形成短路;并在一相对应的测试电路板基板表面的第二接点群中,以反螺旋状方式或有规律的反向连续式回路设计将其分组使每二毗邻的接点形成短路,且对应于待测电子元件第一接点群的短路则为开路;再利用复数导电接点导通第一接点群及第二接点群,进而依该测试电路板的分组路线而将偶数个导电接点串联成监测回路;连续测试每一该监测回路的电阻变化及其发生的异常事件,以据此判读得知某一特定监测回路的导电接点失效,达到导电接点多点式且为连续即时性的可靠性监控测试的功效。
声明:
“阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记